公开(公告)号：CN106501606B

公开(公告)日：2018-11-23

申请号：CN201610841946.X

申请日：2016-09-22

Applicant: 西安空间无线电技术研究所

Inventor： 白春江 ,  崔万照 ,  王瑞 ,  叶鸣 ,  赵小龙

IPC: G01R27/02

Abstract: 一种确定不同压强下接触界面收缩电阻的方法，它包括通过测量仪器对接触界面进行局部统计观察，获得表征实际表面形貌的微凸体的信息，包括微凸体高度数量分布形式、微凸体高度标准差、微凸体面密度、微凸体曲率半径，使用这些信息最终得到接触界面在不通过压强下的收缩电阻。本发明能够跟踪获得表面的每一个微凸体的在不同压强下的状态及变化信息，可适用于任何形式的微凸体高度分布，不仅能计算的直流情况的收缩电阻，也能计算交流情况的接触界面的收缩电阻。本发明的结果可用于微波部件接触界面的等效电路模型的研究，为研究微波部件无源互调的非线性机理提供支撑。

公开(公告)号：CN106501606A

公开(公告)日：2017-03-15

申请号：CN201610841946.X

申请日：2016-09-22

Applicant: 西安空间无线电技术研究所

Inventor： 白春江 ,  崔万照 ,  王瑞 ,  叶鸣 ,  赵小龙

IPC: G01R27/02

CPC classification number: G01R27/02

Abstract: 一种确定不同压强下接触界面收缩电阻的方法，它包括通过测量仪器对接触界面进行局部统计观察，获得表征实际表面形貌的微凸体的信息，包括微凸体高度数量分布形式、微凸体高度标准差、微凸体面密度、微凸体曲率半径，使用这些信息最终得到接触界面在不通过压强下的收缩电阻。本发明能够跟踪获得表面的每一个微凸体的在不同压强下的状态及变化信息，可适用于任何形式的微凸体高度分布，不仅能计算的直流情况的收缩电阻，也能计算交流情况的接触界面的收缩电阻。本发明的结果可用于微波部件接触界面的等效电路模型的研究，为研究微波部件无源互调的非线性机理提供支撑。