激光切割用粘合片以及半导体装置的制造方法

    公开(公告)号:CN107148663B

    公开(公告)日:2020-11-06

    申请号:CN201580066761.X

    申请日:2015-10-27

    Abstract: 本发明提供一种透过粘合片照射激光进行的激光切割时,可抑制粘合片上的激光的散射,且在粘合片上易于通过扩张进行芯片分割,并且,可抑制在芯片分割时产生的粉尘的附着,成品率良好的芯片的激光切割用粘合片。本发明提供一种激光切割用粘合片,其特征为基材膜的一侧的面上含有背面层,该背面层含有减摩剂和抗静电剂,另一面具有粘合剂层,所述背面层表面的算数平均粗糙度为Ra为0.1μm以下,所述粘合片在23℃下的拉伸弹性模量为50~200MPa,400~1400nm的波长区域的平行线透射率为85%以上。

    粘合带及加工方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116406410A

    公开(公告)日:2023-07-07

    申请号:CN202180070717.1

    申请日:2021-10-20

    Abstract: 粘合带,其具有基材层和设置于该基材层上的粘合剂层,所述粘合剂层包含光自由基引发剂和具有聚合性碳双键的聚合物A,紫外线照射后的所述粘合剂层的拉伸弹性模量为400MPa以下,紫外线照射后的所述粘合剂层的断裂伸长率为16%以上。

    粘合带及加工方法
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116391004A

    公开(公告)日:2023-07-04

    申请号:CN202180070725.6

    申请日:2021-10-20

    Abstract: 粘合带,其具有基材层、和设置于该基材层上的粘合剂层,前述粘合剂层包含光自由基引发剂、和具有聚合性碳双键的聚合物A,硅晶片表面对水的接触角R0、与在将前述粘合剂层贴附于前述硅晶片并放置24小时后对前述粘合剂层照射紫外线、并将前述粘合剂层剥离后的硅晶片表面对水的接触角R1之差|R0-R1|为20°以下。

    激光切割用粘合片以及半导体装置的制造方法

    公开(公告)号:CN107148663A

    公开(公告)日:2017-09-08

    申请号:CN201580066761.X

    申请日:2015-10-27

    Abstract: 本发明提供一种透过粘合片照射激光进行的激光切割时,可抑制粘合片上的激光的散射,且在粘合片上易于通过扩张进行芯片分割,并且,可抑制在芯片分割时产生的粉尘的附着,成品率良好的芯片的激光切割用粘合片。本发明提供一种激光切割用粘合片,其特征为基材膜的一侧的面上含有背面层,该背面层含有减摩剂和抗静电剂,另一面具有粘合剂层,所述背面层表面的算数平均粗糙度为Ra为0.1μm以下,所述粘合片在23℃下的拉伸弹性模量为50~200MPa,400~1400nm的波长区域的平行线透射率为85%以上。

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