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公开(公告)号:CN104160248B
公开(公告)日:2017-08-08
申请号:CN201380012921.3
申请日:2013-03-06
申请人: 瑞尼斯豪公司 , RLS梅里那技术公司
CPC分类号: G01D5/12 , G01D5/24409 , G01D5/2458
摘要: 描述了一种磁性编码器设备(2),该磁性编码器设备(2)包括多个磁性传感器元件(例如霍尔传感器),所述多个磁性传感器元件用于读取产生周期性重复的磁性图案的相关的磁性标尺(4;10)。所述多个磁性传感器元件产生多个传感器信号,并且设置分析仪(7),所述分析仪用来对所述多个传感器信号进行分析,以提供所述磁性传感器元件相对于所述相关的磁性标尺(4;10)的位置的测量。所述分析仪(7)被布置成使用所述多个传感器信号来评估由所述多个磁性传感器元件感测的所述周期性重复的磁性图案的周期(60)。这样,避免了将所述传感器元件的周期与所述相关的磁性标尺(4;10)的所述周期性重复的磁性图案仔细匹配的要求。
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公开(公告)号:CN104160248A
公开(公告)日:2014-11-19
申请号:CN201380012921.3
申请日:2013-03-06
申请人: 瑞尼斯豪公司 , RLS梅里那技术公司
CPC分类号: G01D5/12 , G01D5/24409 , G01D5/2458
摘要: 本发明描述了一种磁性编码器设备(2),该磁性编码器设备(2)包括多个磁性传感器元件(例如霍尔传感器),所述多个磁性传感器元件用于读取产生周期性重复的磁性图案的相关的磁性标尺(4;10)。所述多个磁性传感器元件产生多个传感器信号,并且设置分析仪(7),所述分析仪用来对所述多个传感器信号进行分析,以提供所述磁性传感器元件相对于所述相关的磁性标尺(4;10)的位置的测量。所述分析仪(7)被布置成使用所述多个传感器信号来评估由所述多个磁性传感器元件感测的所述周期性重复的磁性图案的周期(60)。这样,避免了将所述传感器元件的周期与所述相关的磁性标尺(4;10)的所述周期性重复的磁性图案仔细匹配的要求。
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公开(公告)号:CN101266154B
公开(公告)日:2012-01-04
申请号:CN200810085717.5
申请日:2008-03-13
申请人: 大隈株式会社
发明人: 林康一
IPC分类号: G01D5/244
CPC分类号: G01D5/24409 , G01D5/24452 , G01D5/2448 , G01D5/2449 , G01D5/2451
摘要: 本发明涉及一种用于检测目标位移的位置检测器。设置有两个位置传感器,用于输出两种信号,所述信号关于目标位移以波长λ的间距进行正弦变化,并且具有相互以90度转换的相位。存储器单元在其中存储了用于两种信号的偏移值,两个减法器分别从所述两种信号中消除偏移值。消除偏移之后的所述两种信号在内插计算器中被转换为位置数据。半径计算器计算两种信号在偏移消除之后的半径值。FFT基于位置数据和半径值计算偏移值,并且所述计算出的偏移值被用于更新存储在存储器单元中的值。类似地,更新用于两种信号的振幅比校正值和相位差校正值。通过在每个旋转位置执行消除降低内插精度的分量,提高了内插精度。
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公开(公告)号:CN101535774A
公开(公告)日:2009-09-16
申请号:CN200780040591.3
申请日:2007-10-25
申请人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
发明人: G·Z·安格利斯 , P·霍克斯特拉 , G·A·J·德福克特
CPC分类号: G01D5/2452 , G01D5/24409 , Y10T29/49863
摘要: 一种定位装置(11),包括固定框架(2)和至少两个标尺(20,30)。该至少两个标尺(20,30)用于测量平台相对于框架的位置并具有相互不同节距(P1;P2)。定位装置(11)还包括提供相应的扫描仪输出信号(SM1,SM2)的相应扫描仪(23,33)。接收两个扫描仪输出信号的控制器(6)能够在大于所述两个节距(P1;P2)中最大值的测量范围(MR)中唯一地计算平台相对于框架的位置(X)。
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公开(公告)号:CN101266154A
公开(公告)日:2008-09-17
申请号:CN200810085717.5
申请日:2008-03-13
申请人: 大隈株式会社
发明人: 林康一
IPC分类号: G01D5/244
CPC分类号: G01D5/24409 , G01D5/24452 , G01D5/2448 , G01D5/2449 , G01D5/2451
摘要: 本发明涉及一种用于检测目标位移的位置检测器。设置有两个位置传感器,用于输出两种信号,所述信号关于目标位移以波长λ的间距进行正弦变化,并且具有相互以90度转换的相位。存储器单元在其中存储了用于两种信号的偏移值,两个减法器分别从所述两种信号中消除偏移值。消除偏移之后的所述两种信号在内插计算器中被转换为位置数据。半径计算器计算两种信号在偏移消除之后的半径值。FFT基于位置数据和半径值计算偏移值,并且所述计算出的偏移值被用于更新存储在存储器单元中的值。类似地,更新用于两种信号的振幅比校正值和相位差校正值。通过在每个旋转位置执行消除降低内插精度的分量,提高了内插精度。
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公开(公告)号:CN1399121A
公开(公告)日:2003-02-26
申请号:CN02126570.4
申请日:2002-07-24
申请人: 坎培诺洛有限公司
发明人: 詹弗兰科·古代尔佐
IPC分类号: G01D21/02
CPC分类号: G01D5/145 , G01D5/24409
摘要: 传感器包括可以围绕一个给定轴线(X30)进行相对运动的一个固定或者定子部分(2)以及一个可动或者转子部分(3),在转子部分(3)的轴(30)上固定有一个磁化元件(36),该磁化元件例如由一个在直径方向上的单对电极上磁化的环状件构成。安装在固定部分上的是一对沿旋转轴线(X30)有角度地相互交错90度布置的霍耳效应传感器(41、42)。霍耳效应传感器产生相应的模拟形式的输出信号,即信号值在连续范围内变化。由传感器产生的输出信号值惟一地确定上述固定部分(2)和可动部分(3)相对于旋转轴线的相对位置。
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公开(公告)号:CN1135038A
公开(公告)日:1996-11-06
申请号:CN95118724.4
申请日:1995-10-31
申请人: 三菱电机株式会社
发明人: 堤下洋治
IPC分类号: G01D5/34
CPC分类号: G01D5/2451 , G01D5/24409 , H02P23/16
摘要: 在一种编码单元中,通过A/D转换和运算处理,内插诸如正弦波和三角波等模拟信号,以获得较高的分辨率或绝对值,本发明消除了由于A/D转换和运算处理时间引起的数据的延时,防止了控制性能的下降。设置有保持检测到的角度数据的存储单元和补偿延时时间的输出补偿单元,输出补偿单元根据从当前和前面的取样周期获得的角度数据预测在延时期间发生的位置变化,并通过把预测到的位置变化加到当前取样数据上来补偿延时。因此可以防止控制性能的下降,使用廉价的低速A/D转换器和运算处理器,降低所需的成本。
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公开(公告)号:CN102564463B
公开(公告)日:2015-07-15
申请号:CN201110345166.3
申请日:2011-11-04
申请人: 株式会社安川电机
CPC分类号: G01D5/24471 , G01D5/24409 , G01D5/2451 , H02P23/16
摘要: 提供能够测定更准确的位置数据的编码器、伺服单元以及位置数据计算方法。编码器(100)具备:检测部(110),其检测表示检测对象的位置的检测信号(D);第1位置数据计算部(120),其根据检测信号,在离散的采样定时(t)计算表示检测对象的位置的第1位宽的第1位置数据(A);第1数据转换部(130),其将第1位置数据转换为比第1位宽长的第2位宽的第2位置数据(B);近似部(140),其根据连续的两个以上的采样定时的第2位置数据(B),计算近似函数(FB),该近似函数用于在输入了定时数据时导出位置数据;以及第3位置数据计算部(150),其根据近似函数,计算表示输出定时处的检测对象的位置的第3位置数据(C)。
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公开(公告)号:CN102313567A
公开(公告)日:2012-01-11
申请号:CN201110194037.9
申请日:2011-07-07
IPC分类号: G01D5/34
CPC分类号: G01D5/347 , G01D5/24409
摘要: 本发明涉及高分辨率、高速、小型化光学编码器,公开了单一码道反射型光学编码器的各种实施方式,其在其信号生成电路中布置有电流放大器。在本文中公开的各种实施方式中消除了电压放大器和其相关的反馈电阻器,使得管芯尺寸减小并提高了编码器信号精确性和性能,尤其是在高速下。本发明公开的单一码道光学编码器构造允许提供小封装的非常高分辨率的反射型光学编码器。还公开了制造和使用这样的光学编码器的方法。
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公开(公告)号:CN101315289B
公开(公告)日:2010-12-01
申请号:CN200810097755.2
申请日:2008-05-27
申请人: 株式会社拓普康
IPC分类号: G01D5/36
CPC分类号: G01D5/3473 , G01D5/24409
摘要: 本发明提供一种既可以缩短角度运算时间又能测定精确的绝对角度位置的绝对角度运算装置,其具有根据光电变换信号串所包含的空间调制成分计算绝对角度位置的运算电路(11)。运算电路(11)具有为了插补绝对角度位置而保存比运算所需要的绝对角度运算时间还短的设定时间期间所得到的前次光电变换信号串和此次光电变换信号串的光电变换信号串保存部(14)、检测光电变换信号串保存部(14)所保存的前次光电变换信号串和此次光电变换信号串的相关并测出其偏移量的相关检测电路(15A)以及根据此次获得的偏移量内插图案间的绝对角度位置相当值的内插运算电路(15B)。此运算电路(11)根据偏移量和绝对角度位置相当值算出内插角度,并将前次得出的绝对角度位置加上此次得出的内插角度而求出当前的绝对角度位置。
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