光线入射角度测量结果的校准方法

    公开(公告)号:CN108225256A

    公开(公告)日:2018-06-29

    申请号:CN201711291453.4

    申请日:2017-12-08

    Abstract: 本申请实施例提供的光线入射角度测量结果的校准方法,基于包括光学接收装置、计算装置及至少一组具有预置安装参数的微透镜阵列的光线入射角度测量系统,预先任取一组微透镜阵列中的四列微透镜作为校准阵列,所述方法包括:基于对第一校准阵列的测量结果获取第一入射角度值;以第一入射角度值作为已知量,并结合第二校准阵列的安装参数获取入射角度修正值;基于对第三校准阵列的测量结果获取第二入射角度值,并根据第二入射角度值与入射角度修正值计算得到第三入射角度值;基于第四校准阵列的安装参数对第三入射角度值进行校准,以得到校准后的入射角度值。通过本方案,可提高光线入射角度测量结果的精度。

    一种非制冷红外焦平面阵列非均匀性校正方法

    公开(公告)号:CN116055908B

    公开(公告)日:2024-10-29

    申请号:CN202211564203.4

    申请日:2022-12-07

    Abstract: 本发明涉及红外焦平面阵列非均匀性校正技术领域,且公开了一种非制冷红外焦平面阵列非均匀性校正方法,采用多段折线逼近探测器响应曲线的方法对非制冷红外焦平面阵列的响应曲线进行拟合,计算出各区域的非均匀校正系数,通过单独构造各个区域校正系数的存储模型,根据像元和采集数据地址、并且结合目标的温度条件,获取对应的存储模型、并从中提取校正系数,实现对于温度不同的目标、使用对应区域的非均匀校正系数进行校正,整个提取过程需要经过识别确认,不仅提高了非制冷红外焦平面阵列上任一探测单元校正精度、而且保证了非制冷红外焦平面阵列上任一探测单元校正结果的准确性。

    一种激光和毫米波融合的生发装置

    公开(公告)号:CN117244176A

    公开(公告)日:2023-12-19

    申请号:CN202311243139.4

    申请日:2023-09-26

    Abstract: 本发明公开了一种激光和毫米波技术相结合的生发装置,针对单一激光作用于毛囊造成的见效慢、生发不均匀等问题,利用毫米波的穿透性可以有效得到改善,所述装置包括最外部的壳体以及通过螺丝紧固的激光球罩,激光球罩由柔性PCB组成,表面均匀分布有80颗灯珠,所述激光灯珠采用的是近红外波段,波长为660nm及850nm,在上述PCB板中线上下两个位置采用插接的方式连接有毫米波雷达发生模块,波段为24Ghz至30Ghz,装置的内部固定有主控制板,可根据用户需求切换治疗模式以及驱动激光和毫米波模块,通过本次提出的激光毫米波融合生发装置,可以有效解决单一激光作用的弊端,能够更加有效地刺激毛囊细胞,加速毛发生长。

    一种红外MRTD四杆靶温差精密测量装置

    公开(公告)号:CN116773029A

    公开(公告)日:2023-09-19

    申请号:CN202310696176.4

    申请日:2023-06-13

    Abstract: 本发明属于红外MRTD测量技术领域,尤其为一种红外MRTD四杆靶温差精密测量装置,包括黑体,所述黑体内部辐射体表面贴有阻值为50欧姆的铂丝缠绕,采用TEC进行温度控制,无氧铜加工的辐射板紧贴在TEC表面,所述TEC和所述辐射体周围用一个聚四氟乙烯壳体进行包裹并保温。本发明将传统的铂电阻插孔测温改为将铂丝按照温度感传规律均匀地缠绕在黑体与四杆靶标上,并在本领域首次提出差分测温方法,由于铂丝直接测温具有响应速度快和性能稳定的优点,当温度变化时,铂丝的电阻值在10ms内就会发生变化,能够快速反应温度的变化,可以实时准确跟踪测量靶面与黑体的温度差,使红外热像仪的MRTD测试更加精确,可靠,可分辨温差为0.1m℃。

    光线入射角度测量结果的校准方法

    公开(公告)号:CN108225256B

    公开(公告)日:2020-05-22

    申请号:CN201711291453.4

    申请日:2017-12-08

    Abstract: 本申请实施例提供的光线入射角度测量结果的校准方法,基于包括光学接收装置、计算装置及至少一组具有预置安装参数的微透镜阵列的光线入射角度测量系统,预先任取一组微透镜阵列中的四列微透镜作为校准阵列,所述方法包括:基于对第一校准阵列的测量结果获取第一入射角度值;以第一入射角度值作为已知量,并结合第二校准阵列的安装参数获取入射角度修正值;基于对第三校准阵列的测量结果获取第二入射角度值,并根据第二入射角度值与入射角度修正值计算得到第三入射角度值;基于第四校准阵列的安装参数对第三入射角度值进行校准,以得到校准后的入射角度值。通过本方案,可提高光线入射角度测量结果的精度。

    光线入射角度的测量系统及方法

    公开(公告)号:CN108317970B

    公开(公告)日:2020-04-03

    申请号:CN201711291461.9

    申请日:2017-12-08

    Abstract: 本申请实施例提供的光线入射角度的测量系统及方法,由预先规划安装参数的至少一组微透镜阵列、光学接收装置及计算装置组成光线入射角度测量系统,通过测量系统中的计算装置根据光学接收装置的安装参数及由光学接收装置测量到的待测光线经由微透镜阵列在光学接收装置上所形成的光斑信息,计算出待测光线的入射角度以作为测量结果,也即可基于确定的信息计算得到待测光线的入射角度,以此可提高光线入射角度的测量精度。

    一种非均匀性校正单个偏移参数的校正算法

    公开(公告)号:CN115752759B

    公开(公告)日:2024-08-23

    申请号:CN202211511725.8

    申请日:2022-11-29

    Abstract: 本发明涉及红外焦平面阵列非均匀性校正设计技术领域,且公开了一种非均匀性校正单个偏移参数的校正算法,利用标准校正参考源提供给非制冷红外焦平面阵列均匀入射辐射通量,测量每个探测单元输出响应,并按照线性假设条件对非制冷红外焦平面阵列的响应曲线进行拟合输出非均匀校正参数,通过构造像元响应模型中单偏移校正参数存储模型、把单偏移参数存储模型聚合生成复合校正存储模型,根据像元和采集数据地址获取复合校正存储模型,从复合校正存储模型中提取单偏移校正参数存储模型,从单偏移校正参数存储模型中提取单个校正偏移参数,整个提取过程经过若干次的识别确认,有效地保证了非制冷红外焦平面阵列上任一探测单元校正结果的准确性。

    光线入射角度的测量系统及方法

    公开(公告)号:CN108317970A

    公开(公告)日:2018-07-24

    申请号:CN201711291461.9

    申请日:2017-12-08

    Abstract: 本申请实施例提供的光线入射角度的测量系统及方法,由预先规划安装参数的至少一组微透镜阵列、光学接收装置及计算装置组成光线入射角度测量系统,通过测量系统中的计算装置根据光学接收装置的安装参数及由光学接收装置测量到的待测光线经由微透镜阵列在光学接收装置上所形成的光斑信息,计算出待测光线的入射角度以作为测量结果,也即可基于确定的信息计算得到待测光线的入射角度,以此可提高光线入射角度的测量精度。

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