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公开(公告)号：CN114008405A
公开(公告)日：2022-02-01
申请号：CN201980097215.0
申请日：2019-06-07
Applicant: FOGALE 纳米技术公司
Inventor： 阿兰·库特维尔 , 查兰库马尔·戈达瓦拉蒂
IPC: G01B9/0209 , G01B9/023 , G01B11/00 , G01B11/06 , G01B11/14 , G01B11/27 , G01M11/02 , G02B21/00 , G02B27/62 , G06T7/00 , G01B11/24 , G06T7/521
Abstract: 本发明涉及一种用于测量包括多个界面的光学元件(1000)的界面(103)的形状的方法和设备(1)，该设备(1)包括：测量装置(4000、6000、7000)，其具有由低相干源(402、612、712)照射的至少一个干涉测量传感器，其配置为将测量光束(106、606)导向光学元件(1000)以穿过所述多个界面，并且选择性地检测由被所述待测界面(103)反射的测量光束(106、606)与参考光束(616、716)之间的干涉产生的干涉信号；定位装置(608、611、708、711)，其配置用于将干涉测量传感器的相干区域相对定位在待测界面的层面处；数字处理装置，其配置以基于干涉信号、根据视场(108)产生所述待测界面(103)的形状信息。
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公开(公告)号：CN113767421A
公开(公告)日：2021-12-07
申请号：CN202080030497.5
申请日：2020-02-10
Applicant: FOGALE 纳米技术公司
Inventor： 阿兰·库特维尔 , 阿德里安·凯撒 , 荷西·阿朗索·伊瓦内斯·塞佩达
IPC: G06T7/254
Abstract: 本发明涉及一种用于监控机器人的环境的方法(200)，所述方法具有包括以下步骤的检测阶段(220)的至少一次迭代：‑在测量时刻，通过所述至少一个3D摄像机，获取(222)所述环境的称作测量图像的深度图像，‑校准(228)所述参考图像和测量图像，和‑通过比较所述参考图像和测量图像，检测(230)关于所述机器人的环境中的物体的变化。本发明还涉及一种实施这种方法的设备和配备有这种设备的机器人。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114746713A
公开(公告)日：2022-07-12
申请号：CN202080083407.9
申请日：2020-09-21
Applicant: FOGALE 纳米技术公司
IPC: G01B9/02 , G01B9/02015 , G01B9/0209 , G01B11/24 , G01H9/00 , G03H1/04 , G03H1/08
Abstract: 本发明涉及一种用于测量物体(100)的表面的设备(1000、2000、3000、4000、5000、6000)，该设备包括：‑至少一个光源(112、212、320、520)；‑至少一个光学传感器(102、202、624)；以及‑干涉测量装置，其具有测量臂和参考臂，该测量臂被配置成通过光学聚焦系统(107、207)将来自至少一个光源(112、212、320、520)的光朝向物体的待测量表面引导，并将来自待测量表面的光朝向至少一个光学传感器(102、202、624)引导；根据被称为干涉测量配置的第一配置，测量设备被配置为用至少一个光源(112、212、320、520)照射参考臂和测量臂，并将来自测量臂和参考臂的光朝向至少一个光学传感器(102、202、624)引导，以便形成干涉信号；根据被称为成像配置的第二配置，测量设备被配置为至少照射测量臂，并仅将来自测量臂的光朝向至少一个光学传感器(102、202、624)引导，以便形成待测量表面的图像；测量设备还包括数字处理单元，所述数字处理单元被配置为根据干涉信号和图像产生关于待测量表面的信息。本发明还涉及一种测量物体(100)的表面的方法(10)。
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公开(公告)号：CN114746713B
公开(公告)日：2024-11-08
申请号：CN202080083407.9
申请日：2020-09-21
Applicant: FOGALE 纳米技术公司
IPC: G01B9/02 , G01B9/02015 , G01B9/0209 , G01B11/24 , G01H9/00 , G03H1/04 , G03H1/08
