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公开(公告)号：CN117657659A
公开(公告)日：2024-03-08
申请号：CN202311864307.1
申请日：2023-12-29
申请人： 北京无线电测量研究所
IPC分类号： B65G1/04
摘要： 本发明公开了一种T/R组件上下料系统，包括主体框架、设备平台、可移动储料仓、组件传送机构和夹紧工作平台；主体框架用于整体结构的支撑；可移动储料仓设置在主体框架内部的一侧，可移动储料仓内部纵向等间距排列有多个托盘，用于装载T/R组件；设备平台设置在主体框架内部的另一侧，组件传送机构和夹紧工作平台设置在设备平台上，夹紧工作平台位于组件传送机构侧面；组件传送机构用于将T/R组件从可移动储料仓传送至夹紧工作平台，夹紧工作平台包括平台载板和顶升气缸，平台载板用于放置T/R组件，顶升气缸用于锁定放置在平台载板上的T/R组件。本发明能够实现T/R组件的自动上下料，提高T/R组件的上下料效率，降低操作人员的工作强度。
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公开(公告)号：CN112098754B
公开(公告)日：2024-02-23
申请号：CN202010954067.4
申请日：2020-09-11
申请人： 北京无线电测量研究所
摘要： 本发明公开了一种电子组件老化测试座及含有其的老化测试装置，属于电子产品测试技术领域。电子组件具有输入端和输出端，电子组件老化测试座包括：基座；安装座，滑动安装在基座上，安装座上设有安装腔体；测试输出对接座，连接在基座上，测试输出对接座上设有输出对接插头；伸缩机构一，一端连接在基座上，另一端与安装座连接；测试输入对接座，正对测试输出对接座安装在基座上且位于安装座的一侧，测试输入对接座上正对输入端设有测试输入对接插头，且测试输入对接插头与信号源电连接；伸缩机构二，一端连接在安装座上，另一端与测试输入对接座连接。本发明的电子组件老化测试座便于安装电子组件，且提高电子组件与老化测试仪器连接的效率。
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公开(公告)号：CN117411567A
公开(公告)日：2024-01-16
申请号：CN202311341716.3
申请日：2023-10-17
申请人： 北京无线电测量研究所
摘要： 本发明公开了一种全自动老化测试系统，包括测试架、中转台、三轴上料模组、三轴测试模组、接插件模组和冷却模组；所述中转台用于接收待测试的T/R组件并对T/R组件进行定位；所述三轴上料模组用于将T/R组件由所述中转台移动至所述测试架；所述测试架用于放置待测试的T/R组件；所述三轴测试模组用于对T/R组件进行老化测试；所述接插件模组用于对T/R组件进行接插；所述冷却模组用于对T/R组件进行水冷散热。本发明能够实现T/R组件的全自动老化测试。
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公开(公告)号：CN112098753B
公开(公告)日：2023-05-16
申请号：CN202010953086.5
申请日：2020-09-11
申请人： 北京无线电测量研究所
摘要： 本发明公开了一种电子组件老化测试系统、方法，属于电子产品测试技术领域。电子组件老化测试系统包括：电子组件老化测试架，电子组件老化测试架上设有多个老化测试工位；控制单元；机械手，与控制单元电连接，用于抓取电子组件；视觉识别系统，与控制单元电连接，用于对电子组件的位置进行识别获取电子组件的初始位置信息；电子组件预安装位置标记读取装置，与控制单元电连接，用于对电子组件上设有的预安装位置标记进行读取，获取电子组件的预安装位置信息；老化测试仪器，与控制单元电连接，在控制单元的控制下对电子组件进行老化测试。本发明的电子组件老化测试系统能够实现电子组件老化测试的自动化，提高老化测试的可靠性且实现无人职守。
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公开(公告)号：CN113642172A
公开(公告)日：2021-11-12
申请号：CN202110924745.7
申请日：2021-08-12
申请人： 北京无线电测量研究所
摘要： 本发明公开了一种用于微组装工艺的仿真操作系统及方法，涉及微组装工艺技术领域。该系统的虚拟漫游巡查系统用于以原始比例尺还原微组装工艺设备，生成虚拟仿真环境；实时监控系统用于对现实中的微组装工艺的操作过程进行监控，获取操作影像；虚拟漫游巡查系统还用于获取现实中的微组装工艺的操作过程中产生的操作数据；虚拟操作培训系统用于根据操作影像和操作数据，让使用者在虚拟仿真环境中进行微组装工艺的虚拟操作。本发明适用于微组装工艺的仿真模拟，在提升培训效率的同时还可以降低物料成本，能够提高操作的真实感和评价的可靠性，对于微组装这种操作要求较高的工艺，能够提高模拟仿真训练的效果。
