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发明公开
微波组件相位误差测试方法、系统、介质和计算设备审中-实审

公开(公告)号：CN117250574A

公开(公告)日：2023-12-19

申请号：CN202311255742.4

申请日：2023-09-27

Applicant: 北京无线电测量研究所

Inventor： 冯吉祥 , 王娅明 , 秦基洲 , 蔚超 , 刘冬冬 , 廖魁

IPC: G01R35/00 , G01R31/00

Abstract: 本发明公开了一种微波组件相位误差测试方法、系统、介质和计算设备，所述方法包括：当波控模块接收到上位机发送的测试指令时，从所述测试指令中读取测试状态信息；通过所述波控模块控制被测微波组件基于所述测试状态信息运行；通过矢量网络分析仪对运行中的所述被测微波组件进行扫描，得到所述被测微波组件的测试结果，并向所述上位机发送OPC指令；其中，所述OPC指令用于提示已获取所述被测微波组件的测试结果；当接收到所述上位机发送的结果获取指令时，向所述上位机发送所述测试结果；通过所述上位机对所述测试结果进行分析，得到相位误差分析结果。本发明能够减少相位误差测试过程中上位机的等待时长，提升相位误差测试效率。

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