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公开(公告)号：CN102483462A
公开(公告)日：2012-05-30
申请号：CN201080039569.9
申请日：2010-08-03
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01T1/24
CPC classification number: H01L31/115 , H01L31/1185
Abstract: 辐射检测器包括：半导体晶体，其具有第一表面和与该第一表面相对的第二表面；第一电极，其与该半导体晶体的该第一表面电耦合来允许电流在该第一电极与该晶体之间流动；以及在该第一表面上并且在该半导体晶体和该第一电极之间以便在该第一电极和该晶体之间形成部分透射的电阻挡的绝缘层。该绝缘层具有范围在大约50纳米至大约500纳米之间的厚度。
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公开(公告)号：CN101375798B
公开(公告)日：2012-02-22
申请号：CN200810214276.4
申请日：2008-08-29
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: A61B6/4014 , A61B6/032 , A61B6/4241 , G01T1/2985
Abstract: 本发明涉及具有第二射线管/检测器修补的CT成像系统和方法。一种CT成像系统(10)，包括可旋转台架(12)，具有接收要扫描的目标物体(22)的开口(48)；第一x射线发射源(90，190)，连接到所述可旋转台架(12)并且配置为朝目标物体(22)发射x射线；以及第二x射线发射源(92，192)，连接到所述可旋转台架(12)并且配置为朝目标物体(22)发射x射线。第一检测器(100，200)配置为接收从第一x射线发射源(90，190)发射的x射线，第二检测器(106，206)，配置为接收从第二x射线发射源(92，192)发射的x射线。第一检测器(100，200)的第一部分配置为工作在积分模式，第二检测器(106，220)的第一部分配置为工作在至少光子计数模式。
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公开(公告)号：CN101375798A
公开(公告)日：2009-03-04
申请号：CN200810214276.4
申请日：2008-08-29
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: A61B6/4014 , A61B6/032 , A61B6/4241 , G01T1/2985
Abstract: 本发明涉及具有第二射线管/检测器修补的CT成像系统和方法。一种CT成像系统(10)，包括可旋转台架(12)，具有接收要扫描的目标物体(22)的开口(48)；第一x射线发射源(90，190)，连接到所述可旋转台架(12)并且配置为朝目标物体(22)发射x射线；以及第二x射线发射源(92，192)，连接到所述可旋转台架(12)并且配置为朝目标物体(22)发射x射线。第一检测器(100，200)配置为接收从第一x射线发射源(90，190)发射的x射线，第二检测器(106，206)，配置为接收从第二x射线发射源(92，192)发射的x射线。第一检测器(100，200)的第一部分配置为工作在积分模式，第二检测器(106，220)的第一部分配置为工作在至少光子计数模式。
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公开(公告)号：CN101214154A
公开(公告)日：2008-07-09
申请号：CN200810001972.7
申请日：2008-01-04
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: A61B6/032 , A61B6/4291 , A61B6/482
Abstract: 本发明涉及CT探测器模块构造。提供用于CT成像系统(10)的探测器模块(20)。所述探测器模块(20)包括用于将X射线(16)转换成电信号的传感器元件(52)。所述传感器元件(52)经由互连系统耦合到数据采集系统DAS(54)，所述DAS(54)由电子基板(56)和集成电路(70)构成。互连系统通过接触焊盘互连(60)以及线接合互连(72)或另外的接触焊盘互连(60)一起将所述传感器元件(52)、电子基板(56)以及集成电路(70)耦合。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101110157B
公开(公告)日：2011-03-23
申请号：CN200710137349.X
申请日：2007-07-20
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01T1/17
Abstract: 一种数字获取电路(26)包括放大器(14)，该放大器响应于在检测器上入射的能量放大由检测器产生的电脉冲。该自适应数据获取电路还包括用于对放大器产生的放大的电脉冲计数的计数电路(28)。另外，该自适应数据获取电路还包括数字逻辑电路(30)，该数字逻辑电路(30)用于确定表示脉冲率和在放大的电脉冲中存在的能量的量的脉冲参数，还用于响应于该脉冲参数生成控制信号(34)，来控制该数据获取电路的操作参数。
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公开(公告)号：CN101214154B
公开(公告)日：2013-03-13
申请号：CN200810001972.7
申请日：2008-01-04
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: A61B6/032 , A61B6/4291 , A61B6/482
Abstract: 本发明涉及CT探测器模块构造。提供用于CT成像系统(10)的探测器模块(20)。所述探测器模块(20)包括用于将X射线(16)转换成电信号的传感器元件(52)。所述传感器元件(52)经由互连系统耦合到数据采集系统DAS(54)，所述DAS(54)由电子基板(56)和集成电路(70)构成。互连系统通过接触焊盘互连(60)以及线接合互连(72)或另外的接触焊盘互连(60)一起将所述传感器元件(52)、电子基板(56)以及集成电路(70)耦合。
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公开(公告)号：CN102331586A
公开(公告)日：2012-01-25
申请号：CN201110160505.0
申请日：2011-06-03
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01T1/2928 , A61B6/037
Abstract: 本公开涉及辐射检测器(12)中的电荷丢失的校正。在一个实施例中，电荷丢失的校正因数可基于电荷形成事件(48)的辐射检测器(12)内的相互作用深度(82)和横向位置确定。该校正因数可应用于随后测量的信号以校正该测量的信号中的电荷丢失的发生。
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公开(公告)号：CN101110157A
公开(公告)日：2008-01-23
申请号：CN200710137349.X
申请日：2007-07-20
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01T1/17
Abstract: 一种数字获取电路(26)包括放大器(14)，该放大器响应于在检测器上入射的能量放大由检测器产生的电脉冲。该自适应数据获取电路还包括用于对放大器产生的放大的电脉冲计数的计数电路(28)。另外，该自适应数据获取电路还包括数字逻辑电路(30)，该数字逻辑电路(30)用于确定表示脉冲率和在放大的电脉冲中存在的能量的量的脉冲参数，还用于响应于该脉冲参数生成控制信号(34)，来控制该数据获取电路的操作参数。
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公开(公告)号：CN102483462B
公开(公告)日：2017-04-12
申请号：CN201080039569.9
申请日：2010-08-03
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01T1/24
CPC classification number: H01L31/115 , H01L31/1185
Abstract: 辐射检测器包括：半导体晶体，其具有第一表面和与该第一表面相对的第二表面；第一电极，其与该半导体晶体的该第一表面电耦合来允许电流在该第一电极与该晶体之间流动；以及在该第一表面上并且在该半导体晶体和该第一电极之间以便在该第一电极和该晶体之间形成部分透射的电阻挡的绝缘层。该绝缘层具有范围在大约50纳米至大约500纳米之间的厚度。
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