公开(公告)号：CN101644561A

公开(公告)日：2010-02-10

申请号：CN200910165568.8

申请日：2009-07-30

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 海田佳生 ,  宫本宽和 ,  木户利尚 ,  福田纯也

IPC: G01B7/30 ,  G01D5/12

CPC classification number: G01B7/30

Abstract: 本发明提出一种对检测角度没有限制的角度检测装置及角度检测方法。角度检测装置(10)具有固定在旋转轴(60)上的旋转体(20)、相对于旋转体(20)的旋转中心(P)以(π/2)的角度差配置在旋转体(20)的外周附近的一对磁传感器(30A、30B)、对从磁传感器(30A、30B)输出的检测信号进行差动运算并输出差动信号的差动运算电路(41)、和基于差动信号计算旋转轴(60)的旋转角度的角度计算电路(50)。旋转体(20)的平面形状为：以交角(π/2)在旋转中心(P)相交的两直线与旋转体(20)的外周相交的两点(Q1，Q2)分别和旋转中心(P)之间的各自距离(L1，L2)之和(L1+L2)一定，而且，关于通过旋转中心(P)的直线(94)对称。

公开(公告)号：CN101644561B

公开(公告)日：2011-08-31

申请号：CN200910165568.8

申请日：2009-07-30

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 海田佳生 ,  宫本宽和 ,  木户利尚 ,  福田纯也

IPC: G01B7/30 ,  G01D5/12

CPC classification number: G01B7/30

Abstract: 本发明提出一种对检测角度没有限制的角度检测装置及角度检测方法。角度检测装置(10)具有固定在旋转轴(60)上的旋转体(20)、相对于旋转体(20)的旋转中心(P)以(π/2)的角度差配置在旋转体(20)的外周附近的一对磁传感器(30A、30B)、对从磁传感器(30A、30B)输出的检测信号进行差动运算并输出差动信号的差动运算电路(41)、和基于差动信号计算旋转轴(60)的旋转角度的角度计算电路(50)。旋转体(20)的平面形状为：以交角(π/2)在旋转中心(P)相交的两直线与旋转体(20)的外周相交的两点(Q1，Q2)分别和旋转中心(P)之间的各自距离(L1，L2)之和(L1+L2)一定，而且，关于通过旋转中心(P)的直线(94)对称。

公开(公告)号：CN104680641A

公开(公告)日：2015-06-03

申请号：CN201410602571.2

申请日：2014-10-31

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 青木亮祐 ,  福冈诚二 ,  木户利尚

IPC: G07D7/04

CPC classification number: G07D7/04 ,  G01N27/72 ,  G01R33/06 ,  G01R33/07 ,  G01R33/09 ,  G01R33/1215

Abstract: 本发明提供一种磁传感器，与现有技术比较，能够抑制识别对象扭曲导致的输出变动。磁传感器具备：中空磁铁(1)、基板(2)、磁检测元件(3)。中空磁铁(1)为具有贯通孔(1a)的圆筒磁铁。中空磁铁(1)的z方向+侧的端面在整个面上为N极，z方向－侧的端面在整个面上为S极。基板(2)固定于中空磁铁(1)的N极侧端面上。磁检测元件(3)搭载于基板(2)上。磁检测元件(3)以能够检测x方向的磁场成分的变动的方式设置。磁检测元件(3)的感磁点(3a)位于中空磁铁(1)的中心轴上。作为识别对象的纸币(4)在x方向输送，以横穿磁检测元件(3)的z方向+侧的方式通过。纸币(4)的通过区域包括从中空磁铁(1)及磁检测元件(3)越向z方向+侧离开，磁通密度越大的特定区域。

公开(公告)号：CN102109359A

公开(公告)日：2011-06-29

申请号：CN201010576962.3

申请日：2010-12-02

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 福冈诚二 ,  木户利尚 ,  铃木启史 ,  毛受良一

IPC: G01D5/12 ,  G01D5/243

CPC classification number: G01D5/2454

Abstract: 本发明涉及一种磁式位置检测装置，其中，与邻接的磁极面接触的场合相比较，检测精度良好。磁性部件(1a～1d)的磁极面与SV-GMR1～SV-GMR4相对，呈直线状排列。在邻接的磁性部件中，与SV-GMR1～SV-GMR4相对的一侧的磁极面为相反极性。磁性部件(1a～1d)按照等间距(P)排列，邻接的磁性部件相互不接触而间隔配置。磁性部件(1a～1d)的相应长度(X)相对磁性部件(1a～1d)的排列间距(P)的比例比如在40％～60％的范围内。

