一种降低外延片翘曲程度的方法及装置

    公开(公告)号:CN117711935A

    公开(公告)日:2024-03-15

    申请号:CN202311711095.3

    申请日:2023-12-13

    IPC分类号: H01L21/324 H01L21/67

    摘要: 本申请提供一种降低外延片翘曲程度的方法及装置,该方法包括在退火步骤之前,采集第一参数对应的第一历史参数值,以及采集第二参数对应的第二历史参数值;对第一历史参数值及第二历史参数值进行拟合,得到第一参数与第二参数的第一拟合关系;将第二参数的第一标准值代入第一拟合关系中,得到第一参数的第二标准值;采集第一参数对应的第一实时参数值;基于第一实时参数值及第二标准值,计算退火步骤对应的目标退火温度的数值;以目标退火温度执行退火步骤。该方法可以基于当前生产过程中外延片的实际翘曲程度,以及结合此前已完成生产的历史外延片的翘曲程度,确定退火步骤的退火温度,以降低当前生产的外延片的翘曲程度,提升外延片良率。

    一种微LED及其制备方法
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN113410364B

    公开(公告)日:2022-11-25

    申请号:CN202110675865.8

    申请日:2021-06-18

    摘要: 本发明揭示了一种微LED及其制备方法。微LED包括衬底、外延层、电流阻挡层、透明导电层、第一金属pad、第二金属pad、绝缘层、DBR反射层、第一金属电极及第二金属电极。绝缘层设置于所述透明导电层上,且包覆所述透明导电层除去所述第一金属pad的区域。本发明的微LED在透明导电层与DBR反射层之间增加了一层绝缘层,绝缘性更佳,能够改善第一金属pad与第二金属pad之间的漏电,并且,进一步的,绝缘层为通过PVD技术镀膜而成的AlN层,如此条件制备而得的AlN层拥有较好的膜质密度,能起到更好的绝缘性,杜绝第一金属pad和第二金属pad之间的漏电,同时增强DBR反射层和透明导电层之间的粘附效果,从而提升微LED的可靠性。

    一种图形化衬底、其制备方法及具有其的LED

    公开(公告)号:CN113851565A

    公开(公告)日:2021-12-28

    申请号:CN202111295833.1

    申请日:2021-11-03

    摘要: 本发明揭示了一种图形化衬底、其制备方法及具有其的LED。所述制备方法包括步骤S1:提供一衬底;步骤S2:于衬底上进行第一次蚀刻,得到具有第一图案的凸起的第一图形化衬底;步骤S3:于第一图形化衬底的第一图案间C面相邻图形间底座间隙进行第二次蚀刻,得到具有第二图案的凹坑,形成具有第一图案及第二图案的第二图形化衬底。本发明二次蚀刻的倒图形化凹坑可以增加外延层在C面(相邻图形间底座间隙)上生长时间,应力得到释放,且倒图形化凹坑侧壁是非极性面,降低位错密度,提高其上生长外延层晶格质量;并且,还能增加光反射,提升出光率,从而提升外量子效率。

    一种CVD管路及具有其的CVD装置

    公开(公告)号:CN113235070A

    公开(公告)日:2021-08-10

    申请号:CN202110586029.2

    申请日:2021-05-27

    IPC分类号: C23C16/455 C23C16/18

    摘要: 本发明揭示了一种CVD管路及具有其的CVD装置。所述CVD管路用于供应待在CVD工艺中使用的气体,所述CVD管路壁设置加热装置。由于Alkyl H2管路气体的气动阀会经常开关,造成Alkyl H2管路内壁上会有MO源附着,故本发明于CVD管路壁上增加加热装置,能够保证CVD管路的壁温到达一定的温度,从而MO源始终保持稳定的状态,不会在CVD管路的壁上附着,并且,也不会在某一节点载气带入现有技术中可能附着的MO源,从而保证产品表面涂层分布均匀。

