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公开(公告)号：CN118950489A
公开(公告)日：2024-11-15
申请号：CN202411415937.5
申请日：2024-10-11
申请人： 包头市华星稀土科技有限责任公司
IPC分类号： B07C5/00 , G01N35/04 , G01N1/28 , G01N33/20 , G01G19/00 , C25C7/00 , B07C5/02 , B07C5/36 , B07C5/38 , B23Q7/12
摘要： 本申请提供一种稀土金属在线检测系统及其检测方法，属稀土金属冶炼领域。本申请检测系统包括电解生产区、运输通道、待检区、加工区、检测区和分类区；电解生产区用于稀土金属的初步生产和出料；运输通道位于电解生产区旁并沿伸至待检区的进料处，作为运输线路将稀土金属从电解生产区运送至待检区；待检区设于运输通道与加工区之间，作为待检测稀土金属的暂存区域；加工区紧邻待检区一侧，用于铣削出稀土金属的检测面；检测区设于加工区一侧，用于稀土金属的检测分析；分类区用于将检测完毕的稀土金属按检测结果分类并放入不同品级分类车中。本申请集生产、运输、加工、检测和分类过程于同一检测系统中，大幅减少了人工干预，提高了效率和精度。
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公开(公告)号：CN118926121A
公开(公告)日：2024-11-12
申请号：CN202411226961.4
申请日：2024-09-03
申请人： 安徽粮食工程职业学院
摘要： 本发明公开了一种食品生产用机械化挑选输送机，所述转轴一的底部通过第二锥齿轮组转动连接有转轮，所述转轮的外部关于中心对称固定连接有多个固定杆，所述电机轴的右端通过第三锥齿轮组转动连接有转轴二，所述支撑盘的顶部固定连接有转盘，所述支撑盘的四周关于中心对称开设有多个限位槽，涉及食品输送机技术领域，该食品生产用机械化挑选输送机，通过设置的支撑盘、转盘和限位槽方便对堆积起来的产品进行简单的分化打散处理，避免堆积起来的产品一起通过传输机导致部分产品检测不到的情况，利用转轮和固定杆来对限位槽内的产品进行下料处理，实现自动化下料，节省人力的同时节省时间。
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公开(公告)号：CN118926118A
公开(公告)日：2024-11-12
申请号：CN202411411805.5
申请日：2024-10-11
申请人： 梯爱司新材料科技(上海)有限公司
摘要： 本发明公开了一种PVD涂层差速器轴外观检测设备，涉及PVD涂层检测技术领域，包括：底座，所述底座顶部两侧处均设置有输送机构，两个所述输送机构端部均设置有夹持组件，所述底座顶部处于两个夹持组件之间依次设置有定位组件、外观检测组件、两个对称设置的划痕组件和下料机构。本发明能够通过下料机构中调节组件的工作，使得安装板和输送机构之间发生滑动，进而改变差速器轴的水平位置，当差速器轴在导向架其中一个斜面上释放时，则差速器轴通过该处输出，同理，当差速器轴在导向架另一斜面上释放时，差速器轴通过该处输出，以实现输出不同原因导致的残次品，便于后续人工复查，进而方便定位导致PVD涂层不合格的工序，为改进PVD工艺提供数据。
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公开(公告)号：CN118635134B
公开(公告)日：2024-11-12
申请号：CN202411116535.5
申请日：2024-08-15
申请人： 沧州东盛塑料有限公司
发明人： 王贵卿
IPC分类号： B07C5/00 , B07C5/02 , B07C5/36 , B07C5/38 , B29C31/08 , B29C49/42 , B29C51/26 , B29C51/46 , B29C49/80
摘要： 本发明涉及塑料瓶生产技术领域，提出了一种塑料瓶生产用的瓶坯上料机构，包括瓶坯输送装置设置在支架上；第一滑动件滑动设置在支架上，第一滑动件位于瓶坯输送装置上方，第一滑动件滑动后靠近或远离瓶坯输送装置；第一升降件升降设置在第一滑动件上，第一升降件升降后靠近或远离瓶坯输送装置；夹件设置在第一升降件上，第一升降件靠近瓶坯输送装置后，夹件进入瓶坯内，夹件用于从所述瓶坯内部夹紧瓶坯，第一滑动件带动夹件远离瓶坯输送装置后，进入视觉检测工位。通过上述技术方案，解决了现有技术中瓶坯的支撑会影响视觉检测结果的问题。
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公开(公告)号：CN118904966A
公开(公告)日：2024-11-08
申请号：CN202411002411.4
申请日：2024-07-24
申请人： 东莞市顺林模型礼品股份有限公司
发明人： 刘学深
IPC分类号： B21C51/00 , B24B9/04 , B24B29/02 , B24B49/00 , G01D21/02 , B21D22/02 , B07C5/00 , B07C5/04 , B23P23/00
摘要： 本发明通过设置模拟检测系统先对车模的生产过程以及合格车辆模型的尺寸进行模拟以及准确数据统计，同时通过设置车模形状检测装置和车模拼接检测装置对不同类型的车模类型进行生产前的合格模拟以及生产后的检测，通过对不同类型的车模检测以及和模拟检测系统的比较来进行是否合格的检测，同时对于弧形车模外壳的角度以及长度的定义来获得形状最佳的弧形车模外壳，增加玩具车辆的美感。
