公开(公告)号：CN109472748A

公开(公告)日：2019-03-15

申请号：CN201811257701.8

申请日：2018-10-26

申请人： 河北工业大学 ,  中国电子科技集团公司第五十三研究所

发明人： 赵红东 ,  李宇海 ,  孙梅 ,  H.S.艾哈迈德 ,  王储 ,  赵泽通 ,  张洁 ,  闫苗

IPC分类号： G06T5/00

CPC分类号： G06T5/007

摘要： 本发明基于纳米颗粒SEM图像亮度提取的图像亮度校正方法，涉及一般的图像数据处理，该方法是基于纳米颗粒SEM图像进行整体的亮度提取进而对该图像全部区域的不均匀亮度进行校正，特别是在纳米颗粒SEM图像中某一个边界部分区域出现高亮度，而在其另外一个边界部分区域出现较暗亮度的情况下，显示出纳米颗粒SEM图像各个像素点的平均亮度，并实现纳米颗粒SEM图像的全部区域亮度均匀化，克服了由于纳米颗粒SEM图像中高亮度和较暗亮度经常分别出现在图像不同外围边界，现有技术则无法实现纳米颗粒SEM图像周围边界部分进行插值，造成所得到的纳米颗粒SEM图像的亮度不均匀的缺陷。

公开(公告)号：CN109472748B

公开(公告)日：2021-01-26

申请号：CN201811257701.8

申请日：2018-10-26

申请人： 河北工业大学 ,  中国电子科技集团公司第五十三研究所

发明人： 赵红东 ,  李宇海 ,  孙梅 ,  H.S.艾哈迈德 ,  王储 ,  赵泽通 ,  张洁 ,  闫苗

IPC分类号： G06T5/00

摘要： 本发明基于纳米颗粒SEM图像亮度提取的图像亮度校正方法，涉及一般的图像数据处理，该方法是基于纳米颗粒SEM图像进行整体的亮度提取进而对该图像全部区域的不均匀亮度进行校正，特别是在纳米颗粒SEM图像中某一个边界部分区域出现高亮度，而在其另外一个边界部分区域出现较暗亮度的情况下，显示出纳米颗粒SEM图像各个像素点的平均亮度，并实现纳米颗粒SEM图像的全部区域亮度均匀化，克服了由于纳米颗粒SEM图像中高亮度和较暗亮度经常分别出现在图像不同外围边界，现有技术则无法实现纳米颗粒SEM图像周围边界部分进行插值，造成所得到的纳米颗粒SEM图像的亮度不均匀的缺陷。