Abstract: 本发明涉及一种用于测量物体(100)的表面的设备(1000、2000、3000、4000、5000、6000)，该设备包括：‑至少一个光源(112、212、320、520)；‑至少一个光学传感器(102、202、624)；以及‑干涉测量装置，其具有测量臂和参考臂，该测量臂被配置成通过光学聚焦系统(107、207)将来自至少一个光源(112、212、320、520)的光朝向物体的待测量表面引导，并将来自待测量表面的光朝向至少一个光学传感器(102、202、624)引导；根据被称为干涉测量配置的第一配置，测量设备被配置为用至少一个光源(112、212、320、520)照射参考臂和测量臂，并将来自测量臂和参考臂的光朝向至少一个光学传感器(102、202、624)引导，以便形成干涉信号；根据被称为成像配置的第二配置，测量设备被配置为至少照射测量臂，并仅将来自测量臂的光朝向至少一个光学传感器(102、202、624)引导，以便形成待测量表面的图像；测量设备还包括数字处理单元，所述数字处理单元被配置为根据干涉信号和图像产生关于待测量表面的信息。本发明还涉及一种测量物体(100)的表面的方法(10)。
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公开(公告)号：CN110603423B
公开(公告)日：2022-09-20
申请号：CN201880028164.1
申请日：2018-03-12
Applicant: FOGALE 纳米技术公司
Inventor： 阿兰·库特维尔 , 克里斯蒂安·尼尔 , 查兰库马尔·戈达瓦拉蒂
IPC: G01B9/02 , G01B9/02055 , G01B9/02056 , G01B9/0209 , G01B9/02091 , G01B11/06 , A61B5/00 , A61B5/107 , G01N21/47
Abstract: 本发明涉及一种用于确定关于物体(13)的界面的结构和/或位置的信息的低相干干涉仪设备或装置(100、200)，该设备或装置包括：多色光源(11)；用于产生测量光束和参考光束的光学系统；用于在测量光束和参考光束之间引入可变光学时延的延迟线(14)；用于将测量光束和参考光束组合并且产生表示所得干涉信号的光功率谱密度的光谱信号的光学检测器(15)；控制和处理模块(16)，所述控制和处理模块布置用于：对于多个光学时延采集多个光谱信号，对于每个光谱信号确定在所谓的光谱测量范围内的干涉光束之间的光学延迟信息，根据光学时延来分析在所述光学延迟中的演变，并且将根据不同光谱信号确定的一个或更多个光学延迟分配给一条或更多条所谓的界面曲线(521、522、523、524)，所述界面曲线对应于具有正的、负的、零或几乎为零的斜率的直线，所述界面曲线取决于所述光谱信号的采集的相应的光学时延，并由此推断关于物体(13)的界面的结构和/或位置的信息。
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公开(公告)号：CN114008405B
公开(公告)日：2024-09-24
申请号：CN201980097215.0
申请日：2019-06-07
Applicant: FOGALE 纳米技术公司
Inventor： 阿兰·库特维尔 , 查兰库马尔·戈达瓦拉蒂
IPC: G01B9/0209 , G01B9/023 , G01B11/00 , G01B11/06 , G01B11/14 , G01B11/27 , G01M11/02 , G02B21/00 , G02B27/62 , G06T7/00 , G01B11/24 , G06T7/521
Abstract: 本发明涉及一种用于测量包括多个界面的光学元件(1000)的界面(103)的形状的方法和设备(1)，该设备(1)包括：测量装置(4000、6000、7000)，其具有由低相干源(402、612、712)照射的至少一个干涉测量传感器，其配置为将测量光束(106、606)导向光学元件(1000)以穿过所述多个界面，并且选择性地检测由被所述待测界面(103)反射的测量光束(106、606)与参考光束(616、716)之间的干涉产生的干涉信号；定位装置(608、611、708、711)，其配置用于将干涉测量传感器的相干区域相对定位在待测界面的层面处；数字处理装置，其配置以基于干涉信号、根据视场(108)产生所述待测界面(103)的形状信息。
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公开(公告)号：CN110249198B
公开(公告)日：2021-07-23
申请号：CN201880010221.3
申请日：2018-02-02
Applicant: FOGALE 纳米技术公司
Inventor： 阿兰·库特维尔
Abstract: 一种用于在干涉仪中使用的光延迟线(LR)，包括旋转多边形(29)。该多边形(29)布置成调制来自被称为测量光束的同一光束并穿过所述多边形(29)分别导向所述第一和第二反射器(21、22)的第一和第二光束(Li1、Li2)的相应光路，以便通过所述第一和第二光束(Li1、Li2)的光路之间的差产生光学延迟。在集成低干涉干涉仪的光学测量装置中的使用。
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