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公开(公告)号：CN118904738A
公开(公告)日：2024-11-08
申请号：CN202411420307.7
申请日：2024-10-12
申请人： 深圳市华拓半导体技术有限公司
摘要： 本发明公开了芯片检测装置及检测方法，该芯片检测装置包括第二检测机构的两侧分别设置有第一上料机构和第一接收机构，第一接收机构另一侧设置有第二接收机构，第一上料机构、第二检测机构、第一接收机构，以及第二接收机构的上端设置有移动挑选机构；第一上料机构可接收芯片托盘，并对芯片托盘进行检测，第二检测机构可通过移动挑选机构接收第一上料机构上的芯片并检测缓存，移动挑选机构可对第二检测机构上的芯片托盘或芯片进行抓取并放置到第一接收机构或第二接收机构进行下料。本发明的有益效果为能够实现高精度、高效率的芯片检测，同时提高自动化程度，降低人工干预，从而满足市场对于高质量芯片的需求。
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公开(公告)号：CN118904736A
公开(公告)日：2024-11-08
申请号：CN202411400022.7
申请日：2024-10-09
申请人： 嘉兴市天和制药有限公司
摘要： 本发明属于检测设备技术领域，尤其涉及一种自动化视觉检测设备，包括上料装置、检测装置、输送装置、筛料装置及控制器；上料装置用于将管状件传输至输送装置上，输送装置带动管状件移动并经过检测装置，检测装置则对经过的管状件进行拍摄检测并将信息传输至控制器，筛料装置则对将良品、次品及待重测的管状件分别下料；控制器则对各个装置进行控制，实现检测设备的自动化工作；与现有技术相比，本发明通过多个CCD相机和光源的组合，能够快速、精确地检测管状件的外观、尺寸和整体轮廓。相较于人工检测，自动化设备不仅可以大幅提升检测效率，还能提高检测精度，减少人为误差。
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公开(公告)号：CN118893001A
公开(公告)日：2024-11-05
申请号：CN202411388835.9
申请日：2024-10-08
申请人： 苏州市美信检测技术有限公司
摘要： 本发明提供一种汽车压铸件表面无损检测装置及方法，涉及一种检测装置，包括检测输送架、皮带传送机构、安装基块、安装柱以及检测基板，皮带传送机构用于将汽车压铸件传送至检测基板下方的检测位，一组呈直角形弯折的检测架在水平杆延伸的一侧为转接安装在检测基板上，检测基板的中心转接安装有一组连接在检测架一端的驱动轴，驱动轴外通过齿轮与安装在检测基板上的驱动电机传动连接，检测架在水平杆延伸的一侧上还安装有一组朝向下方检测位拍照检测的相机一，检测架在竖直杆延伸的一侧上安装有一组相机二，驱动轴的中心还通过气缸连接有一组相机三，本发明可以同时或有选择的独立完成具有大厚度、大尺寸和具备中心柱孔压铸件的表面无损检测。
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公开(公告)号：CN118616343B
公开(公告)日：2024-11-05
申请号：CN202411096995.6
申请日：2024-08-12
申请人： 武汉华工赛百数据系统有限公司 , 大连理工大学
IPC分类号： B07C5/00 , G06N3/0455 , G06N3/092
摘要： 本申请涉及一种工件分拣方法、装置、计算机设备和可读存储介质。所述方法包括：获取待处理工件的工件状态向量和多个待处理料框对应的料框状态向量；基于工件状态向量、料框状态向量和预先训练的选框解码器，在多个待处理料框中确定目标料框，并确定目标料框对应的目标状态向量；基于工件状态向量、目标状态向量和预先训练的选向解码器，确定目标旋转方向，并基于目标旋转方向确定旋转后的工件状态向量；基于旋转后的工件状态向量、目标状态向量和预先训练的选位解码器，在目标料框的多个网格位中确定目标分拣位；基于目标料框和目标分拣位对待处理工件进行分拣。采用本方法能够提高工件分拣效率。
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公开(公告)号：CN118577504B
公开(公告)日：2024-11-05
申请号：CN202411066906.3
申请日：2024-08-06
摘要： 本发明涉及半导体激光器测试技术领域，且公开了一种半导体激光器的测试筛选设备及使用方法，包括主体和两组间距调节滑槽，两组间距调节滑槽分别开设在主体顶部，主体底部开设有两个限位调节滑槽，还包括传动机构，传动机构设置在主体底部，传动机构包括有支撑架。本发明通过滑架与滑动条孔的连接，带动滑杆在分选传输组件的内部滑动使两组限位条之间的距离逐渐变大，直到两组限位条的间距与尺寸较大的半导体激光器的宽度对应，避免因为不同型号的半导体激光器的尺寸各不相同而导致该装置难以对其他型号的半导体激光器进行传输限位，减少半导体激光器在传输过程中掉落到边缘的现象出现，从而提高了半导体激光器测试的效率。
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