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公开(公告)号：CN109084931B
公开(公告)日：2020-05-01
申请号：CN201810794796.0
申请日：2018-07-19
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 一种传感器失调校准方法，属于模拟集成电路技术领域。基于由粗校准模块、细校准模块、ADC和逻辑模块构成的校准系统，通过多次粗校准和细校准产生最终的粗校准码和细校准码，其中每一次校准时，将待校准的失调电压经过校准系统得到ADC的输出码，并将每一次得到的ADC的输出码通过逻辑模块产生每一次的粗校准码和细校准码反馈回校准系统得到更精确的粗校准码和细校准码；最后根据最终的粗校准码和细校准码得到校准失调电压，将待校准的失调电压减去产生的校准失调电压即完成失调电压的校准。本发明可以有效的消除失调电压，提高系统精度，可以适用于压力传感器的读出电路。
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公开(公告)号：CN109104157A
公开(公告)日：2018-12-28
申请号：CN201810794785.2
申请日：2018-07-19
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 一种自调零运算放大器，属于模拟集成电路技术领域。包括运算放大模块和自调零模块，运算放大模块包括一对差分输入对管，差分输入对管的栅极分别作为自调零运算放大器的正向输入端和负向输入端，运算放大模块的输出端作为自调零运算放大器的输出端；自调零模块通过控制各个开关管的导通和关断控制自调零运算放大器的输出信号、共模信号和电源电压接入自调零模块，利用电容的充放电实现自调零功能，提高了运算放大器的精度；一些实施例中通过增加使能模块用于降低运算放大器的功耗，使用动态电容补偿调节保证了运算放大器的稳定性；本方法提出的自调零运算放大器可以用于可编程增益运算放大器中实现其自身的失调校准。
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公开(公告)号：CN109104157B
公开(公告)日：2021-04-02
申请号：CN201810794785.2
申请日：2018-07-19
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 一种自调零运算放大器，属于模拟集成电路技术领域。包括运算放大模块和自调零模块，运算放大模块包括一对差分输入对管，差分输入对管的栅极分别作为自调零运算放大器的正向输入端和负向输入端，运算放大模块的输出端作为自调零运算放大器的输出端；自调零模块通过控制各个开关管的导通和关断控制自调零运算放大器的输出信号、共模信号和电源电压接入自调零模块，利用电容的充放电实现自调零功能，提高了运算放大器的精度；一些实施例中通过增加使能模块用于降低运算放大器的功耗，使用动态电容补偿调节保证了运算放大器的稳定性；本方法提出的自调零运算放大器可以用于可编程增益运算放大器中实现其自身的失调校准。
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公开(公告)号：CN109150183B
公开(公告)日：2020-10-27
申请号：CN201811054012.7
申请日：2018-09-11
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 基于亚稳态检测的SAR‑ADC的电容失配校准方法，属于模拟集成电路技术领域。首先确定SAR ADC的输出码字和亚稳态标志码字；然后从输出码字中的第M+1位输出码字开始直到最高位即第N位输出码字为止，按照从低位到高位的顺序依次计算每一位输出码字对应的误差码字；最后将输出码字减去输出码字中从第M+1位输出码字到第N位输出码字的每一位输出码字对应的误差码字，得到经过失配校准后的SAR ADC的校准输出码字。本发明提出的校准方法能够适用于电荷重分配型SAR ADC，用于校准SAR ADC输出码字中由电容失配带来的误差，在保证SAR ADC精度的情况下，SAR ADC的单位电容可以进一步降低，从而进一步降低了SAR ADC的功耗，提高了SAR ADC的速度。
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公开(公告)号：CN109084931A
公开(公告)日：2018-12-25
申请号：CN201810794796.0
申请日：2018-07-19
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 一种传感器失调校准方法，属于模拟集成电路技术领域。基于由粗校准模块、细校准模块、ADC和逻辑模块构成的校准系统，通过多次粗校准和细校准产生最终的粗校准码和细校准码，其中每一次校准时，将待校准的失调电压经过校准系统得到ADC的输出码，并将每一次得到的ADC的输出码通过逻辑模块产生每一次的粗校准码和细校准码反馈回校准系统得到更精确的粗校准码和细校准码；最后根据最终的粗校准码和细校准码得到校准失调电压，将待校准的失调电压减去产生的校准失调电压即完成失调电压的校准。本发明可以有效的消除失调电压，提高系统精度，可以适用于压力传感器的读出电路。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111245413B
