一种超高频宽带准圆极化微带贴片天线

    公开(公告)号:CN101867093A

    公开(公告)日:2010-10-20

    申请号:CN201010199159.2

    申请日:2010-06-12

    Applicant: 湖南大学

    Abstract: 一种超高频宽带准圆极化微带贴片天线,其包括金属辐射单元Ⅰ、金属辐射单元Ⅱ、双T形金属反馈环、平板状绝缘介质基板,金属辐射单元Ⅰ采用U形金属微带贴片形式,金属辐射单元Ⅱ采用非等距折线型金属微带贴片形式,平板状绝缘介质基板设于金属辐射单元Ⅰ和金属辐射单元Ⅱ的下方,双T形金属反馈环处于U形金属微带贴片和非等距折线型金属微带贴片之间,且双T形金属反馈环中心位于U形金属微带贴片和非等距折线型金属微带贴片的中心线上,双T形金属反馈环、U形金属微带贴片和非等距折线型金属微带贴片处于同一平面,天线馈电位置处于双T形金属反馈环末端。本发明具有结构简单,宽带宽,高增益,准圆极化,工作频率可调,易加工、低成本优点。

    基于小波-神经网络的模拟集成开关电流电路测试方法

    公开(公告)号:CN101299055A

    公开(公告)日:2008-11-05

    申请号:CN200810031505.9

    申请日:2008-06-16

    Applicant: 湖南大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于小波—神经网络的模拟集成开关电流电路测试方法。包括以下步骤:针对典型故障情况,选择激励信号,将激励响应输出信号在时域和频域中分别采样作为神经网络训练样本;利用开关电流电路结构特性,采用群组灵敏度分析选择确定测试缺陷点;为降低神经网络的复杂性,采用小波多尺度分解对各类响应数据进行预处理,产生故障细貌后在输入神经网络;神经网络用于将不同的缺陷响应结果分类、识别。测量待测电路的实际电压信号,将其输入训练好的神经网络模型,完成故障测试与识别。本发明的方法用于模拟集成开关电流电路软硬故障及缺陷问题有明显的优势,且有结构简单、速度快,准确率高的优点。

    一种采用免疫蚂蚁算法优化的模拟电路故障诊断方法

    公开(公告)号:CN101231673A

    公开(公告)日:2008-07-30

    申请号:CN200810030586.0

    申请日:2008-02-02

    Applicant: 湖南大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于免疫蚂蚁算法优化的模拟电路故障诊断方法。包括以下步骤:针对典型故障情况,对电路进行仿真得到可及点电压值,作为径向基函数神经网络的训练样本;依据训练样本决定网络输入与输出层节点个数,利用蚂蚁算法优化径向基函数神经网络隐层参数,在蚂蚁算法的信息素更新中,引入免疫机制的进化算法;应用最小二乘法确定径向基函数神经网络输出层权值;用训练样本训练网络,并将训练后的网络参数以及误差存入存储器中;测量待测电路的实际电压信号,将其输入训练好的径向基函数神经网络,径向基函数神经网络的稳态输出即为故障的类型,完成模式识别,实现故障诊断。本发明的模拟电路故障诊断方法速度快,准确率高,泛化能力强。

    一种超高频宽带准圆极化微带贴片天线

    公开(公告)号:CN101867093B

    公开(公告)日:2013-06-05

    申请号:CN201010199159.2

    申请日:2010-06-12

    Applicant: 湖南大学

    Abstract: 一种超高频宽带准圆极化微带贴片天线,其包括金属辐射单元Ⅰ、金属辐射单元Ⅱ、双T型金属反馈环、平板状绝缘介质基板,金属辐射单元Ⅰ采用U型金属微带贴片形式,金属辐射单元Ⅱ采用非等距折线型金属微带贴片形式,平板状绝缘介质基板设于金属辐射单元Ⅰ和金属辐射单元Ⅱ的下方,双T形金属反馈环处于U型金属微带贴片和非等距折线型金属微带贴片之间,且双T型金属反馈环中心位于U型金属微带贴片和非等距折线型金属微带贴片的中心线上,双T型金属反馈环、U型金属微带贴片和非等距折线型金属微带贴片处于同一平面,天线馈电位置处于双T型金属反馈环末端。本发明具有结构简单,宽带宽,高增益,准圆极化,工作频率可调,易加工、低成本优点。

    一种宽带圆极化微带贴片天线

    公开(公告)号:CN101807748B

    公开(公告)日:2012-10-31

    申请号:CN201010145502.5

    申请日:2010-04-13

    Applicant: 湖南大学

    Abstract: 一种宽带圆极化微带贴片天线,其包括金属辐射单元、平板状绝缘介质基板、接地金属板,平板状绝缘介质基板设于金属辐射单元和接地金属板之间,接地金属板上固定有馈电装置,平板状绝缘介质基上设有馈电孔,馈电孔中设有馈电接脚,金属辐射单元和接地金属板通过馈电接脚相互连接,金属辐射单元采用矩形金属微带贴片形式,馈电点即反馈点处于矩形金属微带贴片的中心线上,矩形金属微带贴片的中心线或对角线位置上设有四个相同的从矩形金属微带贴片边沿向矩形金属微带贴片中心延伸的切口,所述矩形金属微带贴片的两对角位置上设有切角,矩形金属微带贴片中心设有圆孔。本发明结构简单,尺寸较小,宽带宽,制造成本低。

