半导体器件
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109584933A

    公开(公告)日:2019-04-05

    申请号:CN201811237850.8

    申请日:2012-08-29

    Abstract: 在半导体器件所具备的非易失性存储器装置(4)中,在基于带间隧穿方式进行的数据擦除时,当满足电荷泵电路(52)的输出电压(VUCP)恢复至规定的基准电压这一条件,以及从开始对擦除对象的存储器单元(MC)供给升压电压(VUCP)起经过了规定的基准时间这一条件时,结束对擦除对象的存储器单元(MC)供给升压电压。

    半导体器件
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109584933B

    公开(公告)日:2023-07-25

    申请号:CN201811237850.8

    申请日:2012-08-29

    Abstract: 在半导体器件所具备的非易失性存储器装置(4)中,在基于带间隧穿方式进行的数据擦除时,当满足电荷泵电路(52)的输出电压(VUCP)恢复至规定的基准电压这一条件,以及从开始对擦除对象的存储器单元(MC)供给升压电压(VUCP)起经过了规定的基准时间这一条件时,结束对擦除对象的存储器单元(MC)供给升压电压。

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