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公开(公告)号:CN110398769B
公开(公告)日:2024-03-22
申请号:CN201910645070.5
申请日:2009-06-09
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Abstract: 本发明涉及一种辐射探测器(10),包括像素(1)的阵列,其中,每个像素(1)包括用于将入射辐射转换成电信号的半导体材料(4)的转换层,并且其中,每个像素(10)被至少部分填充有阻隔材料的沟槽(3)围绕,所述阻隔材料吸收所述入射辐射生成的光子的至少一部分。本发明还涉及一种制造这种辐射探测器(10)的方法。
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公开(公告)号:CN102413765B
公开(公告)日:2016-09-21
申请号:CN201080018160.9
申请日:2010-02-18
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: A61B6/4208 , A61B6/032 , A61B6/4014 , A61B6/4042 , A61B6/482 , G01T1/20
Abstract: 本发明涉及频谱成像。一种成像系统(100)的探测器阵列(110),包括:辐射敏感探测器(114,116),其探测辐射并生成指示所述辐射的信号。电流‑频率(I/F)转换器(202)将所述信号转换为针对积分时段的脉冲串,所述脉冲串具有指示所述信号的频率。电路(120)基于所述脉冲串生成第一矩和至少一个较高次矩。
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公开(公告)号:CN103314307B
公开(公告)日:2016-04-13
申请号:CN201180064645.6
申请日:2011-12-27
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/17
CPC classification number: G01T1/17
Abstract: 本发明涉及一种用于探测辐射源(2)发射的光子的探测装置(6)。信号发生单元(20)在光子撞击探测装置(6)的同时生成指示探测到的光子的能量的探测信号,在光子被避免撞击探测装置(6)的同时生成基线信号,所述基线信号受到先前撞击探测装置(6)的光子的影响。基线偏移确定单元(40)根据所述基线信号来确定探测信号的基线偏移。能量确定单元(30)根据所述探测信号和所确定的基线偏移来确定所探测的光子的能量。由于探测信号的基线偏移是由在光子被避免撞击检测装置(6)的同时生成的基线信号确定的,因而能够以更高的准确度确定基线偏移,从而得到改善的能量确定。
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公开(公告)号:CN102124372B
公开(公告)日:2014-12-17
申请号:CN200880108832.8
申请日:2008-09-23
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/16
CPC classification number: G01T1/17
Abstract: 本发明涉及一种用于X射线成像设备(14)的探测器(12)的处理电子器件(18),所述处理电子器件(18)包括具有至少一个计数输出(30)的脉冲计数器部分(22)以及具有强度输出(32)的积分器部分(24),其中,所述处理电子器件(18)适于以这样的方式连接到传感器(16),使得由所述脉冲计数器部分(22)、由所述积分器部分(24)或者由这两者对到达所述传感器(16)的X射线光子(58)进行处理,并且其中,所述处理电子器件(18)包括处理器(34),所述处理器(34)适于连接到所述计数输出(30)以及连接到所述强度输出(32),并且适于输出考虑了在所述计数输出(30)获取的计数信息(N)和在所述强度输出(32)获取的强度信息(I)的计数结果(K),从而使得所述计数结果(K)包含从所述脉冲计数器部分(22)获取的信息(N)以及从所述积分器部分(24)获取的信息(M)。本发明还涉及用于探测器(12)的对应探测器元件(10)、X射线成像设备(14)、用于确定来自探测器元件(10)的计数结果(K)的方法、计算机程序、数据载体以及用于X射线成像设备(14)的探测器(12)。
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公开(公告)号:CN102395901B
公开(公告)日:2014-08-27
申请号:CN201080016540.9
申请日:2010-03-15
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/164
CPC classification number: G01T1/1647 , G01T1/2985
Abstract: 一种成像系统包括闪烁体阵列(202)和数字光电倍增器阵列(204)。光子计数通道(212)、积分通道(210)和矩生成通道(214)处理所述数字光电倍增器(204)的输出信号。重建器(122)对第一、第二和第三输出信号进行光谱解析。在一个实施例中,仅在辐射通量低于预定阈值的情况下,控制器(232)激活所述光子计数通道(212)以处理所述数字信号。成像系统包括至少一个直接转换层(302)和至少两个闪烁体层(304)和对应的光电传感器(306)。光子计数通道(212)处理所述至少一个直接转换层(302)的输出,且积分通道(210)和矩生成通道(214)处理所述光电传感器的相应输出。重建器(122)光谱解析所述第一、第二和第三输出信号。
