公开(公告)号：CN114461559A

公开(公告)日：2022-05-10

申请号：CN202111560418.4

申请日：2021-12-17

Applicant: 飞腾信息技术有限公司

Inventor： 俎鹏宇 ,  王兴珍 ,  陈才 ,  张道明 ,  张明 ,  朱青山 ,  李信德

IPC: G06F13/40 ,  G06F13/42 ,  G06F15/78

Abstract: 本发明公开了一种热插拔方法、片上系统及计算机设备，热插拔方法包括如下步骤：通过PCIE控制器获取寄存器的状态，以确定所述片上系统与所述外设之间的通信状态；在寄存器的状态处于L0状态时，判断所述片上系统与所述外设之间的通信是否出现链路掉落，若是，调整寄存器状态标志位的值，以使片上系统与外设之间恢复通信；若否，则说明片上系统与外设之间处于正常链路状态。本发明具有可弥补硬件平台的固有缺陷，可稳定地实现PCIE热插拔的优点。

公开(公告)号：CN216927594U

公开(公告)日：2022-07-08

申请号：CN202220456275.6

申请日：2022-03-02

Applicant: 飞腾信息技术有限公司

Inventor： 杨培宇 ,  杜艳 ,  俎鹏宇 ,  王兴珍 ,  王家兴 ,  陈才

IPC: G06F11/22

Abstract: 本实用新型公开了一种PCIE测试装置和系统，PCIE测试装置包括PCIE接口以及集成在FPGA芯片上的码型发生器、并转串模块、输入驱动模块、输出驱动模块、串转并模块和输出检测器，通过码型发生器生成码型数据，并转串模块将码型数据转化为串行数据，经过输入驱动模块来保证最大信号完整性后，传送到PCIE接口，通过PCIE接口将测试信号发送给待测PCIE设备，然后经过待测PCIE设备内部环回后，信号传输回PCIE接口，通过输出驱动模块来保证信号完整性后，串转并模块将其转换成并行数据，经输出检测器统计误码率、模拟PCIE眼图，得到待测PCIE设备的测试结果。