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公开(公告)号:CN109238462B
公开(公告)日:2020-10-27
申请号:CN201811051955.4
申请日:2018-09-10
Applicant: 湖北京邦科技有限公司
IPC: G01J1/44
Abstract: 本申请揭示了一种光子探测方法及装置。该方法主要包括:S1,调整单元调整探测单元的偏置电压以开启探测单元;S2,在探测单元探测到光子并发生雪崩倍增效应之后,淬灭单元控制探测单元中的电荷堆积以淬灭探测单元的雪崩倍增效应,并且控制探测单元中堆积后的电荷释放以恢复探测单元对光子的探测能力;S3,计数单元对探测单元在电荷堆积和释放的过程中产生的电信号进行计数;S4,读取单元在第一预设时间内读取计数单元所记录的计数数据,并且同时调整单元调整探测单元的偏置电压以关闭探测单元;S5,重复S1‑S4,直到完成预设时钟周期内的光子探测。通过本申请公开的技术方案,可以提高光子探测的动态范围和光子探测灵敏度。
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公开(公告)号:CN110118600A
公开(公告)日:2019-08-13
申请号:CN201910489621.3
申请日:2019-06-06
Applicant: 湖北京邦科技有限公司
IPC: G01J1/46
Abstract: 本申请实施例公开了信号处理电路和包括该信号处理电路的光电探测系统,该信号处理电路包括:第一级运算放大器,其被配置为对光电探测器阵列输出的电信号的幅值进行叠加处理,并且包括与所述光电探测器阵列中的至少一组光电探测器对应的至少一个第一运算放大器;无源装置,所述光电探测器阵列中的每一组所述光电探测器通过其耦合至对应的所述第一运算放大器的同一个输入端;第一滤波装置,其与所述第一级运算放大器的输出端连接以对所述第一级运算放大器输出的电信号进行滤波处理,并且包括二极管或者由电阻和电容并联构成的滤波电路。通过本申请实施例提供的技术方案,可以增大电信号的幅值,降低电信号的噪声,还可以改善电信号的恢复时间。
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公开(公告)号:CN109238462A
公开(公告)日:2019-01-18
申请号:CN201811051955.4
申请日:2018-09-10
Applicant: 湖北京邦科技有限公司
IPC: G01J1/44
Abstract: 本申请揭示了一种光子探测方法及装置。该方法主要包括:S1,调整单元调整探测单元的偏置电压以开启探测单元;S2,在探测单元探测到光子并发生雪崩倍增效应之后,淬灭单元控制探测单元中的电荷堆积以淬灭探测单元的雪崩倍增效应,并且控制探测单元中堆积后的电荷释放以恢复探测单元对光子的探测能力;S3,计数单元对探测单元在电荷堆积和释放的过程中产生的电信号进行计数;S4,读取单元在第一预设时间内读取计数单元所记录的计数数据,并且同时调整单元调整探测单元的偏置电压以关闭探测单元;S5,重复S1-S4,直到完成预设时钟周期内的光子探测。通过本申请公开的技术方案,可以提高光子探测的动态范围和光子探测灵敏度。
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公开(公告)号:CN107275433A
公开(公告)日:2017-10-20
申请号:CN201710198773.9
申请日:2017-03-29
Applicant: 湖北京邦科技有限公司
IPC: H01L31/102 , H01L27/142 , H01L27/144 , H01L21/762
CPC classification number: Y02E10/50 , H01L31/102 , H01L21/76224 , H01L21/7624 , H01L27/142 , H01L27/1446
Abstract: 本发明公开了一种新型半导体光电倍增器件,包括位于SOI衬底之上的外延光电二极管阵列,将每一个光电二极管完全隔离的深槽介质层,与每一个光电二极管串联的高阻电阻,以及用于高阻电阻和光电二极管之间相互互连的金属互连线。本发明的有益之处在于,深槽介质层与SOI衬底将每一个光电二极管与其它临近的光电二极管完全隔离开来,阻止了直接光学串扰和延迟光学串扰的产生,降低了次级光子对临近光电二极管的影响,从而可以显著降低器件的整体光学串扰,并大幅提升件的单光子分辨能力。
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公开(公告)号:CN111628033B
公开(公告)日:2023-10-10
申请号:CN202010471023.6
申请日:2020-05-28
Applicant: 湖北京邦科技有限公司
IPC: H01L31/101 , H01L31/0352 , H01L31/18
Abstract: 本申请公开了一种光电探测装置的制造方法,包括:在所制备的第一衬底上生长出外延层,在外延层中的远离第一衬底的一侧形成第一掺杂区、第二掺杂区以及第三掺杂区,其中,第二掺杂区位于第一掺杂区与第三掺杂区之间;在外延层的一侧上方形成反射结构;对第一衬底进行处理以露出外延层中的另一侧;对另一侧进行掺杂处理以形成第四掺杂区;在第四掺杂区下方制备与第一掺杂区、第二掺杂区以及第三掺杂区分别连接的第一焊盘、第二焊盘以及第三焊盘以获得对应的电极。通过利用本申请提供的技术方案,可以提供适合于对波长较长的光子进行探测的装置。
