半导体装置及半导体装置的制造方法

    公开(公告)号:CN105742269B

    公开(公告)日:2019-04-09

    申请号:CN201510881338.7

    申请日:2015-12-03

    Inventor: 重松亮一

    Abstract: 一种半导体装置及半导体装置的制造方法,提高半导体装置的可靠性。半导体装置的制造方法具有以下工序:在相邻的两个密封体(21)间,放入具有与相邻的密封体(21)的间隔大致相等的宽度的夹具(25),从与引线框架(1)的外框(2)相连的基片悬吊引线支撑部(6)切断基片悬吊引线(4)。并且,虽然在基片悬吊引线(4)中形成有切口(5),但该切口(5)配置在与密封体(21)的边(21Y)交叉的位置,在切断基片悬吊引线(4)的工序中,基片悬吊引线(4)在切口(5)的部分被切断。

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