一种基于Virtex5器件的位流文件解析方法及定时刷新方法

    公开(公告)号:CN107945827B

    公开(公告)日:2020-09-18

    申请号:CN201711028717.7

    申请日:2017-10-29

    Abstract: 一种基于Virtex5器件的位流文件解析方法及定时刷新方法,其中解析方法步骤如下:(1)对Virtex5型至少8个系列的器件进行底层架构分析,确定每个系列器件的资源类型;(2)对每个系列器件的位流文件帧结构进行分析,确定每帧的bit数以及包含的资源类型、大小、位置,计算位流文件的总bit数;(3)根据步骤(1)、(2)的结果,通过ISE生成Virtex5型对应系列器件的位流文件,根据生成的位流文件的总bit数与步骤(2)中计算的总bit数进行比较,判断步骤(1)(2)的分析是否准确,若准确执行步骤(4),否则重新从步骤(1)开始分析;(4)针对每个系列的器件,根据位流文件的总bit数构建以资源类型长度为未知数的多元方程,得到一个多元方程组,求解该方程组,得到资源类型的大小。

    基于SMIC 65nm商用工艺的抗SEU和SET的DICE触发器设计方法

    公开(公告)号:CN109450407A

    公开(公告)日:2019-03-08

    申请号:CN201811101647.8

    申请日:2018-09-20

    Abstract: 本发明公开了一种基于SMIC 65nm商用工艺的抗SEU和SET的DICE触发器设计方法,首先使用堆叠CMOS电路替代DICE触发器上的输入电路,实现输入电路的抗SET加固设计;然后对DICE触发器上的主锁存器和从锁存器进行处理,减小SET脉冲宽度和电荷共享效应的作用距离,实现抗SEU加固;最后使用C-element电路替代DICE触发器上的输出电路,以滤除锁存器中传播到输出端的SET。本发明采用堆叠CMOS电路、C-element电路配合填充MOS管和源隔离MOS管实现DICE触发器的电路设计,可靠性高,解决了使用延迟滤波电路实现SET加固带来过大时序开销的问题,有效提高了DICE触发器抗SEU和SET的能力,达到了预期的防护效果,实现代价小。

    一种随机存储器的周期性自检错恢复方法

    公开(公告)号:CN103680639B

    公开(公告)日:2016-08-24

    申请号:CN201310635260.1

    申请日:2013-11-29

    Abstract: 一种随机存储器的周期性自检错恢复方法,可对随机存储器进行容错和纠错设计。方法首先将随机存储器进行冗余处理,设计判决模块对冗余的输出结果进行三取二判决和一致性比较,判决结果做为纠错输入,一致性比较结果作为纠错使能。同时地址产生模块周期性产生存储器读取地址实现检错控制。本发明可为易由于外因(例如空间辐射环境)而产生错误的随机存储器提供一种检错和纠错的方法,改变传统冗余容错技术的错误累积失效问题,纠错能力不受纠检错算法限制,有效的对存储器进行防护。

    一种基于时钟沿的单粒子翻转自检纠错电路

    公开(公告)号:CN105141302A

    公开(公告)日:2015-12-09

    申请号:CN201510439168.7

    申请日:2015-07-24

    Abstract: 本发明提出一种基于时钟沿的单粒子翻转自检纠错电路,实现错误自检纠错的电路。该电路在时序逻辑电路的D触发器输出信号端分别设置时钟沿跳变检测模块、基于时钟延迟模块延迟后的触发器输出翻转检测模块,并分别完成对输出信号是否发生单粒子翻转的检测和对应输出信号的时钟跳变沿的检测,随后通过单粒子翻转检测模块得到是否在时钟周期的跳变沿发生单粒子发生翻转的检测结果,最终将检测结果输入多路输出选择器实现对单粒子翻转造成的输出信号错误的纠正,进而大大提高电路的稳定性和可靠性。

    一种阻值调节带隙电压电流基准源电路

    公开(公告)号:CN104914917A

    公开(公告)日:2015-09-16

    申请号:CN201510279042.8

    申请日:2015-05-27

    Abstract: 本发明涉及一种阻值调节带隙电压电流基准源电路,属于CMOS模拟电路设计技术领域。该基准源电路中的启动电路的存在避免了电路进入零点从而保证了电路正常工作;该基准源电路中使用cascade结构,基准源电路两臂对称性好,在电源偏置及工艺偏差情况下不会较大的引入电路失调;利用Q3的负温飘系数进行补偿,基准电压的温飘系数较小;加入了电阻调节电阻,使得电阻值可控,降低了工艺偏差带来的风险;通过一个带隙结构同时提供了基准电压与基准电流的基准源。

