半导体激光二极管发光单元及器件

    公开(公告)号:CN102130423B

    公开(公告)日:2012-06-27

    申请号:CN201110033774.0

    申请日:2011-01-31

    Abstract: 本发明公开了一种半导体激光二极管发光单元及器件。该发光单元输出激光的功率大于0.2W,其结构自下往上包括:第一限制层、第一波导层、量子阱层、第二波导层和第二限制层,其中:第一限制层和第二限制层,用于形成PN结进行载流子输入;第一波导层和第二波导层的厚度均介于400~600nm之间,用于形成激光传输的通路;量子阱层,用于作为有源区产生激光。本发明通过增加发光单元中波导层的厚度,能够有效地提高半导体激光二极管的COD阈值。

    等离子去胶台可调式载片体

    公开(公告)号:CN100576092C

    公开(公告)日:2009-12-30

    申请号:CN200610165109.6

    申请日:2006-12-13

    Inventor: 王俊 白一鸣

    Abstract: 本发明一种等离子去胶台可调式载片体,用于等离子去胶台中承载并固定待清洗或去胶的外延片,其特征在于,包括:一承载体,该承载体为一矩形,该承载体的上面中间两侧分别有一螺孔;两探针架,该两探针架类似于套管天线的结构,其长度可以伸缩调节,该两探针架的一端分别用螺丝固定在承载体上面的螺孔上;两探针,该探针为细丝状,该两探针的一端分别固定在两探针架的另一端。

    半导体硅衬底上氧化铝介电薄膜硅离子注入腐蚀方法

    公开(公告)号:CN100446194C

    公开(公告)日:2008-12-24

    申请号:CN200510126243.0

    申请日:2005-11-30

    Abstract: 一种半导体硅衬底上氧化铝介电薄膜硅离子注入腐蚀方法,利用硅离子注入和HF化学腐蚀剂,对硅上氧化铝薄膜进行选择性腐蚀,形成陡峭、清晰、规则的氧化铝腐蚀图形,包括如下步骤:取一半导体硅单晶衬底;在半导体硅单晶衬底上外延生长氧化铝介电薄膜;在氧化铝介电薄膜上涂光刻胶;在光刻胶上刻蚀,形成带有一定间隔的凹槽的光刻胶刻蚀图形;采用硅离子注入工艺,对凹槽下的氧化铝介电薄膜进行选择性硅离子注入;采用HF化学腐蚀工艺,对进行了硅离子注入的氧化铝介电薄膜进行选择性腐蚀,形成带有线条的图形,完成半导体硅衬底上氧化铝介电薄膜硅离子注入腐蚀。

    减薄抛光用的精密磨抛头机械装置

    公开(公告)号:CN101269478A

    公开(公告)日:2008-09-24

    申请号:CN200710064694.5

    申请日:2007-03-23

    Abstract: 一种减薄抛光用的精密磨抛头机械装置,其特征在于,包括:一外套,该外套包括:一上层环体;一下层环体,该上层环体和下层环体之间由多个连接杆固定连接;一中层,该中层为圆形片体,该中层位于上层环体的下方、固定在多个连接杆的内侧,该中层中间的位置安装有一限位器;一内套,该内套包括:一上连接件,该上连接件为一圆盘型;一底座,该底座为一圆盘型,该底座的中心处开有一孔,该底座和上连接件之间由多个连接柱固定连接;该内套位于外套的内部,并与外套联动;一载物片,该载物片为一片体,该载物片位于内套中的底座的下方,并与内套中的底座联动。

    光纤激光器被动锁模用半导体可饱和吸收镜

    公开(公告)号:CN1979980A

    公开(公告)日:2007-06-13

    申请号:CN200510126328.9

    申请日:2005-12-07

    Abstract: 一种光纤激光器被动锁模用半导体可饱和吸收镜,其特征在于,包括:一衬底;一缓冲层,该缓冲层制作在衬底上;一布拉格反射镜,该布拉格反射镜制作在缓冲层上,形成一高反射率的反射镜;一多量子阱,采用低温生长技术将多对应变补偿的量子阱制作在布拉格反射镜上,该多量子阱包括多对应变补偿的单量子阱,每对应变补偿的单量子阱包括:下垒层、补偿层、吸收区和上垒层,该多量子阱起光吸收和光生载流子弛豫的作用。

    半导体硅衬底上氧化铝介电薄膜硅离子注入腐蚀方法

    公开(公告)号:CN1979773A

    公开(公告)日:2007-06-13

    申请号:CN200510126243.0

    申请日:2005-11-30

    Abstract: 一种半导体硅衬底上氧化铝介电薄膜硅离子注入腐蚀方法,利用硅离子注入和HF化学腐蚀剂,对硅上氧化铝薄膜进行选择性腐蚀,形成陡峭、清晰、规则的氧化铝腐蚀图形,包括如下步骤:取一半导体硅单晶衬底;在半导体硅单晶衬底上外延生长氧化铝介电薄膜;在氧化铝介电薄膜上涂光刻胶;在光刻胶上刻蚀,形成带有一定间隔的凹槽的光刻胶刻蚀图形;采用硅离子注入工艺,对凹槽下的氧化铝介电薄膜进行选择性硅离子注入;采用HF化学腐蚀工艺,对进行了硅离子注入的氧化铝介电薄膜进行选择性腐蚀,形成带有线条的图形,完成半导体硅衬底上氧化铝介电薄膜硅离子注入腐蚀。

    高注入效率大功率808nm量子阱半导体激光器结构

    公开(公告)号:CN1901301A

    公开(公告)日:2007-01-24

    申请号:CN200510012236.8

    申请日:2005-07-21

    Abstract: 一种高注入效率大功率808nm量子阱半导体激光器结构,包括:一衬底,该衬底用于在其上进行激光器各层材料外延生长;一缓冲层,该缓冲层制作在衬底上;一N型下限制层,该N型下限制层制作在缓冲层上;一下波导层,该下波导层制作在下限制层上;一量子阱层,该量子阱层制作在下波导层上;一上波导层,该上波导层制作在量子阱层上;一P型上限制层,该P型上限制层制作在上波导层上;一过渡层,该过渡层制作在P型上限制层上;一电极接触层,该电极接触层制作在过渡层上,形成大功率808nm量子阱半导体激光器。

Patent Agency Ranking