    基于小波-神经网络的模拟集成开关电流电路测试方法

    公开(公告)号:CN101299055B

    公开(公告)日:2010-08-25

    申请号:CN200810031505.9

    申请日:2008-06-16

    Applicant: 湖南大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于小波-神经网络的模拟集成开关电流电路测试方法。包括以下步骤:针对典型故障情况,选择激励信号,将激励响应输出信号在时域和频域中分别采样作为神经网络训练样本;利用开关电流电路结构特性,采用群组灵敏度分析选择确定测试缺陷点;为降低神经网络的复杂性,采用小波多尺度分解对各类响应数据进行预处理,产生故障细貌后在输入神经网络;神经网络用于将不同的缺陷响应结果分类、识别。测量待测电路的实际电压信号,将其输入训练好的神经网络模型,完成故障测试与识别。本发明的方法用于模拟集成开关电流电路软硬故障及缺陷问题有明显的优势,且有结构简单、速度快,准确率高的优点。

    一种宽带圆极化微带贴片天线

    公开(公告)号:CN101807748A

    公开(公告)日:2010-08-18

    申请号:CN201010145502.5

    申请日:2010-04-13

    Applicant: 湖南大学

    Abstract: 一种宽带圆极化微带贴片天线,其包括金属辐射单元、平板状绝缘介质基板、接地金属板,平板状绝缘介质基板设于金属辐射单元和接地金属板之间,接地金属板上固定有馈电装置,平板状绝缘介质基上设有馈电孔,馈电孔中设有馈电接脚,金属辐射单元和接地金属板通过馈电接脚相互连接,金属辐射单元采用矩形金属微带贴片形式,馈电点即反馈点处于矩形金属微带贴片的中心线上,矩形金属微带贴片的中心线或对角线位置上设有四个相同的从矩形金属微带贴片边沿向矩形金属微带贴片中心延伸的切口,所述矩形金属微带贴片的两对角位置上设有切角,矩形金属微带贴片中心设有圆孔。本发明结构简单,尺寸较小,宽带宽,制造成本低。

    一种基于独立成分分析技术的射频标签识别方法

    公开(公告)号:CN100585612C

    公开(公告)日:2010-01-27

    申请号:CN200810031140.X

    申请日:2008-04-24

    Applicant: 湖南大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于独立成分分析技术的射频标签识别方法,包括以下步骤:阅读器以广播方式发送查询请求;各标签接到查询命令后,将标签的ID数据信息与DS-CDMA扩频序列PN混合得到该标签的唯一码序列;对混合后的唯一码序列进行ASK调制,然后发送到给阅读器;阅读器将接收的各标签发送来的信号进行ASK解调;对解调出来的ASK信号进行上采样,得到数据样本x(n);对采样得到的数据样本x(n)白化处理,去除信号的二阶相关性,得到处理数据z;利用独立成分分析算法对z进行信号分离,得到可识别的射频标签信号。本发明由于其数据处理流程没有对频率和时间进行分割,所以避免了各用户之间抢占信道所带来的数据碰撞问题。

    一种基于ICA技术的射频标签识别方法

    公开(公告)号:CN101281584A

    公开(公告)日:2008-10-08

    申请号:CN200810031140.X

    申请日:2008-04-24

    Applicant: 湖南大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于ICA技术的射频标签识别方法,包括以下步骤:阅读器以广播方式发送查询请求;各标签接到查询命令后,将标签的ID数据信息与DS-CDMA扩频序列PN混合得到该标签的唯一码序列;对混合后的唯一码序列进行ASK调制,然后发送到给阅读器;阅读器将接收的各标签发送来的信号进行ASK解调;对解调出来的ASK信号进行上采样,得到数据样本x(n);对采样得到的数据样本x(n)白化处理,去除信号的二阶相关性,得到处理数据z;利用ICA算法对z进行信号分离,得到可识别的射频标签信号。本发明由于其数据处理流程没有对频率和时间进行分割,所以避免了各用户之间抢占信道所带来的数据碰撞问题。

    基于改进型BP神经网络的模拟电路软故障诊断方法

    公开(公告)号:CN101231672A

    公开(公告)日:2008-07-30

    申请号:CN200810030585.6

    申请日:2008-02-02

    Applicant: 湖南大学

    Abstract: 本发明涉及一种基于改进型BP神经网络的模拟电路软故障诊断方法,包括以下步骤:对模拟电路的激励信号与测试节点采用随机采样技术进行选择,然后对待测电路施加激励信号并在测试节点处提取电压值再经主元分析与归一化处理提取软故障特征值作为训练样本;采用免疫遗传算法优化BP网络;将训练样本输入优化后的BP网络实现对网络的训练;待测电路的实际测量信号经提取故障特征,将其输入训练好的优化BP神经网络,网络的输出即为故障类型。本发明不仅有效地处理了由于容差而带来的模拟电路故障诊断的困难,而且还提高了BP网络在实现模拟电路故障诊断方面的效率与性能。

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