辐射屏蔽装置和包括这样的屏蔽装置的设备

    公开(公告)号:CN111819499A

    公开(公告)日:2020-10-23

    申请号:CN201980017481.8

    申请日:2019-02-21

    Abstract: 一种设备包括:热敏装置(F);辐射元件(RE),辐射元件在操作中生成第一电磁辐射(ER),第一辐射朝向热敏装置传播;以及辐射屏蔽装置(20),布置在辐射元件与热敏装置之间使得在操作中第一辐射入射在辐射屏蔽装置上。辐射屏蔽装置包括:具有布置在其中的第一流体通道(215)的第一屏蔽元件(21),第一屏蔽元件具有第一表面(213)和第二表面(214),第一表面被布置为比第二表面更靠近辐射元件;以及具有布置在其中的第二流体通道(225)的第二屏蔽元件(22),第二屏蔽元件具有第三表面(223)和第四表面(224),第三表面被布置为比第四表面靠近辐射元件。第一屏蔽元件被布置为比第二屏蔽元件靠近辐射元件,并且第二屏蔽元件被布置为比第一屏蔽元件靠近热敏装置,第一屏蔽元件和第二屏蔽元件彼此间隔开并且第二表面和第三表面彼此相对。

    光刻设备和方法
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109863453A

    公开(公告)日:2019-06-07

    申请号:CN201780061493.1

    申请日:2017-09-21

    Abstract: 一种执行衬底的光刻曝光的方法,衬底保持在衬底台上,衬底台包括可操作用以冷却衬底台的冷却系统,方法包括,执行衬底的对准测量,施加热量至衬底台以减小由冷却系统所提供对衬底台的冷却,在执行对准测量时刻与执行光刻曝光时刻之间施加热量,以及执行衬底的光刻曝光。

    光刻设备和方法
    7.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109863453B

    公开(公告)日:2021-09-14

    申请号:CN201780061493.1

    申请日:2017-09-21

    Abstract: 一种执行衬底的光刻曝光的方法,衬底保持在衬底台上,衬底台包括可操作用以冷却衬底台的冷却系统,方法包括,执行衬底的对准测量,施加热量至衬底台以减小由冷却系统所提供对衬底台的冷却,在执行对准测量时刻与执行光刻曝光时刻之间施加热量,以及执行衬底的光刻曝光。

    辐射源模块和光刻设备
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110799904A

    公开(公告)日:2020-02-14

    申请号:CN201880041791.9

    申请日:2018-06-08

    Abstract: 一种辐射源(SO),包括:燃料供给装置(3),被配置为供给燃料;激发装置(1),被配置为将燃料激发成等离子体(7);收集器(5),被配置为收集由等离子体发射的辐射并且将该辐射引导至束出口;碎片缓解系统(20),被配置为收集由等离子生成的碎片,该碎片缓解系统具有部件(3,9B,21,22,23,24,27,28,29),该部件具有从中穿过的管道(301);以及温度控制系统(300),被配置为通过选择性地加热或冷却穿过管道循环的热传递流体来选择性地增加或降低该部件的温度。

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