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公开(公告)号：CN110097906B
公开(公告)日：2023-06-30
申请号：CN201910001529.8
申请日：2019-01-02
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C11/4063 , H03K3/017
Abstract: 公开一种调节占空比的存储器装置和具有存储器装置的存储器系统。一种存储器装置包括：时钟接收器，被配置为：从存储器控制器接收用于在数据写入操作期间接收写入数据的写入时钟；占空比监视器，被配置为：通过监视写入时钟的占空比生成第一监视信息；占空比调节器，被配置为：响应于占空比控制信号，调节写入时钟的占空比并且输出调节的写入时钟。存储器装置将第一监视信息提供给存储器控制器，并且从存储器控制器接收使用第一监视信息生成的占空比控制信号。
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公开(公告)号：CN110534140B
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN201910339068.5
申请日：2019-04-25
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C7/10
Abstract: 公开了一种存储器装置、存储器系统和存储器装置的操作方法。一种存储器装置包括：驱动器，驱动与外部装置连接的数据线；内部ZQ管理器，产生内部ZQ开始信号；选择器，基于ZQ模式选择内部ZQ开始信号和来自外部装置的ZQ开始命令中的一个；ZQ校准引擎，通过响应于选择器的选择结果执行ZQ校准来产生ZQ码；以及ZQ码寄存器，响应于来自外部装置的ZQ锁存命令将ZQ码加载到驱动器上。
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公开(公告)号：CN112951287A
公开(公告)日：2021-06-11
申请号：CN202110219921.7
申请日：2018-05-28
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 本发明提供了一种控制包括多个存储器区块的多区块系统中的片内终结器的方法。所述方法包括：当所述多区块存储器系统上电时，使所述多个存储器区块的片内终结器电路进入初始状态；在写操作期间，启用所述多个存储器区块中的写目标存储器区块和非目标存储器区块的片内终结器电路；以及在读操作期间，在启用所述多个存储器区块中的非目标存储器区块的片内终结器电路的同时，禁用所述多个存储器区块中的读目标存储器区块的片内终结器电路。
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公开(公告)号：CN111352881B
公开(公告)日：2024-12-24
申请号：CN201911130434.2
申请日：2019-11-18
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06F13/40
Abstract: 提供了一种信号发送和接收设备、存储器件及操作它们的方法。所述信号发送和接收设备包括：第一片上端接电路，所述第一片上端接电路连接到通过其发送或接收第一信号的第一引脚，当所述第一片上端接电路被启用时，所述第一片上端接电路被配置为将第一端接电阻提供给与所述第一引脚连接的信号线；第二片上端接电路，所述第二片上端接电路连接到通过其发送或接收第二信号的第二引脚，当所述第二片上端接电路被启用时，所述第二片上端接电路被配置为将第二端接电阻提供给与所述第二引脚连接的信号线；以及片上端接控制电路，所述片上端接控制电路被配置为：独立地控制所述第一片上端接电路和所述第二片上端接电路中的每一个的启用时间和停用时间。
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公开(公告)号：CN108932960B
公开(公告)日：2021-06-01
申请号：CN201810522583.2
申请日：2018-05-28
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C11/4063 , G11C11/408 , G11C11/4094
Abstract: 本发明提供了一种控制包括多个存储器区块的多区块系统中的片内终结器的方法。所述方法包括：当所述多区块存储器系统上电时，使所述多个存储器区块的片内终结器电路进入初始状态；在写操作期间，启用所述多个存储器区块中的写目标存储器区块和非目标存储器区块的片内终结器电路；以及在读操作期间，在启用所述多个存储器区块中的非目标存储器区块的片内终结器电路的同时，禁用所述多个存储器区块中的读目标存储器区块的片内终结器电路。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110097906A
公开(公告)日：2019-08-06
申请号：CN201910001529.8
申请日：2019-01-02
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C11/4063 , H03K3/017
Abstract: 公开一种调节占空比的存储器装置和具有存储器装置的存储器系统。一种存储器装置包括：时钟接收器，被配置为：从存储器控制器接收用于在数据写入操作期间接收写入数据的写入时钟；占空比监视器，被配置为：通过监视写入时钟的占空比生成第一监视信息；占空比调节器，被配置为：响应于占空比控制信号，调节写入时钟的占空比并且输出调节的写入时钟。存储器装置将第一监视信息提供给存储器控制器，并且从存储器控制器接收使用第一监视信息生成的占空比控制信号。
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公开(公告)号：CN108932960A
公开(公告)日：2018-12-04
申请号：CN201810522583.2
申请日：2018-05-28
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C11/4063 , G11C11/408 , G11C11/4094
Abstract: 本发明提供了一种控制包括多个存储器区块的多区块系统中的片内终结器的方法。所述方法包括：当所述多区块存储器系统上电时，使所述多个存储器区块的片内终结器电路进入初始状态；在写操作期间，启用所述多个存储器区块中的写目标存储器区块和非目标存储器区块的片内终结器电路；以及在读操作期间，在启用所述多个存储器区块中的非目标存储器区块的片内终结器电路的同时，禁用所述多个存储器区块中的读目标存储器区块的片内终结器电路。
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公开(公告)号：CN105631398A
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：CN201510823759.4
申请日：2015-11-24
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G06K9/00302 , G06K9/00281 , G06K9/4628 , G06N3/0454 , G06N3/082 , G06N7/005 , G06K9/00221 , G06K9/00288 , G06K9/6229 , G06K9/6256
Abstract: 公开了识别对象的方法和设备以及训练识别器的方法和设备。识别方法包括：接收输入图像；使用被预训练为同时识别多个元素的单个识别器识别与输入图像相关联的多个元素。
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公开(公告)号：CN107766786B
公开(公告)日：2023-11-24
申请号：CN201710450423.7
申请日：2017-06-15
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 公开一种活性测试方法和活性测试计算设备。一种处理器实现的活性测试方法包括：从输入图像中的对象的部分提取所述对象的感兴趣区域；使用基于神经网络模型的活性测试模型对所述对象执行活性测试，其中，活性测试模型使用感兴趣区域的图像信息作为提供到活性测试模型的第一输入图像信息，并至少基于由活性测试模型从感兴趣区域的信息提取的纹理信息确定活性；指示活性测试的结果。
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公开(公告)号：CN109390011B
公开(公告)日：2022-08-09
申请号：CN201810866354.2
申请日：2018-08-01
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C11/4063
Abstract: 存储器模块包括外部电阻器和共同连接到外部电阻器的多个存储器器件。每个存储器器件包括第一接收焊盘和第一发送焊盘。第一接收焊盘与接收阻抗校准命令相关联，并且第一发送焊盘与发送阻抗校准命令相关联。每个存储器器件通过环形拓扑将阻抗校准命令传送到在多个存储器器件中被选为主器件的第一存储器器件。第一存储器器件执行阻抗校准操作，响应于阻抗校准命令确定输出驱动器的电阻和目标输出高电平电压，并且在执行阻抗校准操作之后将阻抗校准命令传送到第二存储器器件。
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