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公开(公告)号：CN112463642A
公开(公告)日：2021-03-09
申请号：CN202011487626.1
申请日：2020-12-16
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
Abstract: 本发明涉及一种基于故障模式的软件设计缺陷核查方法及系统，方法包括：根据软件系统中各配置项软件执行任务的具体方式，得到各配置项软件的功能模式；获取与软件系统相关软件的历史缺陷数据，经过数据处理后，建立故障数据集合；结合各配置项软件的功能模式和故障数据集合挖掘与功能模式对应的故障模式，形成故障模式集；根据故障模式集建立基于文本查询的缺陷核查模型；通过所述缺陷核查模型将需核查的软件功能与故障模式相匹配，核查软件系统中的设计缺陷。本发明通过构建缺陷核查模型，以核查出该系统各配置项的缺陷，达到优化测试资源分配和提高软件产品质量的目的。
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公开(公告)号：CN112214399A
公开(公告)日：2021-01-12
申请号：CN202010974385.7
申请日：2020-09-16
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
Abstract: 本发明属于软件缺陷检测领域，具体涉及一种基于序列模式匹配的API误用缺陷检测系统。本发明不分析API使用规约，而是根据已经发现的API误用缺陷实例，结合补丁文件中缺陷修复前后的代码信息，刻画API误用模式，然后在目标被测软件中利用改进的AC算法搜索符合误用模式的API调用序列，从而检测出相似缺陷。相比基于规约的检测方法，本发明方案有效规避了缺陷检测准确度依赖于规约描述准确性，以及部分API规约本身自带缺陷等问题。提高了API误用缺陷检测的准确度。
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公开(公告)号：CN111009890A
公开(公告)日：2020-04-14
申请号：CN201911242334.9
申请日：2019-12-06
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
IPC: H02H9/04
Abstract: 本发明属于强电磁脉冲防护技术领域，具体涉及一种用于以太网的多路网口电磁脉冲防护模块。所述防护模块包括：第一瞬态抑制电路、退耦电阻、第二瞬态抑制电路和屏蔽壳体；所述第一瞬态抑制电路和第二瞬态抑制电路采用串联连接方式，第一瞬态抑制电路输出端与退耦电阻的输入端串联连接，退耦电阻的输出端与第二瞬态抑制电路的输入端串联连接，第一瞬态抑制电路、退耦电阻、第二瞬态抑制电路固定在屏蔽壳体内。与现有技术相比较，本发明采用气体放电管和瞬态电压抑制器两级防护电路，能够更加可靠的滤除具有更短上升前沿的强电磁脉冲。采用标准的RJ45型以太网端口，提高了兼容性，安装使用更加方便。
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公开(公告)号：CN111008446A
公开(公告)日：2020-04-14
申请号：CN201911242385.1
申请日：2019-12-06
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
IPC: G06F30/18
Abstract: 本发明属于航天测控技术领域中测量船船位布设计算技术领域，具体涉及一种基于网格船位布设计算的速度优化系统。所述优化系统的工作过程包括：计算弹道海上测控弧段首尾向下海面布船区域，分别取交集，并进行网格粗分；将满足条件的粗网格按照精度要求进行网格细分，获得细网格；记录连续N天的满足约束的细网格，获得精细网格点；根据符合要求的精细网格点，计算部署区域所形成的外接凸多边形；则该多边形内区域为一艘测量船连续N天对多弹道进行测控要求的区域。该系统在保证船位部署计算的全面性和准确性前提下，很大程度减小了计算量，提高计算效率。
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公开(公告)号：CN109447968A
公开(公告)日：2019-03-08
申请号：CN201811265800.0
申请日：2018-10-29
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
IPC: G06T7/00
Abstract: 本发明属于图像区域生长算法测试技术领域，具体涉及一种图像区域生长算法的蜕变测试系统。图像区域生长是实时图像处理的重要功能之一。然而，由于操作不确定性的因素，实际测试中很难获取图像区域生长算法的测试判定。基于此，本发明将蜕变测试系统应用于图像区域生长算法的测试中，通过分析算法的几何属性、数值属性以及算法特性提取出一系列蜕变关系，基于这些蜕变关系形成图像区域生长算法的蜕变测试方法，可以有效地解决图像区域生长算法的测试判定难题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109061447A
