公开(公告)号：CN119254752A

公开(公告)日：2025-01-03

申请号：CN202411406649.3

申请日：2024-10-09

Applicant: 飞腾信息技术有限公司

Inventor： 杨培宇 ,  薛希庆 ,  王兴珍 ,  马花花 ,  姜若楠

IPC: H04L61/5007 ,  H04L101/622

Abstract: 本申请提出一种MAC功能切换方法、装置、设备及程序产品，该方法应用于以太网设备，所述以太网设备中存储有多种不同MAC功能模式各自对应的MAC硬件配置信息，所述MAC硬件配置信息包括MAC初始化配置信息和串行解串器配置信息，该方法包括：根据网络速率确定对应的目标MAC功能模式，以及确定所述目标MAC功能模式对应的时钟频率；在所述以太网设备的系统驱动中配置所述目标MAC功能模式对应的MAC硬件配置信息；将所述以太网设备的时钟频率调整为所述目标MAC功能模式对应的时钟频率，并加载MAC功能驱动，以使所述以太网设备切换为所述目标MAC功能模式。上述方法能够实现MAC功能热切换，从而提高MAC功能切换效率。

公开(公告)号：CN114443400A

公开(公告)日：2022-05-06

申请号：CN202210375705.6

申请日：2022-04-11

Applicant: 飞腾信息技术有限公司

Inventor： 杨培宇 ,  杜艳 ,  王兴珍 ,  王家兴 ,  陈才

IPC: G06F11/22 ,  G06F11/263 ,  G06F13/40 ,  G06F13/42

Abstract: 本说明书提供了一种信号测试方法、装置、片上系统、电子设备及存储介质，其中，所述信号测试方法在PCIe总线系统物理层的目标缓存区域中，基于经过所述物理层处理前后的待测试信号（即第一信号和第二信号），获取表征所述待测试信号质量的测试信息，实现在PCIe总线系统内部对待测试信号质量进行测试的目的。利用本说明书提供的信号测试方法进行信号质量测试，一方面不会妨碍待测试信号正常通过物理层，无需因为信号测试而中断正常信号传输，有利于提高测试和使用效率，为实现实时的信号测试奠定了基础。另一方面，由于该方法无需外接测试设备，简化了信号测试步骤，提高了测试效率，而且有利于降低信号测试所需的硬件成本。

公开(公告)号：CN119046203A

公开(公告)日：2024-11-29

申请号：CN202411147324.8

申请日：2024-08-20

Applicant: 飞腾信息技术有限公司

Inventor： 杨培宇 ,  陈才 ,  王家兴 ,  齐洪敏 ,  贾子飞

IPC: G06F13/16 ,  G06F9/38

Abstract: 本申请提供一种数据传输方法、处理器、计算机设备以及存储介质，应用于计算机技术领域，该方法首先获取用于实现数据传输的指令序列，且该指令序列包括用于配置描述符的配置指令和指示描述符配置完成的标记指令，在配置指令和标记指令之间插入目标指令并执行指令序列，完成数据传输，通过目标指令限定配置指令在标记指令执行前执行结束，即严格限定配置指令与标记指令的执行顺序，在完成描述符配置后再执行标记指令通知外部设备描述符已完成配置，避免二者乱序执行，从而确保外部设备可以根据配置后的描述符获取正确的数据，提高数据传输过程的可靠性。

公开(公告)号：CN114443400B

公开(公告)日：2022-08-02

申请号：CN202210375705.6

申请日：2022-04-11

Applicant: 飞腾信息技术有限公司

Inventor： 杨培宇 ,  杜艳 ,  王兴珍 ,  王家兴 ,  陈才

IPC: G06F11/22 ,  G06F11/263 ,  G06F13/40 ,  G06F13/42

Abstract: 本说明书提供了一种信号测试方法、装置、片上系统、电子设备及存储介质，其中，所述信号测试方法在PCIe总线系统物理层的目标缓存区域中，基于经过所述物理层处理前后的待测试信号（即第一信号和第二信号），获取表征所述待测试信号质量的测试信息，实现在PCIe总线系统内部对待测试信号质量进行测试的目的。利用本说明书提供的信号测试方法进行信号质量测试，一方面不会妨碍待测试信号正常通过物理层，无需因为信号测试而中断正常信号传输，有利于提高测试和使用效率，为实现实时的信号测试奠定了基础。另一方面，由于该方法无需外接测试设备，简化了信号测试步骤，提高了测试效率，而且有利于降低信号测试所需的硬件成本。

公开(公告)号：CN216927594U

公开(公告)日：2022-07-08

申请号：CN202220456275.6

申请日：2022-03-02

Applicant: 飞腾信息技术有限公司

Inventor： 杨培宇 ,  杜艳 ,  俎鹏宇 ,  王兴珍 ,  王家兴 ,  陈才

IPC: G06F11/22

Abstract: 本实用新型公开了一种PCIE测试装置和系统，PCIE测试装置包括PCIE接口以及集成在FPGA芯片上的码型发生器、并转串模块、输入驱动模块、输出驱动模块、串转并模块和输出检测器，通过码型发生器生成码型数据，并转串模块将码型数据转化为串行数据，经过输入驱动模块来保证最大信号完整性后，传送到PCIE接口，通过PCIE接口将测试信号发送给待测PCIE设备，然后经过待测PCIE设备内部环回后，信号传输回PCIE接口，通过输出驱动模块来保证信号完整性后，串转并模块将其转换成并行数据，经输出检测器统计误码率、模拟PCIE眼图，得到待测PCIE设备的测试结果。