X光照相设备
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1573321B

    公开(公告)日:2010-04-14

    申请号:CN200410049380.4

    申请日:2004-06-10

    CPC classification number: A61B6/583 A61B6/4092 A61B6/466

    Abstract: 获取和存储定标仿真器的投影图像。从在定标仿真器内的标志器上的投影图像和三维安置信息获取在X射线管和区域检测器上的三维位置信息。获取所有投影图像的三维位置信息,并存储在三维位置信息存储单元中。由X射线照像定标仿真器时同样的途径和同样的顺序获取检查的对象的投影图像。读出投影图像的X射线照像数据。基于在X射线管和相对于定标仿真器的区域检测器上的三维位置信息,执行对象的重建计算,建立断层图像或对象的选择位置的三维体数据。

    微分相位对比成像
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103189739A

    公开(公告)日:2013-07-03

    申请号:CN201180050117.5

    申请日:2011-10-12

    Inventor: E·勒斯尔

    Abstract: 本发明涉及微分相位对比成像,尤其涉及一种用于X射线微分相位对比成像的衍射光栅、例如分析器光栅和相位光栅的结构。为了更好地利用通过对象的X射线辐射,提供一种用于X射线微分相位对比成像的衍射光栅(14),其具有第一子区域(26)的至少一个部分(24)和第二子区域(30)的至少一个部分(28)。所述第一子区域包括具有多个以第一光栅间距PG(38)周期性布置的条(34)和间隙(36)的光栅结构(54),其中,所述条被布置成使得它们改变X射线辐射的相位和/或幅度,并且其中,所述间隙是能透过X射线的。所述第二子区域是能透过X射线的,并且其中,所述第二子区域的至少一个部分在光栅中提供能透过X射线的孔径(40)。沿至少一个方向(42)以交替方式布置第一子区域和第二子区域的各部分。

    微分相位对比成像系统的校准

    公开(公告)号:CN102651994A

    公开(公告)日:2012-08-29

    申请号:CN201080055691.5

    申请日:2010-12-08

    Abstract: 本发明涉及X射线成像系统和用于对对象进行微分相位对比成像的方法。为了改进微分相位对比成像系统的校准和光栅的对准,提供一种X射线成像系统,包括提供至少部分相干的X射线辐射的X射线发射装置和包括全部沿着光轴设置的相位偏移衍射光栅、相位分析器光栅和X射线图像检测器的X射线检测装置。为了步进,光栅和/或X射线发射装置提供有相对于光轴彼此相对设置的至少两个致动器。为了校准,在无对象的情况下获取校准投射,其中所发射的X射线辐射或一个光栅以校准移位值逐步移位。为了检查,在有对象的情况下获得测量投射,其中所发射的X射线辐射或一个光栅以测量逐步移位,通过将测量投射与校准投射配准,将校准投射关联到每个测量投射。

    放射线图像取得方法和放射线摄影装置

    公开(公告)号:CN102525516A

    公开(公告)日:2012-07-04

    申请号:CN201110444216.3

    申请日:2011-12-27

    Abstract: 放射线图像取得方法和放射线摄影装置。在放射线摄影装置中,第一和第二格栅或者放射线图像检测器被构成为相对于放射线摄影装置装卸自如。该放射线摄影装置包括检测放射线图像检测器的安装和拆卸的摄影盒装卸检测单元或检测第一格栅和第二格栅的安装和拆卸的格栅装卸检测单元。该放射线摄影装置还包括预照射控制单元,该预照射控制单元控制放射线源,使得当检测到放射线图像检测器或者第一和第二格栅的安装或拆卸时,执行用于检测第一、第二格栅与放射线图像检测器之间的相对位置偏差的预照射。

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