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公开(公告)号：CN112098754B
公开(公告)日：2024-02-23
申请号：CN202010954067.4
申请日：2020-09-11
Applicant: 北京无线电测量研究所
Abstract: 本发明公开了一种电子组件老化测试座及含有其的老化测试装置，属于电子产品测试技术领域。电子组件具有输入端和输出端，电子组件老化测试座包括：基座；安装座，滑动安装在基座上，安装座上设有安装腔体；测试输出对接座，连接在基座上，测试输出对接座上设有输出对接插头；伸缩机构一，一端连接在基座上，另一端与安装座连接；测试输入对接座，正对测试输出对接座安装在基座上且位于安装座的一侧，测试输入对接座上正对输入端设有测试输入对接插头，且测试输入对接插头与信号源电连接；伸缩机构二，一端连接在安装座上，另一端与测试输入对接座连接。本发明的电子组件老化测试座便于安装电子组件，且提高电子组件与老化测试仪器连接的效率。
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公开(公告)号：CN112098753B
公开(公告)日：2023-05-16
申请号：CN202010953086.5
申请日：2020-09-11
Applicant: 北京无线电测量研究所
Abstract: 本发明公开了一种电子组件老化测试系统、方法，属于电子产品测试技术领域。电子组件老化测试系统包括：电子组件老化测试架，电子组件老化测试架上设有多个老化测试工位；控制单元；机械手，与控制单元电连接，用于抓取电子组件；视觉识别系统，与控制单元电连接，用于对电子组件的位置进行识别获取电子组件的初始位置信息；电子组件预安装位置标记读取装置，与控制单元电连接，用于对电子组件上设有的预安装位置标记进行读取，获取电子组件的预安装位置信息；老化测试仪器，与控制单元电连接，在控制单元的控制下对电子组件进行老化测试。本发明的电子组件老化测试系统能够实现电子组件老化测试的自动化，提高老化测试的可靠性且实现无人职守。
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公开(公告)号：CN112098754A
公开(公告)日：2020-12-18
申请号：CN202010954067.4
申请日：2020-09-11
Applicant: 北京无线电测量研究所
Abstract: 本发明公开了一种电子组件老化测试座及含有其的老化测试装置，属于电子产品测试技术领域。电子组件具有输入端和输出端，电子组件老化测试座包括：基座；安装座，滑动安装在基座上，安装座上设有安装腔体；测试输出对接座，连接在基座上，测试输出对接座上设有输出对接插头；伸缩机构一，一端连接在基座上，另一端与安装座连接；测试输入对接座，正对测试输出对接座安装在基座上且位于安装座的一侧，测试输入对接座上正对输入端设有测试输入对接插头，且测试输入对接插头与信号源电连接；伸缩机构二，一端连接在安装座上，另一端与测试输入对接座连接。本发明的电子组件老化测试座便于安装电子组件，且提高电子组件与老化测试仪器连接的效率。
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公开(公告)号：CN112098753A
公开(公告)日：2020-12-18
申请号：CN202010953086.5
申请日：2020-09-11
Applicant: 北京无线电测量研究所
Abstract: 本发明公开了一种电子组件老化测试系统、方法，属于电子产品测试技术领域。电子组件老化测试系统包括：电子组件老化测试架，电子组件老化测试架上设有多个老化测试工位；控制单元；机械手，与控制单元电连接，用于抓取电子组件；视觉识别系统，与控制单元电连接，用于对电子组件的位置进行识别获取电子组件的初始位置信息；电子组件预安装位置标记读取装置，与控制单元电连接，用于对电子组件上设有的预安装位置标记进行读取，获取电子组件的预安装位置信息；老化测试仪器，与控制单元电连接，在控制单元的控制下对电子组件进行老化测试。本发明的电子组件老化测试系统能够实现电子组件老化测试的自动化，提高老化测试的可靠性且实现无人职守。
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