实用新型
CN213023444U 一种芯片设计稳定性检测装置
失效 - 权利终止
- 专利标题: 一种芯片设计稳定性检测装置
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申请号: CN202021393858.6申请日: 2020-07-15
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公开(公告)号: CN213023444U公开(公告)日: 2021-04-20
- 发明人: 陈勇 , 王淑军 , 张磊 , 窦瑾 , 姜仲秋 , 毛宇鹏 , 徐永
- 申请人: 江苏意渊工业大数据平台有限公司 , 南京龙渊微电子科技有限公司 , 上海芯盛电子科技有限公司
- 申请人地址: 江苏省南京市江宁区麒麟高新技术产业开发区智汇路300号; ;
- 专利权人: 江苏意渊工业大数据平台有限公司,南京龙渊微电子科技有限公司,上海芯盛电子科技有限公司
- 当前专利权人: 江苏意渊工业大数据平台有限公司,南京龙渊微电子科技有限公司,上海芯盛电子科技有限公司
- 当前专利权人地址: 江苏省南京市江宁区麒麟高新技术产业开发区智汇路300号; ;
- 主分类号: G01R31/28
- IPC分类号: G01R31/28 ; G01R1/04 ; G01R1/14
摘要:
本实用新型公开了一种芯片设计稳定性检测装置,包括防护外壳,所述防护外壳的顶端设有盖板,所述防护外壳和盖板通过固定组件连接,所述防护外壳的底部固定连接有若干支撑腿,所述防护外壳内设有检测装置本体,所述检测装置本体的底部设有支撑板,所述支撑板的下方设有活动板,所述支撑板和活动板通过若干第一弹簧连接。本实用新型所述的一种芯片设计稳定性检测装置,减少灰尘落在检测装置本体上的可能,当检测装置本体不慎掉落地面时,通过第一弹簧、第二弹簧和第三弹簧的弹力进行缓冲,可以对检测装置本体进行保护,减少震动对检测装置本体的影响,同时便于检测装置本体脱离防护外壳,进而方便取出检测装置本体,便于实际使用。