-
公开(公告)号：CN109297927A
公开(公告)日：2019-02-01
申请号：CN201810955664.1
申请日：2018-08-21
申请人： 深圳市太赫兹科技创新研究院 , 雄安华讯方舟科技有限公司
IPC分类号： G01N21/359 , G01J3/42 , G01J3/02
摘要： 一种光谱仪的装调装置及方法，包括如下步骤：观察出射聚焦透镜后的光线不同位置处的光斑，固定准直透镜的位置；根据入射狭缝与线阵相机之间的角度关系，将反射镜与衍射光栅以预定角度进行相互固定；将反射镜及衍射光栅以同一轴线转动设置在壳体中，对反射镜及衍射光栅进行转动调节，直至衍射光栅的检测级所对应的衍射光会聚到线阵相机中；进行会聚透镜装调；及确定线阵相机的波长分布曲线。通过准直光线的主要部分经过反射镜后反射至衍射光栅；转动调节反射镜及衍射光栅，衍射光栅的检测级所对应的衍射光会聚到线阵相机中，从而避免了对反射镜及衍射光栅相对入射狭缝或线阵相机的角度进行重复调整，提高光谱仪在装调效率，有效提升光谱仪的产量。
-
公开(公告)号：CN109297927B
公开(公告)日：2020-10-13
申请号：CN201810955664.1
申请日：2018-08-21
申请人： 深圳市太赫兹科技创新研究院 , 雄安华讯方舟科技有限公司
IPC分类号： G01N21/359 , G01J3/42 , G01J3/02
摘要： 一种光谱仪的装调装置及方法，包括如下步骤：观察出射准直透镜后的光线不同位置处的光斑，固定准直透镜的位置；根据入射狭缝与线阵相机之间的角度关系，将反射镜与衍射光栅以预定角度进行相互固定；将反射镜及衍射光栅以同一轴线转动设置在壳体中，对反射镜及衍射光栅进行转动调节，直至衍射光栅的检测级所对应的衍射光会聚到线阵相机中；进行会聚透镜装调；及确定线阵相机的波长分布曲线。通过准直光线的主要部分经过反射镜后反射至衍射光栅；转动调节反射镜及衍射光栅，衍射光栅的检测级所对应的衍射光会聚到线阵相机中，从而避免了对反射镜及衍射光栅相对入射狭缝或线阵相机的角度进行重复调整，提高光谱仪在装调效率，有效提升光谱仪的产量。
-
公开(公告)号：CN109741234A
公开(公告)日：2019-05-10
申请号：CN201811647726.9
申请日：2018-12-29
申请人： 深圳市太赫兹科技创新研究院 , 雄安华讯方舟科技有限公司
摘要： 本发明适用于OCT技术领域，提供一种OCT图像处理装置及系统，通过使FPGA通过PCIE接口与上位机通信连接，以接收上位机采集的OCT图像数据，并进行图像预处理之后发送至上位机进行显示，通过上位机来执行OCT图像数据的采集和显示操作，通过FPGA来执行OCT图像数据的图像预处理操作，可以大大提高OCT图像数据的处理效率。
-
公开(公告)号：CN108775870A
公开(公告)日：2018-11-09
申请号：CN201810307361.9
申请日：2018-04-08
申请人： 雄安华讯方舟科技有限公司 , 深圳市太赫兹科技创新研究院
摘要： 本发明涉及一种包衣锅的监控系统。该监控系统包括光源、光分路设备、探头设备、光谱仪及处理器。所述光源发射初始光；所述光分路设备用于将所述初始光分为参考光和样品光；所述探头设备将所述样品光聚焦至所述包衣锅内的包衣上，并探测所述包衣反射的包衣反射光；所述参考光和所述包衣反射光发生干涉，形成干涉光；所述光谱仪采集并分析所述干涉光，得到干涉光谱信号；所述处理器处理所述干涉光谱信号，得到包衣信息数据。本发明还涉及一种包衣锅的监控方法。上述方法及系统可以实时监测包衣的情况，可以应用在包衣制剂生产过程中，给药系统的设计研发、释药制备工艺的优化等方面有着积极的意义。
-
公开(公告)号：CN108775870B
公开(公告)日：2021-08-10
申请号：CN201810307361.9
申请日：2018-04-08
申请人： 雄安华讯方舟科技有限公司 , 深圳市太赫兹科技创新研究院
摘要： 本发明涉及一种包衣锅的监控系统。该监控系统包括光源、光分路设备、探头设备、光谱仪及处理器。所述光源发射初始光；所述光分路设备用于将所述初始光分为参考光和样品光；所述探头设备将所述样品光聚焦至所述包衣锅内的包衣上，并探测所述包衣反射的包衣反射光；所述参考光和所述包衣反射光发生干涉，形成干涉光；所述光谱仪采集并分析所述干涉光，得到干涉光谱信号；所述处理器处理所述干涉光谱信号，得到包衣信息数据。本发明还涉及一种包衣锅的监控方法。上述方法及系统可以实时监测包衣的情况，可以应用在包衣制剂生产过程中，给药系统的设计研发、释药制备工艺的优化等方面有着积极的意义。
-
公开(公告)号：CN108648997B
公开(公告)日：2020-02-18
申请号：CN201810488345.4
申请日：2018-05-21
申请人： 雄安华讯方舟科技有限公司 , 深圳市太赫兹科技创新研究院
IPC分类号： H01L21/329 , H01L21/306