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公开(公告)号:CN102792676A
公开(公告)日:2012-11-21
申请号:CN201180013399.1
申请日:2011-03-04
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Abstract: 一种装置和方法,其用于同步切换第一和第二预定子帧的持续时间内的第一和第二电荷累积部分(31、32)的激活以及第一和第二X射线源的激活,直到经过了针对所述第一和第二电荷累积部分(31、32)的每者的预定时间帧为止,从而根据多个空间分布的X射线源中的相应的一个的起始累积多个时域分布的部分电荷,由此在焦斑位置和用于累积属于同一焦斑位置的相应部分测量结果,例如,时域分布的部分电荷的规则之间建立特定的关系,并且通过仅在根据子帧的有限时间内激活焦斑二使焦斑保持低的温度。
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公开(公告)号:CN102216808A
公开(公告)日:2011-10-12
申请号:CN200980145151.3
申请日:2009-11-09
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: G01T1/249 , G01T1/247 , G01T1/2928
Abstract: 本发明涉及一种辐射检测器(100),其包括转换器元件(113),所述转换器元件具有用于对入射辐射(X)生成的电信号进行采样的第一电极(121)的阵列(120)。利用连接电路(130),至少两个第一电极(121)能够根据给定的连接模式(CP1)选择性地耦合至公共读出单元(141)。从而能够使沿入射辐射(X)的路径的有效像素尺寸适应于电信号的分布,电信号的分布通常由入射辐射的光谱组成确定。
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公开(公告)号:CN1879339B
公开(公告)日:2010-08-18
申请号:CN200480033154.5
申请日:2004-11-03
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor: C·赫尔曼
CPC classification number: H04L1/1812 , H04L1/1832 , H04L1/187 , H04L1/1887 , H04L2001/0096 , H04L2001/0098
Abstract: 利用属性“优先权”为通过HS-DSCH发送的RLC控制PDU实现更强的FEC也需要优先化的处理,从而RLC控制PDU可能检修RLC数据PDU。由于RLC协议操作依赖于控制和数据PDU的循序传输,所以它可能受到严重的干扰。根据本发明的示范性实施例,提供可以传输数据分组的两种类型容器,其中第一类型容器带有比第二类型容器更强的错误编码,其中包括控制指令的数据分组仅仅在具有更强纠错类型的第一容器中被传输。由此,可以提供改进的用于UMTS的AM RLC协议的控制PDU的前向纠错。
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公开(公告)号:CN101796429A
公开(公告)日:2010-08-04
申请号:CN200880105812.5
申请日:2008-09-05
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Abstract: 本发明涉及特别用于X射线(X)和γ射线的辐射探测器(100),其包括以下部件的组合:(a)对于光子具有低衰减系数的至少一个初级转换层(101a-101f)以及(b)对于光子具有高衰减系数的至少一个次级转换层(102)。在优选实施例中,初级转换层(101a-101f)可以由与相关联的能量分辨计数电子设备(111a-111f,121)耦合的硅层实现。次级转换层(102)可以例如由与能量分辨计数电子设备或积分电子设备耦合的CZT或GOS实现。利用具有低阻止本领的初级转换层允许构建用于谱CT的堆叠式辐射探测器(100),其中将这些层的计数率限制为可行的值,而无需不现实的薄层。
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公开(公告)号:CN101680954A
公开(公告)日:2010-03-24
申请号:CN200880017990.2
申请日:2008-05-22
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/17
CPC classification number: G01T1/171
Abstract: 一种装置包括定标因子确定器(236),其基于针对能量阈值测量的探测到的光子的数量的计数以及估计的探测到的光子的所述数量的实际计数确定计数定标因子。所述光子包括由辐射敏感探测器探测到的多能光子。该装置还包括计数定标器(136),其使用所述计数定标因子以针对不同能量阈值对测量的探测到的光子的计数进行定标。
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