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公开(公告)号:CN117326500A
公开(公告)日:2024-01-02
申请号:CN202311317347.4
申请日:2023-10-12
申请人: 深圳市华拓半导体技术有限公司
IPC分类号: B66F11/00 , F16F15/023
摘要: 本申请涉及物料顶升的技术领域,公开了一种可调高度的顶升托盘快拆结构,包括用于与检测设备连接的固定板,固定板上设置有升降组件,升降组件的输出端连接有滑动板,滑动板上连接有放置板,放置板上设置有托盘,托盘的一侧与设置在放置板的一侧连接,托盘的另一侧与设置在放置板另一侧的卡紧组件连接,固定板上位于升降组件的两侧设置有用于滑动板缓冲的缓冲组件,固定板上位于升降组件的底部设置有电机,电机输出轴上设置有凸轮,凸轮用于限制滑动板移动;利用缓冲组件进行缓冲,避免料片被顶飞,利用电机旋转带动凸轮转动,从而限制托盘的顶升高度,针对不同厚度的料片,可以确保每一次顶升都在同一位置。
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公开(公告)号:CN117184854A
公开(公告)日:2023-12-08
申请号:CN202311260013.8
申请日:2023-09-27
申请人: 深圳市华拓半导体技术有限公司
摘要: 本申请涉及物料传输的技术领域,公开了一种垂直双通道物料传输机构,包括工作台,工作台的一侧连接有升降组件,工作台的另一侧设置有第一安装架以及第二安装架,第一安装架与工作台固定连接,第二安装架与工作台活动连接,第一安装架、第二安装架上均设置有上、下两层通道,上、下两层通道上设置有用于传送料片的传输组件,位于第一安装架的上、下通道设置有卸料组件,位于第二安装架的上、下通道设置有推料组件,推料组件、卸料组件靠近料片出料口设置,升降组件、传输组件、推料组件、卸料组件与控制箱电性连接;该机构通过上下两层通道实现不良品的传输,筛选过程中无需停顿和人工参与挑拣,整体上保证物料复检过程的流畅性,复检效率更高。
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公开(公告)号:CN114217493A
公开(公告)日:2022-03-22
申请号:CN202111591945.1
申请日:2021-12-23
申请人: 深圳市华拓半导体技术有限公司
摘要: 本发明公开了一种光学成像系统,包括光学主平板、光学模块、相机模块、侧边同轴光源模块和多角度光源模块;其中,光学模块和相机模块均设于光学主平板的表面上,且相机模块朝向光学模块的折射光方向设置;侧边同轴光源模块设于光学模块的侧面,且侧边同轴光源模块的出光方向朝向光学模块;多角度光源模块设于光学主平板背离的光学模块的表面上,多角度光源模块与光学模块相连通;其中,多角度光源模块的出光方向背离光学模块。通过光学模块将侧边同轴光源模块射出光线的光路调整为从被测对象的侧方射向被测对象,且多角度光源模块环绕于被测对象四周,避免打光时出现灯光盲区或亮度不均匀的情况,实现了将被测对象全方位打亮,提升成像质量。
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公开(公告)号:CN118142891A
公开(公告)日:2024-06-07
申请号:CN202410461499.X
申请日:2024-04-17
申请人: 深圳市华拓半导体技术有限公司
摘要: 本发明属于半导体生产技术领域,涉及一种冲压装置。该冲压装置包括检测机构、冲压机构以及运动平台,所述冲压机构安装在所述运动平台上,所述检测机构安装在所述冲压机构上;所述运动平台用于驱动所述冲压机构靠近或远离输送线上的料片;所述运动平台驱动所述冲压机构靠近所述输送线上的料片时,所述检测机构用于检测输送线上的料片是否存在次品单元;若所述料片存在次品单元,则该料片为不合格料片;所述冲压机构用于对所述不合格料片上的次品单元进行冲压,以使次品单元从该不合格料片上脱离。该冲压装置可提高生产效率和产品质量。
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公开(公告)号:CN117733031A
公开(公告)日:2024-03-22
申请号:CN202311496771.X
申请日:2023-11-10
申请人: 深圳市华拓半导体技术有限公司
摘要: 本申请涉及钢丝压料的技术领域,公开了一种可快速手动精密调节的引线框架压料结构,包括支撑板,所述支撑板的两个对边上分别设置有导轨,所述导轨上滑动连接有多个调节组件,所述调节组件上设置有压紧组件,且位于对边的两个所述压紧组件之间连接有钢丝,所述压紧组件背离所述支撑板的一侧连接有调宽组件,所述调宽组件与所述支撑板连接,所述调宽组件用于调节位于同一边上所述压紧组件的间距。通过利用丝杆上的螺纹以及支撑板上的刻度实现滑块的精准移动,对于现有的小尺寸对压料位置要求较高的引线框架仍然可以使用;由于使用张紧螺栓来调节不锈钢丝的张紧程度所以对钢丝的张紧度调节更精确压料效果更均匀更好。
