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    轴向热压方法
    2.
    发明授权
    轴向热压方法 失效

    公开(公告)号：CN101573309B8

    公开(公告)日：2013-07-24

    申请号：CN200780046903.1

    申请日：2007-12-19

    Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

    Inventor： G·蔡特勒 ,  H·施赖讷马赫尔 ,  C·R·龙达

    IPC: C04B35/547 ,  C04B35/645 ,  C04B35/50 ,  C09K11/84

    Abstract: 一种用于烧结陶瓷粉末、尤其是掺杂的Gd2O2S的轴向热压方法，包括以下步骤：将第一多孔体(7)、陶瓷粉末(9)和第二多孔体(7)放入由支撑件(13，14)支撑的型壳(5)中。陶瓷粉末(9)位于多孔体(7)之间。气态组分被从陶瓷粉末(9)中抽出，达到小于0.8bar的环境压力。多孔体(7)和陶瓷粉末(9)被加热到至少900℃的最高温度、并且被施加压力达到至少75MPa的最大压力。根据本发明，加热步骤的时间变化与施加压力步骤的时间变化被相互调整，使得所述型壳(5)被所述多孔体(7)和/或所述陶瓷粉末(9)保持在相对于所述支撑件(13，14)的分开状态。

    用于探测X射线辐射的装置、成像设备和方法
    3.
    发明授权
    用于探测X射线辐射的装置、成像设备和方法 失效

    公开(公告)号：CN101529274B

    公开(公告)日：2012-07-04

    申请号：CN200780039419.6

    申请日：2007-10-22

    Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

    Inventor： R·斯特德曼 ,  G·蔡特勒 ,  C·赫尔曼 ,  C·博伊默

    IPC: G01T1/17

    CPC classification number: G01T1/17

    Abstract: 本发明涉及用于探测X射线光子，尤其是计算机断层摄影设备中的光子(32、34)的装置(10)、成像设备和方法。将光子(32、34)转换成电脉冲，并采用鉴别器(20)将其与阈值进行比较。执行这些功能的电网络(12)包括开关元件(28)，所述开关元件能够改变处理信号沿其传输的电路径(22)。由电路径(22)的电状态导出用于起动开关元件(28)的触发信号(VT)。如果探测到了与光子(32、34)相关的脉冲，那么将起动开关元件(28)，从而避免源自于第一光子(32)的电荷脉冲的处理受到后续的第二光子(34)的影响。

    用于确定计数结果的处理电子器件和方法以及用于X射线成像设备的探测器
    4.
    发明公开
    用于确定计数结果的处理电子器件和方法以及用于X射线成像设备的探测器 有权

    公开(公告)号：CN102124372A

    公开(公告)日：2011-07-13

    申请号：CN200880108832.8

    申请日：2008-09-23

    Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

    Inventor： C·博伊默 ,  G·蔡特勒 ,  K·J·恩格尔 ,  C·赫尔曼 ,  R·斯特德曼布克

    IPC: G01T1/16

    CPC classification number: G01T1/17

    Abstract: 本发明涉及一种用于X射线成像设备(14)的探测器(12)的处理电子器件(18)，所述处理电子器件(18)包括具有至少一个计数输出(30)的脉冲计数器部分(22)以及具有强度输出(32)的积分器部分(24)，其中，所述处理电子器件(18)适于以这样的方式连接到传感器(16)，使得由所述脉冲计数器部分(22)、由所述积分器部分(24)或者由这两者对到达所述传感器(16)的X射线光子(58)进行处理，并且其中，所述处理电子器件(18)包括处理器(34)，所述处理器(34)适于连接到所述计数输出(30)以及连接到所述强度输出(32)，并且适于输出考虑了在所述计数输出(30)获取的计数信息(N)和在所述强度输出(32)获取的强度信息(I)的计数结果(K)，从而使得所述计数结果(K)包含从所述脉冲计数器部分(22)获取的信息(N)以及从所述积分器部分(24)获取的信息(M)。本发明还涉及用于探测器(12)的对应探测器元件(10)、X射线成像设备(14)、用于确定来自探测器元件(10)的计数结果(K)的方法、计算机程序、数据载体以及用于X射线成像设备(14)的探测器(12)。