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公开(公告)号：CN112098754A
公开(公告)日：2020-12-18
申请号：CN202010954067.4
申请日：2020-09-11
申请人： 北京无线电测量研究所
摘要： 本发明公开了一种电子组件老化测试座及含有其的老化测试装置，属于电子产品测试技术领域。电子组件具有输入端和输出端，电子组件老化测试座包括：基座；安装座，滑动安装在基座上，安装座上设有安装腔体；测试输出对接座，连接在基座上，测试输出对接座上设有输出对接插头；伸缩机构一，一端连接在基座上，另一端与安装座连接；测试输入对接座，正对测试输出对接座安装在基座上且位于安装座的一侧，测试输入对接座上正对输入端设有测试输入对接插头，且测试输入对接插头与信号源电连接；伸缩机构二，一端连接在安装座上，另一端与测试输入对接座连接。本发明的电子组件老化测试座便于安装电子组件，且提高电子组件与老化测试仪器连接的效率。
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公开(公告)号：CN112098753A
公开(公告)日：2020-12-18
申请号：CN202010953086.5
申请日：2020-09-11
申请人： 北京无线电测量研究所
摘要： 本发明公开了一种电子组件老化测试系统、方法，属于电子产品测试技术领域。电子组件老化测试系统包括：电子组件老化测试架，电子组件老化测试架上设有多个老化测试工位；控制单元；机械手，与控制单元电连接，用于抓取电子组件；视觉识别系统，与控制单元电连接，用于对电子组件的位置进行识别获取电子组件的初始位置信息；电子组件预安装位置标记读取装置，与控制单元电连接，用于对电子组件上设有的预安装位置标记进行读取，获取电子组件的预安装位置信息；老化测试仪器，与控制单元电连接，在控制单元的控制下对电子组件进行老化测试。本发明的电子组件老化测试系统能够实现电子组件老化测试的自动化，提高老化测试的可靠性且实现无人职守。
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公开(公告)号：CN115494822B
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202211077780.0
申请日：2022-09-05
申请人： 北京无线电测量研究所
IPC分类号： G05B23/02
摘要： 本发明公开了一种基于VR平台的设备数据分析方法和系统，大数据分析领域。该方法包括：采集多个设备的包括故障现象和故障原因的多个运行数据；对多个运行数据进行数据分类，并对每个运行数据设置阈值；根据分类及设置阈值后的多个运行数据构建故障经验库；通过VR平台采集待分析设备的实时运行数据，根据故障经验库对实时运行数据进行故障比对分析，获得故障判断结果；对故障判断结果、待分析设备的关键运行参数及故障判断结果对应的故障解决措施进行远程实时显示，通过本发明方案设备的运行状态可以实时监控，设备使用时的问题可以进行提前保养维护，对设备的历史数据得到有效利用，不需要人工现场凭借经验进行维修，工作效率高。
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公开(公告)号：CN115494822A
公开(公告)日：2022-12-20
申请号：CN202211077780.0
申请日：2022-09-05
申请人： 北京无线电测量研究所
IPC分类号： G05B23/02
摘要： 本发明公开了一种基于VR平台的设备数据分析方法和系统，大数据分析领域。该方法包括：采集多个设备的包括故障现象和故障原因的多个运行数据；对多个运行数据进行数据分类，并对每个运行数据设置阈值；根据分类及设置阈值后的多个运行数据构建故障经验库；通过VR平台采集待分析设备的实时运行数据，根据故障经验库对实时运行数据进行故障比对分析，获得故障判断结果；对故障判断结果、待分析设备的关键运行参数及故障判断结果对应的故障解决措施进行远程实时显示，通过本发明方案设备的运行状态可以实时监控，设备使用时的问题可以进行提前保养维护，对设备的历史数据得到有效利用，不需要人工现场凭借经验进行维修，工作效率高。
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