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公开(公告)号:CN104680641A
公开(公告)日:2015-06-03
申请号:CN201410602571.2
申请日:2014-10-31
Applicant: TDK株式会社
IPC: G07D7/04
Abstract: 本发明提供一种磁传感器,与现有技术比较,能够抑制识别对象扭曲导致的输出变动。磁传感器具备:中空磁铁(1)、基板(2)、磁检测元件(3)。中空磁铁(1)为具有贯通孔(1a)的圆筒磁铁。中空磁铁(1)的z方向+侧的端面在整个面上为N极,z方向-侧的端面在整个面上为S极。基板(2)固定于中空磁铁(1)的N极侧端面上。磁检测元件(3)搭载于基板(2)上。磁检测元件(3)以能够检测x方向的磁场成分的变动的方式设置。磁检测元件(3)的感磁点(3a)位于中空磁铁(1)的中心轴上。作为识别对象的纸币(4)在x方向输送,以横穿磁检测元件(3)的z方向+侧的方式通过。纸币(4)的通过区域包括从中空磁铁(1)及磁检测元件(3)越向z方向+侧离开,磁通密度越大的特定区域。
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公开(公告)号:CN102109359A
公开(公告)日:2011-06-29
申请号:CN201010576962.3
申请日:2010-12-02
Applicant: TDK株式会社
CPC classification number: G01D5/2454
Abstract: 本发明涉及一种磁式位置检测装置,其中,与邻接的磁极面接触的场合相比较,检测精度良好。磁性部件(1a~1d)的磁极面与SV-GMR1~SV-GMR4相对,呈直线状排列。在邻接的磁性部件中,与SV-GMR1~SV-GMR4相对的一侧的磁极面为相反极性。磁性部件(1a~1d)按照等间距(P)排列,邻接的磁性部件相互不接触而间隔配置。磁性部件(1a~1d)的相应长度(X)相对磁性部件(1a~1d)的排列间距(P)的比例比如在40%~60%的范围内。
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公开(公告)号:CN107577025B
公开(公告)日:2020-06-09
申请号:CN201710537005.1
申请日:2017-07-04
Applicant: TDK株式会社
Abstract: 本发明提供一种抑制致动器发生倾斜的情况的透镜驱动装置。在透镜驱动装置中,在透镜框体由于来自透镜驱动装置外部的冲击等而相对于基座部件在与致动器的伸缩方向相交叉的方向上变位的情况下,致动器的驱动轴会抵接于第一侧壁部、柱部,由此,抑制致动器相对于基座部件倾斜的情况。
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公开(公告)号:CN103185828A
公开(公告)日:2013-07-03
申请号:CN201210587622.X
申请日:2012-12-28
Applicant: TDK株式会社
IPC: G01R19/00
CPC classification number: G01R15/14 , G01R15/207
Abstract: 本发明提供一种减少磁屏蔽用的磁性体的磁滞所引起的母线非通电时(0安培时)的测量误差的发生并谋求测量精度的提高的电流传感器。该电流传感器具备彼此相对的磁屏蔽用的第1和第2磁性体(30A,30B)、以及配置在磁性体(30A,30B)间的母线(10)和霍尔IC(20),当电流流到母线(10)时,相对的磁性体(30A,30B)以彼此相反的方向磁化,在由通过磁性体(30A)被磁化而产生的磁场以及通过磁性体(30B)被磁化而产生的磁场而使施加于霍尔IC(20)的磁场变弱的位置,配置霍尔IC(20)。
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公开(公告)号:CN111486776A
公开(公告)日:2020-08-04
申请号:CN202010064054.X
申请日:2020-01-20
Applicant: TDK株式会社
Abstract: 本发明的一种位置检测装置具备磁单元和传感器。磁单元具有磁部件和保持部件。磁部件包括磁体和第一磁轭。磁体在轴向上延伸,与轴向正交的截面的面积在轴向上实质上一定,并且在与轴向正交的径向上具有第一最大外径。第一磁轭在轴向上与磁体邻接配置,并且在径向上具有大于第一最大外径的第二最大外径。保持部件在轴向上延伸且保持磁部件。传感器检出伴随磁单元沿着轴向的移动而变化的磁场。
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公开(公告)号:CN107577025A
公开(公告)日:2018-01-12
申请号:CN201710537005.1
申请日:2017-07-04
Applicant: TDK株式会社
Abstract: 本发明提供一种抑制致动器发生倾斜的情况的透镜驱动装置。在透镜驱动装置中,在透镜框体由于来自透镜驱动装置外部的冲击等而相对于基座部件在与致动器的伸缩方向相交叉的方向上变位的情况下,致动器的驱动轴会抵接于第一侧壁部、柱部,由此,抑制致动器相对于基座部件倾斜的情况。
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公开(公告)号:CN102109359B
公开(公告)日:2015-05-27
申请号:CN201010576962.3
申请日:2010-12-02
Applicant: TDK株式会社
CPC classification number: G01D5/2454
Abstract: 本发明涉及一种磁式位置检测装置,其中,与邻接的磁极面接触的场合相比较,检测精度良好。磁性部件(1a~1d)的磁极面与SV-GMR1~SV-GMR4相对,呈直线状排列。在邻接的磁性部件中,与SV-GMR1~SV-GMR4相对的一侧的磁极面为相反极性。磁性部件(1a~1d)按照等间距(P)排列,邻接的磁性部件相互不接触而间隔配置。磁性部件(1a~1d)的相应长度(X)相对磁性部件(1a~1d)的排列间距(P)的比例比如在40%~60%的范围内。
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公开(公告)号:CN113884108A
公开(公告)日:2022-01-04
申请号:CN202110365931.1
申请日:2021-04-06
Abstract: 本发明的角度检测装置具备磁检出元件、磁场产生构件和磁轭。磁场产生构件设置为可以对磁检出元件以旋转轴为中心旋转,并且形成磁场。磁轭在沿着旋转轴的旋转轴方向上配置在磁场影响区域,并且设置为可以与磁场产生构件一体旋转,磁场影响区域处于磁场产生构件与磁检出元件之间且受磁场的影响。
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