公开(公告)号：CN109472748A

公开(公告)日：2019-03-15

申请号：CN201811257701.8

申请日：2018-10-26

申请人： 河北工业大学 ,  中国电子科技集团公司第五十三研究所

发明人： 赵红东 ,  李宇海 ,  孙梅 ,  H.S.艾哈迈德 ,  王储 ,  赵泽通 ,  张洁 ,  闫苗

IPC分类号： G06T5/00

CPC分类号： G06T5/007

摘要： 本发明基于纳米颗粒SEM图像亮度提取的图像亮度校正方法，涉及一般的图像数据处理，该方法是基于纳米颗粒SEM图像进行整体的亮度提取进而对该图像全部区域的不均匀亮度进行校正，特别是在纳米颗粒SEM图像中某一个边界部分区域出现高亮度，而在其另外一个边界部分区域出现较暗亮度的情况下，显示出纳米颗粒SEM图像各个像素点的平均亮度，并实现纳米颗粒SEM图像的全部区域亮度均匀化，克服了由于纳米颗粒SEM图像中高亮度和较暗亮度经常分别出现在图像不同外围边界，现有技术则无法实现纳米颗粒SEM图像周围边界部分进行插值，造成所得到的纳米颗粒SEM图像的亮度不均匀的缺陷。

公开(公告)号：CN109472748B

公开(公告)日：2021-01-26

申请号：CN201811257701.8

申请日：2018-10-26

申请人： 河北工业大学 ,  中国电子科技集团公司第五十三研究所

发明人： 赵红东 ,  李宇海 ,  孙梅 ,  H.S.艾哈迈德 ,  王储 ,  赵泽通 ,  张洁 ,  闫苗

IPC分类号： G06T5/00

摘要： 本发明基于纳米颗粒SEM图像亮度提取的图像亮度校正方法，涉及一般的图像数据处理，该方法是基于纳米颗粒SEM图像进行整体的亮度提取进而对该图像全部区域的不均匀亮度进行校正，特别是在纳米颗粒SEM图像中某一个边界部分区域出现高亮度，而在其另外一个边界部分区域出现较暗亮度的情况下，显示出纳米颗粒SEM图像各个像素点的平均亮度，并实现纳米颗粒SEM图像的全部区域亮度均匀化，克服了由于纳米颗粒SEM图像中高亮度和较暗亮度经常分别出现在图像不同外围边界，现有技术则无法实现纳米颗粒SEM图像周围边界部分进行插值，造成所得到的纳米颗粒SEM图像的亮度不均匀的缺陷。

公开(公告)号：CN106441568B

公开(公告)日：2017-12-12

申请号：CN201610858421.7

申请日：2016-09-28

申请人： 河北工业大学

发明人： 赵红东 ,  陈鸿 ,  赵翠杰 ,  H.S.艾哈迈德 ,  李志勇 ,  王络欣 ,  孙梅

IPC分类号： G01J3/10

摘要： 本发明采用三种高斯光谱合成A级太阳模拟器光谱的装置，涉及专用于光谱学或色度学的光源装置，其构成部件包括三种高斯光谱的光源、两个反射镜和一个合束器；上述部件之间相互连接的光路方式是：产生第一种高斯光谱的光源输出第一种高斯光谱的光波经过第一反射镜反射，进入合束器，产生第二种高斯光谱的光源输出第二种高斯光谱的光波并直接进入合束器，产生第三种高斯光谱的光源输出第三种高斯光谱的光波经过第二反射镜反射，进入合束器，进入合束器的三种高斯光谱合成本发明装置所产生的A级太阳模拟器光谱。本发明克服了现有技术使用数量较多的高斯光谱在合成太阳模拟器时，存在调节参量增加，需要光学元件种类多和光路复杂的缺陷。

公开(公告)号：CN106441568A

公开(公告)日：2017-02-22

申请号：CN201610858421.7

申请日：2016-09-28

申请人： 河北工业大学

发明人： 赵红东 ,  陈鸿 ,  赵翠杰 ,  H.S.艾哈迈德 ,  李志勇 ,  王络欣 ,  孙梅

IPC分类号： G01J3/10

CPC分类号： G01J3/10 ,  G01J2003/104

摘要： 本发明采用三种高斯光谱合成A级太阳模拟器光谱的装置，涉及专用于光谱学或色度学的光源装置，其构成部件包括三种高斯光谱的光源、两个反射镜和一个合束器；上述部件之间相互连接的光路方式是：产生第一种高斯光谱的光源输出第一种高斯光谱的光波经过第一反射镜反射，进入合束器，产生第二种高斯光谱的光源输出第二种高斯光谱的光波并直接进入合束器，产生第三种高斯光谱的光源输出第三种高斯光谱的光波经过第二反射镜反射，进入合束器，进入合束器的三种高斯光谱合成本发明装置所产生的A级太阳模拟器光谱。本发明克服了现有技术使用数量较多的高斯光谱在合成太阳模拟器时，存在调节参量增加，需要光学元件种类多和光路复杂的缺陷。