公开(公告)号：CN113324564A

公开(公告)日：2021-08-31

申请号：CN202110211466.6

申请日：2021-02-25

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 加藤达也 ,  守屋贵裕 ,  石川原俊夫 ,  大山俊彦 ,  木户利尚

IPC: G01D5/12

Abstract: 本发明提供一种位置检测装置，可实现长的位置检测行程且能抑制大型化。磁传感器具有：第一磁场检测元件，其位于第一磁道；第一处理部(4A)，其在施加于第一磁场检测元件的第一磁场的强度为阈值(S1)以上的情况下输出表示磁铁相对于第一磁场检测元件的相对位置的电压(VM1)，并在第一磁场的强度低于阈值(S1)的情况下输出高电压(VH)；第二磁场检测元件，其位于第二磁道；以及第二处理部(4B)，其在施加于第二磁场检测元件的第二磁场的强度低于阈值(S1)的情况下输出低电压(VL)，并在第二磁场的强度为阈值(S1)以上的情况下输出表示磁铁相对于第二磁场检测元件的相对位置的电压(VM2)。

公开(公告)号：CN113324564B

公开(公告)日：2023-08-11

申请号：CN202110211466.6

申请日：2021-02-25

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 加藤达也 ,  守屋贵裕 ,  石川原俊夫 ,  大山俊彦 ,  木户利尚

IPC: G01D5/12

Abstract: 本发明提供一种位置检测装置，可实现长的位置检测行程且能抑制大型化。磁传感器具有：第一磁场检测元件，其位于第一磁道；第一处理部(4A)，其在施加于第一磁场检测元件的第一磁场的强度为阈值(S1)以上的情况下输出表示磁铁相对于第一磁场检测元件的相对位置的电压(VM1)，并在第一磁场的强度低于阈值(S1)的情况下输出高电压(VH)；第二磁场检测元件，其位于第二磁道；以及第二处理部(4B)，其在施加于第二磁场检测元件的第二磁场的强度低于阈值(S1)的情况下输出低电压(VL)，并在第二磁场的强度为阈值(S1)以上的情况下输出表示磁铁相对于第二磁场检测元件的相对位置的电压(VM2)。

公开(公告)号：CN102109359B

公开(公告)日：2015-05-27

申请号：CN201010576962.3

申请日：2010-12-02

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 福冈诚二 ,  木户利尚 ,  铃木启史 ,  毛受良一

IPC: G01D5/12 ,  G01D5/243

CPC classification number: G01D5/2454

Abstract: 本发明涉及一种磁式位置检测装置，其中，与邻接的磁极面接触的场合相比较，检测精度良好。磁性部件(1a～1d)的磁极面与SV-GMR1～SV-GMR4相对，呈直线状排列。在邻接的磁性部件中，与SV-GMR1～SV-GMR4相对的一侧的磁极面为相反极性。磁性部件(1a～1d)按照等间距(P)排列，邻接的磁性部件相互不接触而间隔配置。磁性部件(1a～1d)的相应长度(X)相对磁性部件(1a～1d)的排列间距(P)的比例比如在40％～60％的范围内。

公开(公告)号：CN101629802A

公开(公告)日：2010-01-20

申请号：CN200910159477.3

申请日：2009-07-14

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 海田佳生 ,  宫本宽和 ,  木户利尚

IPC: G01B7/30 ,  G01B7/00 ,  G01D5/16

Abstract: 本发明提出了一种对检测角度没有限制的角度检测装置及角度检测方法。角度检测装置(10)具有：固定在旋转轴(60)上的旋转体(20)；以输出包含旋转体(20)的旋转角度信息的第一检测信号和第二检测信号的方式对角配置的一对磁传感器(30A、30B)；对第一检测信号和第二检测信号进行差动运算的差动运算电路(41)；以及根据差动运算电路(41)进行差动运算的结果，计算旋转轴(60)的旋转角度的角度计算电路(50)。在此，通过旋转体(20)的旋转中心(P)的直线与旋转体(20)的外周相交的两点间的距离一定。