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公开(公告)号:CN116380912A
公开(公告)日:2023-07-04
申请号:CN202310358548.2
申请日:2023-03-27
申请人: 深圳市华拓半导体技术有限公司
摘要: 本发明公开了一种基于激光线扫双目成像的光学检测装置及检测方法,检测装置包括:主体结构,设有第一路通道、第二路通道和主路通道;主相机组件,设于所述主路通道;第一相机组件,设于所述第一路通道;第二相机组件,设于所述第二路通道;光源组件,与所述主体结构连接;第一线激光器,与所述主体结构连接;第二线激光器,与所述主体结构连接。本发明通过对被测物进行两组双目视觉检测,然后通过第一线激光器和第二线激光器对被测物进行激光线扫,并在检测过程中启动光源组件对半导体芯片进行照明,实现对不同形貌和材质的半导体芯片的检测,且减少因半导体芯片形貌和材质导致的特征少检和漏检的情况,提高芯片检测的良品率的准确性。
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公开(公告)号:CN113655231A
公开(公告)日:2021-11-16
申请号:CN202111032585.1
申请日:2021-09-03
申请人: 深圳市华拓半导体技术有限公司
摘要: 本发明公开了一种半导体检测的装置,属于半导体检测设备的技术领域。包括机台,所述机台上设有上下料模块、定点输送模块以及检测模块,所述上下料模块位于定点输送模块的其中一侧,所述定点输送模块的进料端和出料端位于同一侧,所述上下料模块的出料端与定点输送模块的进料端以及出料端对接,所述上下料模块用于将料片输送到定点输送模块内并接收定点输送模块传回的料片,所述检测模块的检测端位于定点输送模块的上方。本申请方案中料片检测前后均位于同一料槽,减少料片位置的改变,继而可以减少料片在转移过程中出现信息丢失或者信息不匹配的情况,减少返工情况,提高料片的检测效率。
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公开(公告)号:CN118444462A
公开(公告)日:2024-08-06
申请号:CN202410898350.8
申请日:2024-07-05
申请人: 深圳市华拓半导体技术有限公司
摘要: 本申请涉及光学元件技术,公开了一种远心镜头组和测量设备。远心镜头组包括:前组镜头和后组镜头,以及设置在前组镜头和后组镜头之间的光阑;所述前组镜头,自物方至像方依次设有第一透镜、第二透镜、第三透镜、第四透镜、第五透镜和分光棱镜;所述后组镜头,自物方至像方依次设有第六透镜、第七透镜、第八透镜和第九透镜;所述第二透镜和所述第三透镜组合成胶合透镜,所述第四透镜和所述第五透镜组合成胶合透镜;所述前组镜头的组合焦距固定,搭配不同组合焦距的所述后组镜头,以形成不同放大倍率的远心镜头组。本申请旨在提出具有良好的光学性能和较高放大倍率的远心镜头,以满足机器视觉系统的精密检测需求。
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公开(公告)号:CN117553127A
公开(公告)日:2024-02-13
申请号:CN202311848678.0
申请日:2023-12-29
申请人: 深圳市华拓半导体技术有限公司
IPC分类号: F16J15/3284 , F16J15/3208
摘要: 本申请涉及晶圆吸附的技术领域,公开了一种薄型回转密封结构,包括底座,所述底座上转动连接有同步轮,所述同步轮的一侧连接有回转件,且所述回转件与所述底座底部连接,所述回转件靠近所述底座的一侧开设有密封槽,所述密封槽中内置有密封件,所述密封槽的一端与开设在底座上的连接口连通,所述连接口用于与气管接头连接,所述密封槽的另一端与所述同步轮连通;通过在同步轮将晶圆在检测前进行方向上的旋正,通过在密封槽中设置密封件,能够保持底座与回转件无论在回转工作还是在静止状态下能够始终处于相对密封的状态。
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公开(公告)号:CN117228291A
公开(公告)日:2023-12-15
申请号:CN202311356090.3
申请日:2023-10-19
申请人: 深圳市华拓半导体技术有限公司
摘要: 本申请涉及物料缓存的技术领域,公开了一种可自动调宽的通用型输送缓存结构,包括底板,底板的两端设置有缓存组件,缓存组件中的两个支撑板之间设置有多根竖杆,每一竖杆上设置有多个支撑柱,第一侧板、第二侧板分别与两缓存组件连接,且第一侧板、第二侧板可在缓存组件上相对滑动,第一侧板、第二侧板上连接有升降组件,两升降组件之间通过传动组件连接,第一侧板、第二侧板远离缓存组件的一侧设置有传输物料的输送组件,且第一侧板与第二侧板之间通过调宽组件连接,调宽组件用于调节第一侧板与第二侧板之间的间距,控制系统与升降组件、输送组件、调宽组件电性连接;通过以上设置,能够对多种尺寸的物料进行传输与缓存,使用范围更加广泛。
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