公开(公告)日：2018-12-21
申请号：CN201811265809.1
申请日：2018-10-29
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/2851
Abstract: 本发明属于集成电路测试技术领域，具体涉及一种基于模块化激励模型的集成电路测试激励生成方法。本发明应用时间轴配置方法产生与测试用例对应的任务点，通过配置任务点，形成包含激励模型的激励文件，实现激励信号的生成。并使任务点对应测试用例，实现对测试用例的可视化管理和批量执行。不仅解决了现有方案中人工成本大，调试复杂的矛盾，而且配置方式简单，适用于ASIC、SOC、FPGA等集成电路的仿真测试。
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公开(公告)号：CN112214399B
公开(公告)日：2023-01-10
申请号：CN202010974385.7
申请日：2020-09-16
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
Abstract: 本发明属于软件缺陷检测领域，具体涉及一种基于序列模式匹配的API误用缺陷检测系统。本发明不分析API使用规约，而是根据已经发现的API误用缺陷实例，结合补丁文件中缺陷修复前后的代码信息，刻画API误用模式，然后在目标被测软件中利用改进的AC算法搜索符合误用模式的API调用序列，从而检测出相似缺陷。相比基于规约的检测方法，本发明方案有效规避了缺陷检测准确度依赖于规约描述准确性，以及部分API规约本身自带缺陷等问题。提高了API误用缺陷检测的准确度。
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公开(公告)号：CN112462739B
公开(公告)日：2021-06-29
申请号：CN202011301998.0
申请日：2020-11-19
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
IPC: G05B23/02
Abstract: 本发明涉及一种双通道耦合飞行控制程序的故障检测系统，包括：飞控测试用例模块用于建立包括增加风干扰因素的多个飞控测试用例；飞行控制模块用于分别运行纵向通道控制律和侧向通道控制律输出飞控执行结果，在飞行的机动区间内纵向飞行控制通道和侧向飞行控制通道的控制律相耦合；飞控测试用例插入模块用于选择飞控测试用例模块中的飞控测试用例插入飞行控制模块；控制结果比对模块用于比对飞行控制模块实际输出的飞控执行结果与期望的飞控执行结果，判断在执行飞控测试用例时是否出现故障。本发明基于系统工作原理和流程分析进行建模分析和测试场景设计，关注对异常处理的容错和避错设计，有利于检查系统和软件的可靠性和充分性。
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公开(公告)号：CN112462739A
公开(公告)日：2021-03-09
申请号：CN202011301998.0
申请日：2020-11-19
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
IPC: G05B23/02
Abstract: 本发明涉及一种双通道耦合飞行控制程序的故障检测系统，包括：飞控测试用例模块用于建立包括增加风干扰因素的多个飞控测试用例；飞行控制模块用于分别运行纵向通道控制律和侧向通道控制律输出飞控执行结果，在飞行的机动区间内纵向飞行控制通道和侧向飞行控制通道的控制律相耦合；飞控测试用例插入模块用于选择飞控测试用例模块中的飞控测试用例插入飞行控制模块；控制结果比对模块用于比对飞行控制模块实际输出的飞控执行结果与期望的飞控执行结果，判断在执行飞控测试用例时是否出现故障。本发明基于系统工作原理和流程分析进行建模分析和测试场景设计，关注对异常处理的容错和避错设计，有利于检查系统和软件的可靠性和充分性。
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公开(公告)号：CN112115053A
公开(公告)日：2020-12-22
申请号：CN202010972588.2
申请日：2020-09-16
Applicant: 北京京航计算通讯研究所
Abstract: 本发明属于软件缺陷检测领域，具体涉及一种基于序列模式匹配的API误用缺陷检测方法。本发明不分析API使用规约，而是根据已经发现的API误用缺陷实例，结合补丁文件中缺陷修复前后的代码信息，刻画API误用模式，然后在目标被测软件中利用改进的AC算法搜索符合误用模式的API调用序列，从而检测出相似缺陷。相比基于规约的检测方法，本发明方案有效规避了缺陷检测准确度依赖于规约描述准确性，以及部分API规约本身自带缺陷等问题。提高了API误用缺陷检测的准确度。
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