公开(公告)日：2023-05-26
申请号：CN202010062295.0
申请日：2020-01-20
Applicant: 电子科技大学
IPC: H03K17/687
Abstract: 一种高速高线性度的栅压自举开关电路，属于模拟电路技术领域。本发明利用第四PMOS管、第八NMOS管和第七NMOS管产生的GN节点信号来对第四NMOS管的栅极进行控制，另外使用同样的信号即GN节点信号对采样开关管的衬底进行控制，使得在采样时采样开关管的衬底电位与栅极电位保持一致，提高了电路的速度；通过减小与采样开关管栅端相连的管子数目，使得采样开关管栅端的寄生电容减小，同时减小了MOS管的二级效应中的体效应，保证了采样开关管的线性度，最终提高了采样开关电路的精度。
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公开(公告)号：CN109150182B
公开(公告)日：2021-10-26
申请号：CN201810988892.9
申请日：2018-08-28
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 一种适用于比较器的亚稳态检测电路，属于模拟集成电路技术领域。包括异步逻辑模块、亚稳态检测模块和亚稳态标志位产生模块，异步逻辑模块用于产生比较器逻辑信号，亚稳态检测模块用于产生第一输出信号，当第一输出信号为1时表示比较器未出现亚稳态，当第一输出信号为0时表示比较器可能出现亚稳态，此时利用亚稳态标志位产生模块进一步检测比较器是否真的出现亚稳态，当亚稳态标志位产生模块输出的第二输出信号为1时表示亚稳态真实，当第二输出信号为0时表示亚稳态不真实。本发明用于检测比较器是否出现亚稳态，避免比较器出现比较时间过长或比较出错的情况，能够适用于高速高精度SAR ADC电路中。
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公开(公告)号：CN108988859B
公开(公告)日：2021-09-07
申请号：CN201810987975.6
申请日：2018-08-28
Applicant: 电子科技大学
IPC: H03M1/06
Abstract: 基于冗余位的比较器失调电压校准方法，属于模拟集成电路技术领域。本发明基于DAC电容阵列包括冗余位电容的SAR ADC，首先利用DAC电容阵列对0采样并量化得到第一量化码字，然后利用DAC电容阵列中的量化电容对输入电压采样并量化得到第二量化码字，将第二量化码字减去第一量化码字与理想量化码字的差值，即可得到经过校准比较器失调电压之后的SAR ADC的输出量化码字，最后将输出量化码字的位数转换为正确位数即完成校准。本发明具有灵活性高、可校准的失调电压范围大和完全保证了SAR ADC的量化范围的特点。
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公开(公告)号：CN111245413A
公开(公告)日：2020-06-05
申请号：CN202010062295.0
申请日：2020-01-20
Applicant: 电子科技大学
IPC: H03K17/687
Abstract: 一种高速高线性度的栅压自举开关电路，属于模拟电路技术领域。本发明利用第四PMOS管、第八NMOS管和第七NMOS管产生的GN节点信号来对第四NMOS管的栅极进行控制，另外使用同样的信号即GN节点信号对采样开关管的衬底进行控制，使得在采样时采样开关管的衬底电位与栅极电位保持一致，提高了电路的速度；通过减小与采样开关管栅端相连的管子数目，使得采样开关管栅端的寄生电容减小，同时减小了MOS管的二级效应中的体效应，保证了采样开关管的线性度，最终提高了采样开关电路的精度。
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公开(公告)号：CN109150183A
公开(公告)日：2019-01-04
申请号：CN201811054012.7
申请日：2018-09-11
Applicant: 电子科技大学
CPC classification number: H03M1/1009 , H03M1/462
Abstract: 基于亚稳态检测的SAR‑ADC的电容失配校准方法，属于模拟集成电路技术领域。首先确定SAR ADC的输出码字和亚稳态标志码字；然后从输出码字中的第M+1位输出码字开始直到最高位即第N位输出码字为止，按照从低位到高位的顺序依次计算每一位输出码字对应的误差码字；最后将输出码字减去输出码字中从第M+1位输出码字到第N位输出码字的每一位输出码字对应的误差码字，得到经过失配校准后的SAR ADC的校准输出码字。本发明提出的校准方法能够适用于电荷重分配型SAR ADC，用于校准SAR ADC输出码字中由电容失配带来的误差，在保证SAR ADC精度的情况下，SAR ADC的单位电容可以进一步降低，从而进一步降低了SAR ADC的功耗，提高了SAR ADC的速度。
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