公开(公告)号：US20080105663A1

公开(公告)日：2008-05-08

申请号：US11927764

申请日：2007-10-30

申请人： Alan Hunt ,  Ernest Hasselbrink ,  Edgar Meyhofer ,  Kevin Ke

发明人： Alan Hunt ,  Ernest Hasselbrink ,  Edgar Meyhofer ,  Kevin Ke

IPC分类号： B23K26/36 ,  B23K26/14

CPC分类号： B23K26/06 ,  B23K26/0624 ,  B23K26/0665 ,  B23K26/073 ,  B23K26/1224 ,  B23K26/142 ,  B23K26/146 ,  B23K26/36 ,  B23K26/361 ,  B23K26/382 ,  B23K26/384 ,  B23K26/40 ,  B23K26/55 ,  B23K2101/40 ,  B23K2103/30 ,  B23K2103/50 ,  B81C1/00492 ,  B81C2201/0143 ,  B82Y30/00 ,  B82Y40/00 ,  C03C23/0025 ,  Y10T428/24273 ,  Y10T428/24562 ,  Y10T428/24744

摘要： The invention provides a versatile technique for machining of nanometer-scale features using tightly-focused ultrashort laser pulses. By the invention, the size of features can be reduced far below the wavelength of light, thus enabling nanomachining of a wide range of materials. The features may be extremely small, of nanometer size, and are highly reproducible.

摘要翻译： 本发明提供了一种用于使用紧密聚焦的超短激光脉冲来加工纳米尺度特征的通用技术。 通过本发明，特征的尺寸可以降低到远低于光的波长，从而使得能够对宽范围的材料进行纳米加工。 特征可能非常小，纳米尺寸，并且具有高度可重复性。

公开(公告)号：USD415489S

公开(公告)日：1999-10-19

申请号：US98735

申请日：1999-01-05

申请人： Kevin Ke

设计人： Kevin Ke

公开(公告)号：US20070202495A1

公开(公告)日：2007-08-30

申请号：US11671171

申请日：2007-02-05

申请人： Michael Mayer ,  Jeffrey Uram ,  Kevin Ke ,  Alan Hunt

发明人： Michael Mayer ,  Jeffrey Uram ,  Kevin Ke ,  Alan Hunt

IPC分类号： C12Q1/70 ,  C12Q1/68 ,  G01N33/53 ,  G01N33/554 ,  G01N33/569

CPC分类号： G01N33/48721

摘要： Methods and compositions for detecting the assembly of complexes include providing a solution where a first portion is separated from a second portion via a submicrometer pore, submicrometer tube or channel, nanopore, or nanotube or channel. One or more submicrometer or nanometer sized object(s) is added to the first portion of the solution. Due to molecular interactions, these objects assemble to form complexes consisting of two or more submicrometer or nanometer sized objects. Passage of a complex from the first portion of the solution through the submicrometer pore, submicrometer tube or channel, nanopore, or nanotube or channel to the second portion of the solution is detected using resistive pulse sensing. This sensing methodology may comprise detecting formation of complexes in real-time and/or may comprise detecting preassembled complexes.

摘要翻译： 用于检测复合物组装的方法和组合物包括提供溶液，其中第一部分经由亚微米孔，亚微米管或通道，纳米孔或纳米管或通道从第二部分分离。 将一个或多个亚微米或纳米尺寸的物体加入溶液的第一部分。 由于分子相互作用，这些物体组装形成由两个或多个亚微米或纳米尺寸的物体组成的复合物。 使用电阻脉冲感测来检测复合物从溶液的第一部分通过亚微米孔，亚微米管或通道，纳米孔或纳米管或通道到解决方案的第二部分。 该感测方法可以包括实时检测复合物的形成和/或可以包括检测预组装的复合物。

公开(公告)号：US20050064137A1

公开(公告)日：2005-03-24

申请号：US10988333

申请日：2004-11-11

申请人： Alan Hunt ,  Ernest Hasselbrink ,  Edgar Meyhofer ,  Kevin Ke

发明人： Alan Hunt ,  Ernest Hasselbrink ,  Edgar Meyhofer ,  Kevin Ke

IPC分类号： B23K26/06 ,  B23K26/073 ,  B23K26/36 ,  B23K26/38 ,  B32B3/10

CPC分类号： B23K26/06 ,  B23K26/0624 ,  B23K26/0665 ,  B23K26/073 ,  B23K26/1224 ,  B23K26/142 ,  B23K26/146 ,  B23K26/36 ,  B23K26/361 ,  B23K26/382 ,  B23K26/384 ,  B23K26/40 ,  B23K26/55 ,  B23K2101/40 ,  B23K2103/30 ,  B23K2103/50 ,  B81C1/00492 ,  B81C2201/0143 ,  B82Y30/00 ,  B82Y40/00 ,  C03C23/0025 ,  Y10T428/24273 ,  Y10T428/24562 ,  Y10T428/24744

摘要： The invention provides a versatile technique for machining of nanometer-scale features using tightly-focused ultrashort laser pulses. By the invention, the size of features can be reduced far below the wavelength of light, thus enabling nanomachining of a wide range of materials. The features may be extremely small, of nanometer size, and are highly reproducible.

摘要翻译： 本发明提供了一种用于使用紧密聚焦的超短激光脉冲来加工纳米尺度特征的通用技术。 通过本发明，特征的尺寸可以降低到远低于光的波长，从而使得能够对宽范围的材料进行纳米加工。 特征可能非常小，纳米尺寸，并且具有高度可重复性。