流体分析仪
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101223439B

    公开(公告)日:2012-01-18

    申请号:CN200680026116.6

    申请日:2006-07-06

    CPC classification number: G01N27/4143 G01N33/497

    Abstract: 一种气体分析仪(12)包括晶体管(1),所述晶体管在其栅极(2)和其基于有机半导体(6)的导电沟道之间具有腔(7)。在工作时,来自被引入所述腔(7)的气体样本的成分可以被吸收到所述有机半导体(6)的暴露的吸收敏感的表面部分上。检测器(13)检测由吸收在所述暴露表面部分上的成分导致的晶体管阈值电压的变化。响应于对该变化检测,检测器生成表示所述样本中的所述成分的浓度的测量信号。

    流体分析仪
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101223439A

    公开(公告)日:2008-07-16

    申请号:CN200680026116.6

    申请日:2006-07-06

    CPC classification number: G01N27/4143 G01N33/497

    Abstract: 一种流体分析仪(12)包括晶体管(1),所述晶体管在其栅极(2)和其基于有机半导体(6)的导电沟道之间具有腔(7)。在工作时,来自被引入所述腔(7)的流体样本的成分可以被吸收到所述有机半导体(6)的暴露的吸收敏感的表面部分上。检测器(13)检测由吸收在所述暴露表面部分上的成分导致的晶体管阈值电压的变化。响应于对该变化检测,检测器生成表示所述样本中的所述成分的浓度的测量信号。

    用于感测应用的有机场效应晶体管

    公开(公告)号:CN101454659A

    公开(公告)日:2009-06-10

    申请号:CN200780019951.1

    申请日:2007-05-10

    CPC classification number: G01N27/414 H01L51/0545

    Abstract: 本发明涉及一种场效应晶体管,其包括:栅电极层,第一电介质层,源电极,漏电极,有机半导体和第二电介质层,其中第一电介质层位于栅电极层上,源电极,漏电极和有机半导体位于第一电介质层上,源电极和漏电极与有机半导体接触,其中第二电介质层放置于源电极、漏电极和有机半导体的组件上,且其中,在场效应晶体管工作期间,包括栅电极层和第一电介质层的组件的电容低于第二电介质层的电容。本发明还涉及一种包括这种场效应晶体管的传感器系统以及将根据本发明的传感器系统用于检测分子。

Patent Agency Ranking