公开(公告)号：US09111860B2

公开(公告)日：2015-08-18

申请号：US14452192

申请日：2014-08-05

申请人： Advanced Technology Materials, Inc.

发明人： Edward E. Jones ,  Sharad N. Yedave ,  Ying Tang ,  Barry Lewis Chambers ,  Robert Kaim ,  Joseph D. Sweeney ,  Oleg Byl ,  Peng Zou

IPC分类号： H01L21/26 ,  H01L21/42 ,  H01L21/265 ,  H01J37/08 ,  H01J37/317 ,  C23C14/48 ,  C23C14/52

CPC分类号： H01L21/265 ,  C23C14/48 ,  C23C14/52 ,  H01J37/08 ,  H01J37/3171 ,  H01J37/32055 ,  H01J37/32412 ,  H01J37/32449 ,  H01J2237/006 ,  H01J2237/022

摘要： An ion implantation system and method, providing cooling of dopant gas in the dopant gas feed line, to combat heating and decomposition of the dopant gas by arc chamber heat generation, e.g., using boron source materials such as B2F4 or other alternatives to BF3. Various arc chamber thermal management arrangements are described, as well as modification of plasma properties, specific flow arrangements, cleaning processes, power management, eqillibrium shifting, optimization of extraction optics, detection of deposits in flow passages, and source life optimization, to achieve efficient operation of the ion implantation system.

摘要翻译： 一种离子注入系统和方法，用于提供掺杂剂气体进料管线中的掺杂气体的冷却，以通过例如使用诸如B2F4的硼源材料或BF3的其他替代物来通过电弧室发热来防止掺杂气体的加热和分解。 描述了各种电弧室热管理布置，以及等离子体性能，特定流量布置，清洁过程，功率管理，平衡偏移，提取光学优化，流路中沉积物的检测和源寿命优化等方面的改进，以实现高效率 离子注入系统的操作。

公开(公告)号：US20140342538A1

公开(公告)日：2014-11-20

申请号：US14452192

申请日：2014-08-05

申请人： Advanced Technology Materials, Inc.

发明人： Edward E. Jones ,  Sharad N. Yedave ,  Ying Tang ,  Barry Lewis Chambers ,  Robert Kaim ,  Joseph D. Sweeney ,  Oleg Byl ,  Peng Zou

IPC分类号： H01L21/265 ,  C23C14/52 ,  C23C14/48

CPC分类号： H01L21/265 ,  C23C14/48 ,  C23C14/52 ,  H01J37/08 ,  H01J37/3171 ,  H01J37/32055 ,  H01J37/32412 ,  H01J37/32449 ,  H01J2237/006 ,  H01J2237/022

摘要： An ion implantation system and method, providing cooling of dopant gas in the dopant gas feed line, to combat heating and decomposition of the dopant gas by arc chamber heat generation, e.g., using boron source materials such as B2F4 or other alternatives to BF3. Various arc chamber thermal management arrangements are described, as well as modification of plasma properties, specific flow arrangements, cleaning processes, power management, eqillibrium shifting, optimization of extraction optics, detection of deposits in flow passages, and source life optimization, to achieve efficient operation of the ion implantation system.

摘要翻译： 一种离子注入系统和方法，用于提供掺杂剂气体进料管线中的掺杂气体的冷却，以通过例如使用诸如B2F4的硼源材料或BF3的其他替代物来通过电弧室发热来防止掺杂气体的加热和分解。 描述了各种电弧室热管理布置，以及等离子体性能，特定流量布置，清洁过程，功率管理，平衡偏移，提取光学优化，流路中沉积物的检测和源寿命优化等方面的改进，以实现高效率 离子注入系统的操作。

公开(公告)号：US20140090598A1

公开(公告)日：2014-04-03

申请号：US14095575

申请日：2013-12-03

申请人： Advanced Technology Materials, Inc.

发明人： Robert Kaim ,  Joseph D. Sweeney ,  Oleg Byl ,  Sharad N. Yedave ,  Edward E. Jones ,  Peng Zou ,  Ying Tang ,  Barry Lewis Chambers ,  Richard S. Ray

IPC分类号： H01J37/317

CPC分类号： H01J37/3171 ,  C01B35/00 ,  C01B35/061 ,  C01P2006/88 ,  H01J2237/006 ,  H01J2237/08 ,  H01J2237/31701 ,  H01L21/265 ,  Y02P20/134

摘要： An isotopically-enriched, boron-containing compound comprising two or more boron atoms and at least one fluorine atom, wherein at least one of the boron atoms contains a desired isotope of boron in a concentration or ratio greater than a natural abundance concentration or ratio thereof. The compound may have a chemical formula of B2F4. Synthesis methods for such compounds, and ion implantation methods using such compounds, are described, as well as storage and dispensing vessels in which the isotopically-enriched, boron-containing compound is advantageously contained for subsequent dispensing use.

摘要翻译： 包含两个或更多个硼原子和至少一个氟原子的同位素富集的含硼化合物，其中至少一个硼原子含有所需的硼的同位素，其浓度或比例大于天然丰度浓度或比率 。 该化合物可以具有化学式B2F4。 对这些化合物的合成方法和使用这种化合物的离子注入方法进行了描述，以及储存和分配容器，其中有利地含有同位素富集的含硼化合物用于随后的分配用途。