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公开(公告)号:CN101627454B
公开(公告)日:2012-01-11
申请号:CN200880002319.0
申请日:2008-01-15
申请人: 瓦里安半导体设备公司
IPC分类号: H01J37/32
CPC分类号: H01J37/32495 , H01J37/32412 , H01J37/32633
摘要: 提供一种具有金属腔室壁的等离子腔室(102)的等离子源(100),此等离子源(100)包括处理气体。介电窗(120、122)将射频信号传送至等离子腔室中。射频信号激发以及离子化处理气体,从而在等离子腔室中形成等离子。等离子腔室衬套(125)定位于等离子腔室内部,并提供等离子腔室内部的遮蔽,以遮蔽离子撞击等离子腔室的金属壁(102′)而溅镀的金属。
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公开(公告)号:CN101627454A
公开(公告)日:2010-01-13
申请号:CN200880002319.0
申请日:2008-01-15
申请人: 瓦里安半导体设备公司
IPC分类号: H01J37/32
CPC分类号: H01J37/32495 , H01J37/32412 , H01J37/32633
摘要: 提供一种具有金属腔室壁的等离子腔室(102)的等离子源(100),此等离子源(100)包括处理气体。介电窗(120、122)将射频信号传送至等离子腔室中。射频信号激发以及离子化处理气体,从而在等离子腔室中形成等离子。等离子腔室衬套(125)定位于等离子腔室内部,并提供等离子腔室内部的位点线遮蔽,以遮蔽离子撞击等离子腔室的金属壁(102)而溅镀的金属。
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