    一种缓解检测冲突的单粒子软错误防护设计方法

    公开(公告)号:CN111221670B

    公开(公告)日:2023-03-28

    申请号:CN201911001645.6

    申请日:2019-10-21

    Abstract: 本发明涉及一种缓解检测冲突的单粒子软错误防护设计方法:(1)将待处理程序系统划分成模块节点,确定状态跳转无向连通图;(2)设置前驱节点的对等标签存储位,根据预先设置的规则,利用对等标签区分后继节点存在的状态跳转命名冲突;(3)确定状态跳转无向连通图中的长、圈以及对应的模块节点;(4)根据圈中模块节点数目的奇偶性结合图论定义,确定产生对等标签分配互斥情况的圈,并在该圈内,任选一个节点在其与前驱模块节点之间插入与功能无关的模块节点,形成迹并得到新的状态跳转无向连通图;(5)重构状态跳转执行流图;(6)通过插入比较检测错误指令的方式进行状态跳转错误检测,对发生状态跳转故障的模块节点进行故障恢复。

    一种基于粒子滤波模型的单粒子功能中断截面评估方法

    公开(公告)号:CN109283456B

    公开(公告)日:2021-02-09

    申请号:CN201811075380.X

    申请日:2018-09-14

    Abstract: 一种基于粒子滤波模型的单粒子功能中断截面评估方法,通过下述方式实现:进行重粒子加速辐照试验,统计对应LET0值离子辐照下,平均一次功能中断的离子注量率L0和平均一次功能中断累积辐照总注量N0,并作为基准数据;同时,利用配置存储区回读机制,统计平均试验中平均翻转的bit数,记为i0;假设在预评估LET1值下,辐照试验的重离子注量率设为L1,建立粒子滤波模型,预估发生SEU次数的期望值定义系统等效的功能耦合因子为λ,λ表示系统发生任意单bit翻转时候,造成系统功能出错的概率;根据λ的定义,对系统功能中断截面σsys进行等效;根据上述预估的发生SEU次数的期望值以及基准数据,评估未知LET1值下的系统功能中断截面。

    一种用于单粒子软错误故障传播分析的分布式信号拓扑关系构建方法

    公开(公告)号:CN106326553B

    公开(公告)日:2019-09-06

    申请号:CN201610710113.X

    申请日:2016-08-23

    Abstract: 本发明涉及一种用于单粒子软错误故障传播分析的分布式信号拓扑关系构建方法,属于系统单粒子软错误可靠性评估技术领域。本发明的方法基于XDL网表信息中硬件资源构建下的电路节点和对应的信号间级联信息,提出了对电路节点间信号级联信息的级联前向搜索解析方法,构建系统中电路节点间的有向传播拓扑关系,完成了在不同类型硬件资源间的电路信号传播关系分析;同时,根据XDL网表文件所反映出的电路连接与控制配置位信息关联,本发明的方法提出配置信息匹配法则,解析并构建电路节点在资源映射下的内部信号传输关系输路径,完成特定类型的硬件资源下的电路信号传播关系分析。

    一种基于粒子滤波模型的单粒子功能中断截面评估方法

    公开(公告)号:CN109283456A

    公开(公告)日:2019-01-29

    申请号:CN201811075380.X

    申请日:2018-09-14

    Abstract: 一种基于粒子滤波模型的单粒子功能中断截面评估方法,通过下述方式实现:进行重粒子加速辐照试验,统计对应LET0值离子辐照下,平均一次功能中断的离子注量率L0和平均一次功能中断累积辐照总注量N0,并作为基准数据;同时,利用配置存储区回读机制,统计平均试验中平均翻转的bit数,记为i0;假设在预评估LET1值下,辐照试验的重离子注量率设为L1,建立粒子滤波模型,预估发生SEU次数的期望值定义系统等效的功能耦合因子为λ,λ表示系统发生任意单bit翻转时候,造成系统功能出错的概率;根据λ的定义,对系统功能中断截面σsys进行等效;根据上述预估的发生SEU次数的期望值以及基准数据,评估未知LET1值下的系统功能中断截面。

    一种实现可变LET值的系统功能中断截面自适应拟合方法

    公开(公告)号:CN107918097A

    公开(公告)日:2018-04-17

    申请号:CN201710984897.X

    申请日:2017-10-20

    Abstract: 一种实现可变LET值的系统功能中断截面自适应拟合方法,包括在饱和LET阈值范围内,对电路内部电路模块防护设计架构下的任意LET值系统功能中断截面拟合以及针对系统级防护架构下的定点LET值系统功能中断截面拟合两部分;两部分内容均利用已知试验数据,在饱和LET阈值内,拟合得到指定LET值下的系统功能中断截面值,减少通过单粒子辐照试验获取数据的依赖性,可缓解试验机时供需紧张问题,优化了单粒子试验过程,提升了系统抗SEU评估效率。

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