    对X射线光子进行计数的装置、成像设备和方法
    5.
    发明公开
    对X射线光子进行计数的装置、成像设备和方法 无效

    公开(公告)号：CN101622551A

    公开(公告)日：2010-01-06

    申请号：CN200880006243.9

    申请日：2008-02-22

    Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

    Inventor： C·博伊默 ,  C·赫尔曼 ,  R·斯特德曼布克 ,  G·蔡特勒

    IPC: G01T1/17 ,  G01T1/29

    CPC classification number: G01T1/17 ,  G01T1/2985

    Abstract: 本发明涉及对X射线光子(12、14)，特别是计算机断层成像中的光子进行计数的装置(10)。将来自第一光子感应元件(20)的事件记录在第一积分器(24)中，并将来自第二光子感应元件(22)的事件记录在第二积分器(26)中。提供第一求和单元(28)，用于对来自第一和第二积分器(24、26)的值以及结果信号进行求和，以获得总和，其中从设有总和的反馈设备(30)中获得所述结果信号。有可能降低撞击光子(12、14)生成的总信息密度，使得在输出端(34)呈现具有降低信息密度(或降低数据速率)的数据流。本发明还涉及基于对X射线光子(12、14)进行探测的、特别是用于医疗用途的成像设备(16)，以及涉及对X射线光子(12、14)，特别是计算机断层成像中的光子进行计数的方法。

    用于X射线发生器系统的包括级联的两个电压源的电源
    8.
    发明授权
    用于X射线发生器系统的包括级联的两个电压源的电源 有权

    公开(公告)号：CN101507369B

    公开(公告)日：2013-03-27

    申请号：CN200780031823.9

    申请日：2007-08-21

    Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

    Inventor： C·勒夫 ,  G·福格特米尔 ,  G·蔡特勒

    IPC: H05G1/12

    CPC classification number: H05G1/10

    Abstract: 公开了一种用于产生高输出电压的电源，该电源用于向具有至少一个X射线源(17)的X射线发生器系统供电，尤其是向用于计算机断层摄影(CT)应用的X射线发生器系统供电，其中该高输出电压包括至少两个不同的可快速切换的高输出电压电平(U1；U1±U2)，从而可以利用一个常规的X射线管(17)执行能谱CT测量。此外，还公开了一种包括该电源和至少一个X射线管(17)的X射线管发生器系统以及一种包括该电源的计算机断层摄影(CT)设备。

    用于对X射线光子进行计数的装置、成像设备和方法
    9.
    发明授权
    用于对X射线光子进行计数的装置、成像设备和方法 有权

    公开(公告)号：CN101558325B

    公开(公告)日：2012-07-18

    申请号：CN200780045780.X

    申请日：2007-12-11

    Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

    Inventor： R·斯特德曼布克 ,  C·博伊默 ,  C·赫尔曼 ,  G·蔡特勒

    IPC: G01T1/17

    CPC classification number: G01T1/17 ,  G01T1/2928

    Abstract: 本发明涉及一种用于对X射线光子(12，14)进行计数的装置(10)。该装置(10)包括适于将光子(12，14)转换成电荷脉冲的传感器(16)、适于将电荷脉冲(51)转换成电脉冲(53)的处理元件(18)以及适于将电脉冲(53)与第一阈值(TH1)进行比较并且在超过第一阈值(TH1)时输出事件(55)的第一鉴别器(20)。第一计数器(22)对这些事件(55)进行计数，除非第一门控元件(24)禁止计数。当第一鉴别器(20)输出事件(55)时启用第一门控元件(24)，并且当通过测量或通过关于在处理元件(18)中处理光子(12，14)所需的时间的知识发现对光子(12，14)的处理被完成或即将完成时停用第一门控元件。通过启用和停用第一计数器(22)，可以解决堆积事件，即多个电脉冲(53)的堆积。本发明还涉及相应的成像设备和相应的方法。

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