装备质量的检测分析方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117493935A

    公开(公告)日:2024-02-02

    申请号:CN202311515299.X

    申请日:2023-11-14

    Abstract: 本发明涉及一种装备质量的检测分析方法,属于装备检测技术领域,解决了现有技术中识别模型功能单一且识别不准确的问题。所述检测分析方法包括:采集待检测分析装备的各个特性指标数据,并对各个特性指标数据进行预处理,得到特性指标集合;将预处理后的特性指标集合输入至预先训练完成的质量缺陷类别识别模型,获取待检测分析装备的缺陷类别;根据缺陷类别从预先设置的原因解决方案数据库中查找该缺陷类别对应的多个原因解决方案;依次比较预处理后的特性指标集合和各个原因解决方案的标准特性指标集合,根据比较结果确定待检测分析装备最终的原因解决方案。实现了对待检测分析装备的精准识别和提供原因解决方案。

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