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公开(公告)号:CN111628034B
公开(公告)日:2023-09-15
申请号:CN202010471029.3
申请日:2020-05-28
Applicant: 湖北京邦科技有限公司
IPC: H01L31/101 , H01L31/0352 , H01L31/18
Abstract: 本申请公开了一种光电探测装置的制造方法,其包括:在所制备的衬底上生长出外延层,其中,外延层和衬底均呈第一导电类型;在外延层中的远离衬底的一侧形成呈与第一导电类型相反的第二导电类型的第一掺杂区和第二掺杂区以及呈第一导电类型的第三掺杂区,其中,第二掺杂区位于第一掺杂区与所述第三掺杂区之间;在外延层的一侧上方形成分别与第一掺杂区、第二掺杂区以及第三掺杂区连接的第一焊盘、第二焊盘以及第三焊盘以获得对应的电极。通过利用本申请提供的技术方案,可以提供适合于对波长较长的光子进行探测的装置。
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公开(公告)号:CN109151345B
公开(公告)日:2021-02-09
申请号:CN201811052632.7
申请日:2018-09-10
Applicant: 湖北京邦科技有限公司
Abstract: 本申请揭示了一种成像装置的数据读出方法,该方法包括以下步骤:按照预设顺序对成像装置中的N个像素单元进行排序;以及按照所述N个像素单元的排序顺序依次对所述N个像素单元进行数据读出操作,并且在对每个像素单元进行数据读出操作时,同时对排序紧邻其之前的像素单元进行计数重置操作、对排序紧邻其之后的像素单元进行探测关闭操作、以及对剩余的N‑3个像素单元进行电信号计数操作。通过应用本申请所揭示的数据读出方法,可以准确地确定成像装置所探测到的光子数,并且可以提高成像装置的光子计数动态范围。
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公开(公告)号:CN111540804A
公开(公告)日:2020-08-14
申请号:CN202010470256.4
申请日:2020-05-28
Applicant: 湖北京邦科技有限公司
IPC: H01L31/101 , H01L31/0352 , H01L31/18
Abstract: 本申请公开了一种半导体装置和光电探测系统,该半导体装置可以包括:外延层,其包括呈第一导电类型的第一部分和第二部分,并且在第一部分中的远离第二部分的一侧形成有呈与所述第一导电类型相反的第二导电类型的第一掺杂区、第二掺杂区、以及呈第一导电类型的第三掺杂区,其中,第二掺杂区位于第一掺杂区与第三掺杂区之间,并且第二部分、第一掺杂区、第二掺杂区以及第三掺杂区的掺杂浓度均大于第一部分的掺杂浓度,并且通过第一掺杂区形成该半导体装置的输出端;钝化层,其位于第一部分的一侧上方,并且其内部形成有与第一掺杂区对应的反射区。通过利用本申请提供的技术方案,可以提高对波长较长的光子的探测效率。
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公开(公告)号:CN110086463A
公开(公告)日:2019-08-02
申请号:CN201910415211.4
申请日:2019-05-17
Applicant: 湖北京邦科技有限公司
Abstract: 本申请公开了延迟电路和包括该延迟电路的半导体装置。该延迟电路包括:第一延迟锁定环,其包括与时钟信号输入端连接的且包含第一组延迟单元的第一延迟链,并且第一组延迟单元中的一个第一延迟单元被配置为向外部输出第一延迟信号;第二延迟锁定环,其包括与时钟信号输入端连接的且包含相互连接的第二组延迟单元和第三组延迟单元的第二延迟链,并且第二组延迟单元中的与上述第一延迟单元对应的一个第二延迟单元被配置为向外部输出第二延迟信号,这三组延迟单元的延迟时间各不相同,并且第一组延迟单元的延迟时间大于第三组延迟单元的延迟时间。通过本申请提供的技术方案,可以减小不同延迟锁定环所输出的延迟信号之间的延迟时间差。
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公开(公告)号:CN110045592A
公开(公告)日:2019-07-23
申请号:CN201910413451.0
申请日:2019-05-17
Applicant: 湖北京邦科技有限公司
Abstract: 本申请实施例公开了时间校正方法、装置、系统及计算机存储介质,该方法包括:剔除所获取的第一计数集合中的符合第一预设条件的第一计数,并且剔除第二计数集合中的与所剔除的第一计数对应的第二计数,其中,第一计数和第二计数分别是TDC产生的粗计数和细计数中的一种和另一种;当所剔除的第二计数不符合第二预设条件时,剔除第二计数集合中的符合第二预设条件的第二计数;根据第一计数集合中剩余的第一计数计算第一时间单位;根据第二计数集合中剩余的第二计数计算第二时间单位;利用所得到的第一时间单位和第二时间单位对这两个触发信号的时间差进行校正。通过利用本申请实施例提供的技术方案可以提高TDC的时间测量结果的准确性。
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