-
公开(公告)号：CN112845194A
公开(公告)日：2021-05-28
申请号：CN202110080950.X
申请日：2021-01-21
申请人： 深圳科瑞技术股份有限公司
摘要： 本申请提供一种缺陷检测设备及其检测方法，缺陷检测设备包括机架及均设于机架上的进料输送装置、粗定位测量装置、上料搬运装置、纠偏调整装置、精定位测量装置、线扫移动装置、线扫检测装置及下料搬运装置；进料输送装置将工件输送至粗定位测量装置的拍摄视野范围内，粗定位测量装置识别工件上的标识信息并拍摄获取工件的粗定位数据，上料搬运装置将工件搬运至纠偏调整装置再搬运至线扫移动装置；纠偏调整装置对工件纠偏调整，精定位测量装置拍摄获取工件精定位数据；线扫移动装置根据线扫轨迹规划数据控制工件移动，线扫检测装置对工件进行拍摄扫描检测并生成线扫描图像数据用于缺陷检测，下料搬运装置将工件搬运至良品下料工位或次品下料工位。
-
公开(公告)号：CN113808212B
公开(公告)日：2024-08-13
申请号：CN202010555195.1
申请日：2020-06-17
申请人： 深圳科瑞技术股份有限公司
IPC分类号： G06T7/80
摘要： 一种线扫描图像同步的标定方法和系统，所述标定方法控制设置有标定块的运动平台按照规划的合成运动轨迹进行运动，在按照合成运动轨迹进行运动的同时控制线扫相机扫描标定块的侧面，分析线扫描图像中标定块侧面栅格的长度分布情况，调节合成运动轨迹，从而得到最优的合成运动轨迹，使得待检测实物按照该最优合成运动轨迹运动时所得到的线扫描图像可用于缺陷检测，减少了线扫描拍照造成的误差。
-
公开(公告)号：CN113808212A
公开(公告)日：2021-12-17
申请号：CN202010555195.1
申请日：2020-06-17
申请人： 深圳科瑞技术股份有限公司
IPC分类号： G06T7/80
摘要： 一种线扫描图像同步的标定方法和系统，所述标定方法控制设置有标定块的运动平台按照规划的合成运动轨迹进行运动，在按照合成运动轨迹进行运动的同时控制线扫相机扫描标定块的侧面，分析线扫描图像中标定块侧面栅格的长度分布情况，调节合成运动轨迹，从而得到最优的合成运动轨迹，使得待检测实物按照该最优合成运动轨迹运动时所得到的线扫描图像可用于缺陷检测，减少了线扫描拍照造成的误差。
-
公开(公告)号：CN111627021A
公开(公告)日：2020-09-04
申请号：CN202010697445.5
申请日：2020-07-20
申请人： 深圳科瑞技术股份有限公司
摘要： 本申请实施例公开一种终端中框外观检测方法、系统及控制器，方法包括：规划XYR平台的运动轨迹；发出第一信号和第二信号，使得待检测终端的中框的各理论测量点依次通过相机的视野主点；同时使得相机获取待检测图片；对待检测图片进行处理以计算被检测终端的多个中框实际测量点与相机的视野主点之间的距离；若任意一个中框实际测量点与所述相机的视野主点之间的距离大于预设的终端中框外观精度误差阈值，则确定待检测终端的中框外观精度不合格。实施本申请实施例，可实现整个终端(例如手机)中框旋转，从而采用一个工位便可实现手机中框外观检测，且在保证检测精度的同时，减少了整体运动时间，提高了检测效率。
-
公开(公告)号：CN111627021B
公开(公告)日：2023-07-21
申请号：CN202010697445.5
申请日：2020-07-20
申请人： 深圳科瑞技术股份有限公司
摘要： 本申请实施例公开一种终端中框外观检测方法、系统及控制器，方法包括：规划XYR平台的运动轨迹；发出第一信号和第二信号，使得待检测终端的中框的各理论测量点依次通过相机的视野主点；同时使得相机获取待检测图片；对待检测图片进行处理以计算被检测终端的多个中框实际测量点与相机的视野主点之间的距离；若任意一个中框实际测量点与所述相机的视野主点之间的距离大于预设的终端中框外观精度误差阈值，则确定待检测终端的中框外观精度不合格。实施本申请实施例，可实现整个终端(例如手机)中框旋转，从而采用一个工位便可实现手机中框外观检测，且在保证检测精度的同时，减少了整体运动时间，提高了检测效率。
-
公开(公告)号：CN112845194B
公开(公告)日：2022-09-16
申请号：CN202110080950.X
申请日：2021-01-21
申请人： 深圳科瑞技术股份有限公司
摘要： 本申请提供一种缺陷检测设备及其检测方法，缺陷检测设备包括机架及均设于机架上的进料输送装置、粗定位测量装置、上料搬运装置、纠偏调整装置、精定位测量装置、线扫移动装置、线扫检测装置及下料搬运装置；进料输送装置将工件输送至粗定位测量装置的拍摄视野范围内，粗定位测量装置识别工件上的标识信息并拍摄获取工件的粗定位数据，上料搬运装置将工件搬运至纠偏调整装置再搬运至线扫移动装置；纠偏调整装置对工件纠偏调整，精定位测量装置拍摄获取工件精定位数据；线扫移动装置根据线扫轨迹规划数据控制工件移动，线扫检测装置对工件进行拍摄扫描检测并生成线扫描图像数据用于缺陷检测，下料搬运装置将工件搬运至良品下料工位或次品下料工位。
-
-
-
-
-
搜索结果
6 条记录 (耗时 0.041 秒)
