公开(公告)号：CN117657659A

公开(公告)日：2024-03-08

申请号：CN202311864307.1

申请日：2023-12-29

Applicant: 北京无线电测量研究所

Inventor： 侯佳赞 ,  张奇勋 ,  肖多多 ,  王娅明 ,  秦基洲

IPC: B65G1/04

Abstract: 本发明公开了一种T/R组件上下料系统，包括主体框架、设备平台、可移动储料仓、组件传送机构和夹紧工作平台；主体框架用于整体结构的支撑；可移动储料仓设置在主体框架内部的一侧，可移动储料仓内部纵向等间距排列有多个托盘，用于装载T/R组件；设备平台设置在主体框架内部的另一侧，组件传送机构和夹紧工作平台设置在设备平台上，夹紧工作平台位于组件传送机构侧面；组件传送机构用于将T/R组件从可移动储料仓传送至夹紧工作平台，夹紧工作平台包括平台载板和顶升气缸，平台载板用于放置T/R组件，顶升气缸用于锁定放置在平台载板上的T/R组件。本发明能够实现T/R组件的自动上下料，提高T/R组件的上下料效率，降低操作人员的工作强度。

公开(公告)号：CN117250574A

公开(公告)日：2023-12-19

申请号：CN202311255742.4

申请日：2023-09-27

Applicant: 北京无线电测量研究所

Inventor： 冯吉祥 ,  王娅明 ,  秦基洲 ,  蔚超 ,  刘冬冬 ,  廖魁

IPC: G01R35/00 ,  G01R31/00

Abstract: 本发明公开了一种微波组件相位误差测试方法、系统、介质和计算设备，所述方法包括：当波控模块接收到上位机发送的测试指令时，从所述测试指令中读取测试状态信息；通过所述波控模块控制被测微波组件基于所述测试状态信息运行；通过矢量网络分析仪对运行中的所述被测微波组件进行扫描，得到所述被测微波组件的测试结果，并向所述上位机发送OPC指令；其中，所述OPC指令用于提示已获取所述被测微波组件的测试结果；当接收到所述上位机发送的结果获取指令时，向所述上位机发送所述测试结果；通过所述上位机对所述测试结果进行分析，得到相位误差分析结果。本发明能够减少相位误差测试过程中上位机的等待时长，提升相位误差测试效率。