一种电子芯片设计试验检测装置

    公开(公告)号:CN213023446U

    公开(公告)日:2021-04-20

    申请号:CN202021420645.8

    申请日:2020-07-20

    IPC分类号: G01R31/28 G01R1/04

    摘要: 本实用新型公开了一种电子芯片设计试验检测装置,涉及电子芯片检测领域,包括检测台,所述检测台的上端外表面设置有支架杆、放置装置与辅助装置,所述支架杆位于位于放置装置的一侧,所述辅助装置位于放置装置的另一侧。本实用新型所述的一种电子芯片设计试验检测装置,通过放置装置的设置,放置装置在使用时有益于对检测的电子芯片进行放置,在使用时有益于放置多组和不同尺寸的电子芯片,在使用时检测较为方便,通过辅助装置的设置,辅助装置在使用时有益于对电子芯片进行检测,在使用时可便于检查电子芯片的故障,在使用时较为方便,有益于提高工作时的效率,使用的效果相对于传统方式更好。

    一种芯片设计稳定性检测装置

    公开(公告)号:CN213023444U

    公开(公告)日:2021-04-20

    申请号:CN202021393858.6

    申请日:2020-07-15

    IPC分类号: G01R31/28 G01R1/04 G01R1/14

    摘要: 本实用新型公开了一种芯片设计稳定性检测装置,包括防护外壳,所述防护外壳的顶端设有盖板,所述防护外壳和盖板通过固定组件连接,所述防护外壳的底部固定连接有若干支撑腿,所述防护外壳内设有检测装置本体,所述检测装置本体的底部设有支撑板,所述支撑板的下方设有活动板,所述支撑板和活动板通过若干第一弹簧连接。本实用新型所述的一种芯片设计稳定性检测装置,减少灰尘落在检测装置本体上的可能,当检测装置本体不慎掉落地面时,通过第一弹簧、第二弹簧和第三弹簧的弹力进行缓冲,可以对检测装置本体进行保护,减少震动对检测装置本体的影响,同时便于检测装置本体脱离防护外壳,进而方便取出检测装置本体,便于实际使用。

    一种芯片设计电路绘制装置

    公开(公告)号:CN214207605U

    公开(公告)日:2021-09-17

    申请号:CN202021420644.3

    申请日:2020-07-20

    IPC分类号: A47B27/14 A47B27/00

    摘要: 本实用新型公开了一种芯片设计电路绘制装置,涉及芯片设计技术领域,包括固定底板,所述固定底板的上端外表面设置有电动推杆,所述电动推杆的一端外表面设置有设计平台。本实用新型所述的一种芯片设计电路绘制装置,通过电动推杆的设置,电动推杆在使用时有益于对绘制装置的高度进行调整,在使用时能够根据不同身高的的人群进行调整,便于进行绘制使用,通过手绘装置的设置,手绘装置在使用时有益于对芯片电路进行预先模拟绘制,在使用时能够减少绘制时的错误,有益于提高绘制的效率,通过万向轮的设置,万向轮在使用时有益于对绘制装置进行移动,在使用时方便快捷,便于进行使用,使用的效果相对于传统方式更好。