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公开(公告)号：CN116055908B
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202211564203.4
申请日：2022-12-07
Applicant: 长春理工大学
IPC: H04N25/673 , G01J5/53 , H04N23/23
Abstract: 本发明涉及红外焦平面阵列非均匀性校正技术领域，且公开了一种非制冷红外焦平面阵列非均匀性校正方法，采用多段折线逼近探测器响应曲线的方法对非制冷红外焦平面阵列的响应曲线进行拟合，计算出各区域的非均匀校正系数，通过单独构造各个区域校正系数的存储模型，根据像元和采集数据地址、并且结合目标的温度条件，获取对应的存储模型、并从中提取校正系数，实现对于温度不同的目标、使用对应区域的非均匀校正系数进行校正，整个提取过程需要经过识别确认，不仅提高了非制冷红外焦平面阵列上任一探测单元校正精度、而且保证了非制冷红外焦平面阵列上任一探测单元校正结果的准确性。
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公开(公告)号：CN116055908A
公开(公告)日：2023-05-02
申请号：CN202211564203.4
申请日：2022-12-07
Applicant: 长春理工大学
IPC: H04N25/673 , G01J5/53 , H04N23/23
Abstract: 本发明涉及红外焦平面阵列非均匀性校正技术领域，且公开了一种非制冷红外焦平面阵列非均匀性校正方法，采用多段折线逼近探测器响应曲线的方法对非制冷红外焦平面阵列的响应曲线进行拟合，计算出各区域的非均匀校正系数，通过单独构造各个区域校正系数的存储模型，根据像元和采集数据地址、并且结合目标的温度条件，获取对应的存储模型、并从中提取校正系数，实现对于温度不同的目标、使用对应区域的非均匀校正系数进行校正，整个提取过程需要经过识别确认，不仅提高了非制冷红外焦平面阵列上任一探测单元校正精度、而且保证了非制冷红外焦平面阵列上任一探测单元校正结果的准确性。
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公开(公告)号：CN115752759A
公开(公告)日：2023-03-07
申请号：CN202211511725.8
申请日：2022-11-29
Applicant: 长春理工大学
Abstract: 本发明涉及红外焦平面阵列非均匀性校正设计技术领域，且公开了一种非均匀性校正单个偏移参数的校正算法，利用标准校正参考源提供给非制冷红外焦平面阵列均匀入射辐射通量，测量每个探测单元输出响应，并按照线性假设条件对非制冷红外焦平面阵列的响应曲线进行拟合输出非均匀校正参数，通过构造像元响应模型中单偏移校正参数存储模型、把单偏移参数存储模型聚合生成复合校正存储模型，根据像元和采集数据地址获取复合校正存储模型，从复合校正存储模型中提取单偏移校正参数存储模型，从单偏移校正参数存储模型中提取单个校正偏移参数，整个提取过程经过若干次的识别确认，有效地保证了非制冷红外焦平面阵列上任一探测单元校正结果的准确性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115752759B
公开(公告)日：2024-08-23
申请号：CN202211511725.8
申请日：2022-11-29
Applicant: 长春理工大学
Abstract: 本发明涉及红外焦平面阵列非均匀性校正设计技术领域，且公开了一种非均匀性校正单个偏移参数的校正算法，利用标准校正参考源提供给非制冷红外焦平面阵列均匀入射辐射通量，测量每个探测单元输出响应，并按照线性假设条件对非制冷红外焦平面阵列的响应曲线进行拟合输出非均匀校正参数，通过构造像元响应模型中单偏移校正参数存储模型、把单偏移参数存储模型聚合生成复合校正存储模型，根据像元和采集数据地址获取复合校正存储模型，从复合校正存储模型中提取单偏移校正参数存储模型，从单偏移校正参数存储模型中提取单个校正偏移参数，整个提取过程经过若干次的识别确认，有效地保证了非制冷红外焦平面阵列上任一探测单元校正结果的准确性。
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公开(公告)号：CN115979436A
公开(公告)日：2023-04-18
申请号：CN202310129638.4
申请日：2023-02-17
Applicant: 长春理工大学
IPC: G01J5/53
Abstract: 本发明涉及红外光学辐射测温技术领域，且公开了一种可适应宽温度范围内，便携式红外辐射计的标定方法，该方法针对目前红外辐射计斩波器喷涂高发射率黑漆，内部不加温控与校准黑体，仅带有一个温度探头的特点，可以自适应外界温度变化并进行精确补偿；应用此种方法的辐射计与传统的温控型红外辐射计相比，具有成本低、功耗小、数据信号采集快速和携带便捷等优点；此外，该标定方法在使用温度范围内进行全温度的标定，弥补传统方法中一个和几个温度点标定而代替全温度点进行标定的不足，与传统方法相比，此种方法能够使现有辐射计适应环境能力更强。
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公开(公告)号：CN218865283U
公开(公告)日：2023-04-14
申请号：CN202223005324.3
申请日：2022-11-11
Applicant: 长春理工大学
Abstract: 本实用新型涉及红外机芯测试技术领域，且公开了一种非制冷红外机芯测试装置，包括固定底座，固定底座的顶部开设有环形限位槽，环形限位槽内腔的底部开设有垂直槽，垂直槽内腔横截面直径为环形限位槽内腔横截面直径的二十分之十九。该非制冷红外机芯测试装置，通过伺服电机、主动轴、三叉架、限位板、联动带、从动齿轮和机芯测试箱体之间的配合，利用主动轴与三个从动齿轮之间通过联动带传动连接，有利于提高机芯测试箱体不同程度的震动，有效全面的模拟震动和冲击环境下，测试机芯的结构、镜头性能以及成像的质量，提高红外机芯测试结果的精准度。
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公开(公告)号：CN218865282U
公开(公告)日：2023-04-14
申请号：CN202223005215.1
申请日：2022-11-11
Applicant: 长春理工大学
IPC: G01J5/90
Abstract: 本实用新型涉及红外设备性能测试技术领域，且公开了一种非制冷红外设备性能测试实验设备，包括底座，所述底座上表面的中部固定连接限位球体，所述底座的上方设置有支撑装置，所述支撑装置的顶部固定连接有下透明球形槽。该非制冷红外设备性能测试实验设备，通过支撑装置、弧形限位杆、弧形限位槽、限位球体、固定栓和水平对齐条之间的配合，利用水平对齐条成倒置水平的圆弧形状，且水平对齐条的两端均与支撑装置的水平方向保持平行，且利用固定栓对支撑装置的位置进行固定确保验证好的平台处于正常位置，保障在检测前能够对红外焦平面实验检测平台的位置进行校正，提高后续测试结果的准确性。
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公开(公告)号：CN218822794U
公开(公告)日：2023-04-07
申请号：CN202223274119.7
申请日：2022-12-07
Applicant: 长春理工大学
Abstract: 本实用新型涉及无挡片非制冷红外热成像技术领域，且公开了一种无挡片非制冷红外热成像试验样机，包括红外热成像机体，所述红外热成像机体的左侧螺纹套接有光学镜头，所述光学镜头的内部固定卡接有镜片，所述红外热成像机体内腔左侧固定连接有固定板。该无挡片非制冷红外热成像试验样机，通过隔热玻璃、环形降温管、上竖管、下竖管、出水箱、J形管、进水箱、降温调控装置和进水管之间的配合，通过源源不断进水箱中的液体流入至隔热玻璃中，继而便于将原先隔热玻璃中吸附的含有热量的液体快速流走，继而提高隔热玻璃的散热效果，达到非制冷红外热成像非均匀校正的目的。
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