激光雷达封装结构及激光雷达封装方法

    公开(公告)号:CN117712818A

    公开(公告)日:2024-03-15

    申请号:CN202211081928.8

    申请日:2022-09-06

    Abstract: 本发明涉及一种激光雷达封装结构及激光雷达封装方法,该激光雷达封装结构包括管壳、硬质基板、柔性基板及多个芯片,其中,管壳具有安装腔,硬质基板设置于安装腔内,硬质基板包括第一侧面及第二侧面;柔性基板包括依次连接的第一板体、弯折部及第二板体,第一板体及第二板体分别设置于第一侧面及第二侧面,弯折部用于弯折连接第一板体及第二板体;多个芯片设置于柔性基板背离硬质基板的一侧面,且部分芯片设置于第一板体,部分芯片设置于第二板体,芯片与柔性基板电气连接。该激光雷达封装结构能够减小柔性基板在安装腔内占用的面积,实现产品的集成化;同时硬质基板能够提高柔性基板的强度,保证芯片的稳定性。

    半导体器件用测试夹具
    2.
    实用新型

    公开(公告)号:CN221148764U

    公开(公告)日:2024-06-14

    申请号:CN202323225570.4

    申请日:2023-11-28

    Inventor: 冯雪 景文 李海波

    Abstract: 本申请实施例公开了一种半导体器件用测试夹具包括了夹具本体、限位组件,而限位组件包括了气囊、导电层和线缆,在使用过程中,可以将待测试器件设置在夹具本体的夹持位之上,进行初步的固定,而后向气囊组件内注气,气囊膨胀,气囊会带动导电层与待测试器件的测试引脚进行接触,而后测试引进即可通过导电层和线缆连接于测试器件。通过本申请实施例提供的半导体器件用测试夹具,在检测过程中,无需进行焊接,因此不会在待检测器件之上残留盘,且通过注气的方式使得导电层与待测试器件进行接触,在完成测试之后只需要为气囊进行泄压,即可使待测试器件与导电层脱离,便于建立或断开待检测器件与测试器件之间的连接关系,能够提高检测效率。

    芯片封装结构和芯片组件

    公开(公告)号:CN219350199U

    公开(公告)日:2023-07-14

    申请号:CN202223111512.4

    申请日:2022-11-22

    Inventor: 景文 王杰 李海波

    Abstract: 本实用新型提出了一种芯片封装结构和芯片组件。所述芯片封装结构包括:基板和封装壳;所述封装壳设有多个凹槽和多个透气孔,所述封装壳设在所述基板上,所述基板覆盖多个所述凹槽以便形成多个芯片容纳腔,所述基板和所述封装壳在第一方向上相对,其中相邻两个所述芯片容纳腔之间设有至少一个第一通孔,每个所述第一通孔沿所述第一方向贯穿所述基板和所述封装壳,多个所述透气孔的内端一一对应地与多个所述芯片容纳腔连通,每个所述透气孔与所述第一通孔连通。本实用新型的芯片封装结构具有加工良率高的优点。

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