    一种固态原材料源瓶及具有其的CVD装置

    公开(公告)号:CN113186513A

    公开(公告)日:2021-07-30

    申请号:CN202110600189.8

    申请日:2021-05-31

    IPC分类号: C23C16/448

    摘要: 本发明揭示了一种固态原材料源瓶及具有其的CVD装置。固态原材料源瓶用于CVD制程中提供固态原材料,所述固态原材料源瓶具有至少一层镂空挡板,所述至少一层镂空挡板悬设于所述固态原材料源瓶的内壁上。本发明于固态原材料源瓶中设置镂空挡板,载气会受到镂空挡板的阻挡,会有部分的载气行进到固态原材料源瓶的侧壁及底面,从而保证在整个使用周期内,载气会到达固态原材料源瓶的各个部位,即载气与固态原材料源的接触面积较大(例如大于S1),达到一个稳定的源物质量的最大值,如此,源效率在整个周期会保持平稳,从而利于生产监控。

    一种用于EL测试系统的稳定且无损的外延片电性能测试装置及方法

    公开(公告)号:CN117783803A

    公开(公告)日:2024-03-29

    申请号:CN202311809846.5

    申请日:2023-12-27

    IPC分类号: G01R31/26 G01R1/02 G01R1/04

    摘要: 本发明公开了一种用于EL测试系统的稳定且无损的外延片电性能测试装置及方法,包括电流源、与电流源连接的P极测试探针和N极测试电极;P极测试探针为可伸缩式P极测试探针,包括壳体,壳体内安装有导电弹簧,弹簧一端固定在壳体顶端并通过导线连接电流源,另一端连接P极测试电极,P极测试电极通过马达控制移动直接接触待测外延片表面;N极测试电极为柔性导电材质制成的环形N极测试电极,环形N极测试电极包覆在外延片侧壁裸露的N层上并通过导线连接电流源。通过装置进行测试的EL结果稳定、可靠,经过验证可作为判定外延片性能的标准,可以取消快测流程,缩短在制周期,避免异常发现不及时,并可准确赋以每片外延片电性等级。

    一种半导体发光元件的外延结构及制备方法

    公开(公告)号:CN117613163B

    公开(公告)日:2024-03-22

    申请号:CN202410090520.X

    申请日:2024-01-23

    摘要: 本申请涉及半导体技术领域,尤其涉及一种半导体发光元件的外延结构及制备方法,该外延结构包括多量子阱层;沉积在多量子阱层上的空穴提供层;空穴提供层包括由下至上依次沉积的第一电子阻挡层、第一SiC层、LTpGaN层、第二电子阻挡层、第二SiC层及HTpGaN层;其中,第一电子阻挡层及第二电子阻挡层的材料为AlN和AlGaN中的一种或者两种;LTpGaN层及HTpGaN层的材料为掺杂有镁Mg元素的GaN和掺杂有镁Mg元素的AlGaN中的一种或者两种。该外延结构可以形成低势垒层,以起到聚集空穴的作用,同时,由于该外延结构为无In结构,不会影响出光效率,可以提升发光元件的亮度。

    一种LED复合封装材料及其制备方法

    公开(公告)号:CN117106286B

    公开(公告)日:2024-03-22

    申请号:CN202311354446.X

    申请日:2023-10-19

    摘要: 本发明涉及一种LED复合封装材料及其制备方法,所述LED复合封装材料包括如下质量份数的成分:双酚A型环氧树脂20‑25份、海因环氧树脂15‑20份、改性碳化硅2‑4份、无机填料5‑8份、固化剂5‑10份、抗氧化剂3‑5份、稀释剂10‑15份;其中,所述改性碳化硅为没食子酸改性硅烷偶联剂与碳化硅反应所得。本发明采用没食子酸改性硅烷偶联剂与碳化硅进行反应,提高了组分的反应活性以及相容性,同时与环氧树脂、海因环氧树脂等成分复配,得到具有较好稳定性、机械性能优异的LED复合封装材料,克服了现有技术中存在的缺陷,具有良好的应用前景。