Invention Publication
- Patent Title: 晶圆接合结构及其形成方法
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Application No.: CN201910164096.8Application Date: 2019-03-05
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Publication No.: CN111668121APublication Date: 2020-09-15
- Inventor: 吴国铭 , 周正贤 , 蔡正原 , 李昇展 , 萧豪毅
- Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
- Applicant Address: 中国台湾新竹科学工业园区新竹市力行六路八号
- Assignee: 台湾积体电路制造股份有限公司
- Current Assignee: 台湾积体电路制造股份有限公司
- Current Assignee Address: 中国台湾新竹科学工业园区新竹市力行六路八号
- Agency: 北京派特恩知识产权代理有限公司
- Agent 康艳青; 姚开丽
- Main IPC: H01L21/60
- IPC: H01L21/60 ; H01L23/48

Abstract:
本发明实施例提供一种晶圆接合结构及其形成方法。晶圆接合结构的形成方法包括形成第一晶圆以及将第二晶圆接合到第一晶圆的接合介电层及接合垫。形成第一晶圆包括以下工艺。提供半导体结构,半导体结构的边缘具有第一塌边区域。形成附加介电层,以填补第一塌边区域。在半导体结构及附加介电层上形成具有开口的接合介电层。形成导电层于接合介电层上并填入开口中,其中在附加介电层上方的导电层具有凸起。进行移除工艺,以移除位于接合介电层上的导电层,余留在开口中的导电层形成接合垫,其中移除工艺包括平坦化工艺,且凸起被平坦化工艺移除。
Public/Granted literature
- CN111668121B 晶圆接合结构及其形成方法 Public/Granted day:2022-05-27
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IPC分类: