镀锡铜合金端子材
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104752865A

    公开(公告)日:2015-07-01

    申请号:CN201410805902.2

    申请日:2014-12-22

    Abstract: 本发明提供一种镀锡铜合金端子材,对使用通用的镀锡端子材的端子也能够降低嵌合时的插入力。在本发明的由铜或铜合金构成的基材上的表面形成有锡系表面层,在该锡系表面层与基材之间,从锡系表面层开始依次形成有铜锡合金层/镍锡合金层/镍或镍合金层,其中,铜锡合金层为以Cu6Sn5为主成分且该Cu6Sn5的铜的一部分被镍取代的化合物合金层,镍锡合金层为以Ni3Sn4为主成分且该Ni3Sn4的镍的一部分被铜取代的化合物合金层,铜锡合金层的局部顶峰的平均间隔S为0.8μm以上2.0μm以下,且锡系表面层的平均厚度为0.2μm以上0.6μm以下,在锡系表面层的最表面形成有0.005μm以上0.05μm以下的膜厚的镍系包覆层或钴系包覆层,表面的动摩擦系数为0.3以下。

    电子部件及其制造方法
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104093888A

    公开(公告)日:2014-10-08

    申请号:CN201380006391.1

    申请日:2013-01-11

    Abstract: 本发明提供一种在晶须长度方面飞跃性地提高了晶须抑制能力的电子部件及其制造方法。所述电子部件的特征在于,其是具有形成有外部电极的电子部件元件、形成于所述外部电极上的Ni镀敷被膜和以覆盖所述Ni镀敷被膜的方式形成的Sn镀敷被膜的电子部件,在所述Sn镀敷被膜中形成有薄片状的Sn-Ni合金粒子,所述薄片状的Sn-Ni合金粒子存在于从所述Ni镀敷被膜侧的所述Sn镀敷被膜的面起的、所述Sn镀敷被膜厚度的50%以下的范围内,并且从所述Sn镀敷被膜除去Sn而仅残留所述薄片状的Sn-Ni合金粒子、并俯视观察除去Sn而显现的具有所述薄片状的Sn-Ni合金粒子的面时,所述薄片状的Sn-Ni合金粒子所占的区域在被观察的面区域的15%~60%的范围内。

    电子部件及其制造方法
    9.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104093888B

    公开(公告)日:2016-08-24

    申请号:CN201380006391.1

    申请日:2013-01-11

    Abstract: 本发明提供一种在晶须长度方面飞跃性地提高了晶须抑制能力的电子部件及其制造方法。所述电子部件的特征在于,其是具有形成有外部电极的电子部件元件、形成于所述外部电极上的Ni镀敷被膜和以覆盖所述Ni镀敷被膜的方式形成的Sn镀敷被膜的电子部件,在所述Sn镀敷被膜中形成有薄片状的Sn-Ni合金粒子,所述薄片状的Sn-Ni合金粒子存在于从所述Ni镀敷被膜侧的所述Sn镀敷被膜的面起的、所述Sn镀敷被膜厚度的50%以下的范围内,并且从所述Sn镀敷被膜除去Sn而仅残留所述薄片状的Sn-Ni合金粒子、并俯视观察除去Sn而显现的具有所述薄片状的Sn-Ni合金粒子的面时,所述薄片状的Sn-Ni合金粒子所占的区域在被观察的面区域的15%~60%的范围内。

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