加工半导体晶片的方法和覆盖半导体晶片的保护覆盖件

    公开(公告)号:CN107634003B

    公开(公告)日:2021-05-14

    申请号:CN201710576245.2

    申请日:2017-07-14

    Abstract: 根据不同的实施方式,方法能够包括:加工半导体晶片(102,202),所述半导体晶片具有第一主工艺侧(102t)和第二主工艺侧(102b),所述第二主工艺侧与所述第一主工艺侧(102t)相对置;其中半导体晶片(102,202)在第一主工艺侧(102t)上具有至少一个电路区域(102s),所述电路区域具有至少一个电子电路。根据不同的实施方式,用于加工半导体晶片(102,202)的方法能够包括:形成至少部分地包围至少一个电路区域(102s)的加固结构(106),所述加固结构加固半导体晶片(102,202),其中加固结构(106)至少在至少一个电路区域(102s)的一部分之上具有留空部(106a);从第二主工艺侧(102b)起打薄具有加固结构(106)的半导体晶片(102,202)。

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