摘要： 本发明涉及一种共振隧穿二极管晶圆结构的制备方法，包括如下步骤：提供衬底；在衬底上依次层叠沉积的第一重掺杂InGaAs层、InP层、第一AlAs势垒层、InGaAs势阱层、第二AlAs势垒层和第二重掺杂InGaAs层；在所述第二重掺杂InGaAs层上沉积金属图形，形成第二欧姆接触；在金属图形以外的区域，先用可刻蚀InGaAs材料和AlAs材料、但不刻蚀InP材料的第一刻蚀液从第二重掺杂InGaAs层刻蚀至InP层，再用可刻蚀InP材料、但不刻蚀InGaAs材料和AlAs材料的第二刻蚀液刻蚀至第一重掺杂InGaAs层；在经刻蚀处理后的第一重掺杂InGaAs层上沉积金属形成第一欧姆接触。
-
公开(公告)号：CN108648997A
公开(公告)日：2018-10-12
申请号：CN201810488345.4
申请日：2018-05-21
申请人： 雄安华讯方舟科技有限公司 , 深圳市太赫兹科技创新研究院
IPC分类号： H01L21/329 , H01L21/306
摘要： 本发明涉及一种共振隧穿二极管晶圆结构的制备方法，包括如下步骤：提供衬底；在衬底上依次层叠沉积的第一重掺杂InGaAs层、InP层、第一AlAs势垒层、InGaAs势阱层、第二AlAs势垒层和第二重掺杂InGaAs层；在所述第二重掺杂InGaAs层上沉积金属图形，形成第二欧姆接触；在金属图形以外的区域，先用可刻蚀InGaAs材料和AlAs材料、但不刻蚀InP材料的第一刻蚀液从第二重掺杂InGaAs层刻蚀至InP层，再用可刻蚀InP材料、但不刻蚀InGaAs材料和AlAs材料的第二刻蚀液刻蚀至第一重掺杂InGaAs层；在经刻蚀处理后的第一重掺杂InGaAs层上沉积金属形成第一欧姆接触。
-
公开(公告)号：CN108550620A
公开(公告)日：2018-09-18
申请号：CN201810316297.0
申请日：2018-04-10
申请人： 雄安华讯方舟科技有限公司 , 深圳市太赫兹科技创新研究院
IPC分类号： H01L29/20 , H01L21/329 , H01L29/88
摘要： 一种共振隧穿二极管晶圆结构及制备方法。该共振隧穿二极管晶圆结构，包括层叠设置的收集层、双势垒量子阱结构和发射层，所述双势垒量子阱结构包括依次层叠设置的第一AlAs势垒层、第一InGaAs势阱层、第二InGaAs势阱层和第二AlAs势垒层，且所述第一InGaAs势阱层和所述第二InGaAs势阱层之间设置有InAs亚势阱层；其中，所述第一AlAs势垒层靠近所述收集层，所述第二AlAs势垒层靠近所述发射层；或所述第一AlAs势垒层靠近所述发射层，所述第二AlAs势垒层靠近所述收集层。该共振隧穿二极管晶圆结构在相同工作偏压下，有更多的电子实现迁移，电流响应更大，增加了峰谷电流比值。
-
公开(公告)号：CN108514404B
公开(公告)日：2021-08-10
申请号：CN201810264524.X
申请日：2018-03-28
申请人： 深圳市太赫兹科技创新研究院 , 深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司
IPC分类号： A61B5/00
摘要： 本发明涉及一种光学相干断层成像系统。该系统包括光源、光纤耦合器、参考臂、样品臂、信号采集模块及信号处理模块。光源提供初始光；光纤耦合器将初始光分为参考光和样品光；参考臂将参考光的反射光传回至光纤耦合器；样品臂利用样品光检测待测样品，样品光在待测样品产生后向散射光传回至光纤耦合器；后向散射光与反射光在光纤耦合器内发生干涉形成干涉光；干涉光被光纤耦合器分为多路干涉光谱；信号采集模块分别采集各干涉光谱；信号处理模块根据各路干涉光谱的谱线信号生成所述待测样品的检测图像。上述系统，可以消除虚像干扰和光信号噪声干扰，从而使得上述系统的成像效果较好。
-
公开(公告)号：CN107907499B
公开(公告)日：2020-09-04
申请号：CN201711458638.X
申请日：2017-12-28
申请人： 深圳市太赫兹科技创新研究院 , 深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司
IPC分类号： G01N21/3586 , G01N21/3563
摘要： 本发明涉及一种多频太赫兹检测装置、系统及其方法。该装置包括：用于发射不同频率的太赫兹波的多频太赫兹发射装置；设置于多频太赫兹发射装置的太赫兹波发射路径上、用于反射太赫兹波至被测物品以对被测物品进行扫描的扫描装置；设置于被测物品的透射光路方向上的成像装置；设置于被测物品至成像装置的传输光路方向上、用于可疑物品检测时将被测物品透射的不同频率的太赫兹波反射至功率检测模块的反射装置；设置于被测物品透射的不同频率的太赫兹波的反射光路方向上的功率检测装置。通过上述多频太赫兹检测装置，无需对被测物品进行拆封处理，实现了对被测物品的无损检测。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
搜索结果
18 条记录 (耗时 0.056 秒)
