一种微波模块检测平台和方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115575799A

    公开(公告)日:2023-01-06

    申请号:CN202211347694.7

    申请日:2022-10-31

    Abstract: 本发明涉及一种微波模块检测平台和方法,微波模块检测平台包括操作平台和测试平台,操作平台的一侧边缘上固定有射频连接机构,测试平台滑动连接在操作平台的上表面,测试平台能够在射频夹紧气缸的驱动下使微波模块插接在射频连接机构上或从射频连接机构上拔出;A插头、B插头和射频插头分别与转换插头通过导线连接,A插头气缸用于驱动A插头和射频插头同时运动并插入测试平台上的微波模块,B插头气缸用于驱动B插头和射频插头同时运动并插入测试平台上的微波模块;转换插头夹紧气缸连接并驱动转换插头从操作平台伸出与视频插头连接,视频插头转换气缸连接并驱动转换插头夹紧气缸及其上的转换插头与不同的视频插头相对应。

    微波组件相位误差测试方法、系统、介质和计算设备

    公开(公告)号:CN117250574A

    公开(公告)日:2023-12-19

    申请号:CN202311255742.4

    申请日:2023-09-27

    Abstract: 本发明公开了一种微波组件相位误差测试方法、系统、介质和计算设备,所述方法包括:当波控模块接收到上位机发送的测试指令时,从所述测试指令中读取测试状态信息;通过所述波控模块控制被测微波组件基于所述测试状态信息运行;通过矢量网络分析仪对运行中的所述被测微波组件进行扫描,得到所述被测微波组件的测试结果,并向所述上位机发送OPC指令;其中,所述OPC指令用于提示已获取所述被测微波组件的测试结果;当接收到所述上位机发送的结果获取指令时,向所述上位机发送所述测试结果;通过所述上位机对所述测试结果进行分析,得到相位误差分析结果。本发明能够减少相位误差测试过程中上位机的等待时长,提升相位误差测试效率。

    一种全自动老化测试系统
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117411567A

    公开(公告)日:2024-01-16

    申请号:CN202311341716.3

    申请日:2023-10-17

    Abstract: 本发明公开了一种全自动老化测试系统,包括测试架、中转台、三轴上料模组、三轴测试模组、接插件模组和冷却模组;所述中转台用于接收待测试的T/R组件并对T/R组件进行定位;所述三轴上料模组用于将T/R组件由所述中转台移动至所述测试架;所述测试架用于放置待测试的T/R组件;所述三轴测试模组用于对T/R组件进行老化测试;所述接插件模组用于对T/R组件进行接插;所述冷却模组用于对T/R组件进行水冷散热。本发明能够实现T/R组件的全自动老化测试。

    一种微波组件老化间管理系统
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116930658A

    公开(公告)日:2023-10-24

    申请号:CN202310913336.6

    申请日:2023-07-24

    Abstract: 本发明公开了一种微波组件老化间管理系统,包括物联网平台、数据采集主控系统、流量监控系统和老化温度监测系统,数据采集主控系统包括功率监测模块、组件控制模块和仪器控制模块,数据采集主控系统将采集到的功率数据、组件数据和仪器数据通过MQTT协议传送到物联网平台;流量监控系统用于对老化台的水流量进行监控和数据采集,并将采集到的流量数据通过MQTT协议传送到物联网平台;老化温度监测系统用于对老化过程中的微波组件温度进行监控和采集,并将采集到的温度数据通过MQTT协议传送到物联网平台。本发明能够实现微波组件老化间的关键数据的实时管控,实现微波组件及周围环境状态的实时监控。

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