铁矿石XRF分析用玻璃片的制备及测量结果的校正方法

    公开(公告)号:CN115452871B

    公开(公告)日:2024-04-16

    申请号:CN202210945985.X

    申请日:2022-08-08

    IPC分类号: G01N23/2202 G01N23/223

    摘要: 本发明涉及一种铁矿石XRF分析用玻璃片的制备及测量结果的校正方法。其技术方案是:称取0.45~0.5g被测样品(精确到0.0001g)和0.9~1.0g碳酸锂,混匀,将得到的混合物移至钴内标四硼酸锂坩埚中,加脱模剂于混合物上;再置于低温电炉中,在490~670℃分四段预氧化,然后转移到盛有硼酸的铂金坩埚中;再移到已升温至1050℃熔融炉中熔融,取出冷却,称量铂金坩埚及其中熔块的质量(精确到0.0001g)。最后根据校准曲线中标准样品玻璃片的平均质量msb和标准样品的称样量mst,得到校正系数和被测组分的质量百分数。本发明分析速度快、称量速度快和无稀释误差。

    一种熔剂坩埚盖的制备方法

    公开(公告)号:CN106732849B

    公开(公告)日:2019-07-09

    申请号:CN201611183831.2

    申请日:2016-12-20

    发明人: 徐建平 周双清

    IPC分类号: B01L3/04 C01D15/00

    摘要: 本发明具体涉及一种熔剂坩埚盖的制备方法。其技术方案是:将硼酸和碳酸锂按摩尔比为4∶1混合均匀,得到混合物,再加入所述混合物30~50wt%的纯水,混合0.5~2小时,在10~40℃的条件下密封静置1~120小时,制得四硼酸锂浆料。将所述四硼酸锂浆料转入圆筒模具中,再覆盖一层聚乙烯膜,加压成型,然后在10~100℃条件下干燥,制得熔剂坩埚盖。所述圆筒模具的衬底亦为一层聚乙烯膜。所述一层聚乙烯膜的厚度为0.005~0.01mm。所述硼酸粉末的H3BO3含量≥99.9wt%,硼酸粉末的粒度小于0.5mm。所述碳酸锂粉末的Li2CO3含量≥99.9wt%,碳酸锂粉末的粒度小于0.5mm。本发明具有操作简便、防迸溅效果好、节约时间和效率高的特点。

    一种XRF熔融制备玻璃片样品的方法

    公开(公告)号:CN105203384B

    公开(公告)日:2019-03-01

    申请号:CN201510743697.6

    申请日:2015-11-05

    发明人: 徐建平 周双清

    IPC分类号: G01N1/44

    摘要: 本发明涉及一种XRF熔融制备玻璃片样品的方法。其技术方案是:将四硼酸锂粉末制成与铂金坩埚(1)底部形状相同的垫片式容器(2),称量,记作m4克,放入铂金坩埚(1)中。按预先确定待制备的玻璃样品的质量、助溶剂的质量、氧化剂的质量和试料的质量,称量,依次记作M、m1、m2和m3,再称量熔剂的质量m5=M‑m1‑m2‑m3‑m4;然后将所称取的助溶剂、氧化剂、试料和熔剂混匀,置入垫片式容器(2)中。将放有垫片式容器(2)的铂金坩埚(1)移入熔融炉中,升温至750~900℃,保温5~15分钟,再升温至1050~1150℃,保温5~20分钟。取出摇动混匀熔体,铸模、脱模后,得到玻璃片样品。本发明具有操作方便、高温作业时间短、制片效率高、能耗低和成本低的特点。

    一种刚玉粉末的粉末压片XRFS分析方法

    公开(公告)号:CN113484350B

    公开(公告)日:2023-12-15

    申请号:CN202110672004.4

    申请日:2021-06-17

    IPC分类号: G01N23/223 G01N23/2202

    摘要: 本发明涉及一种刚玉粉末的粉末压片XRFS分析方法。其技术方案是:在刚玉粉末中加入实验室三级用水,搅拌,沉降;按沉降层面分三次取出,分别过滤和干燥,得到不同粒级的上、中和下层粉末,用压片法分别制得XRFS分析用样片,再依次用XRFS仪测量,得到各层粉分析样片中待测组分的显示含量;然后将与三层粉同粒级的校正样品分别用压片法制得XRFS三层粉校正样片,测量三层粉校正样片中待测组分的显示含量,用湿法化学分析测得的相应的校正值计算校正系数;然后计算得到三层粉分析样片中待测组分的实际含量,进一步得到所述刚玉粉末已测组分的实际含量。本发明具有操作简单、成本低、废弃物少和样品污染小的特点。

    一种聚乙烯膜隔离的XRFS分析用样片的压片方法

    公开(公告)号:CN110470686B

    公开(公告)日:2021-09-14

    申请号:CN201910735179.8

    申请日:2019-08-09

    IPC分类号: G01N23/2202 G01N23/223

    摘要: 本发明涉及一种聚乙烯膜隔离的XRFS分析用样片的压片方法。其技术方案是:将2.5~3.5g工业硼酸置于XRFS分析用压片机装料腔的底部,铺平,即得衬底层;按试样粉末∶结合剂的质量比为100∶(0.3~3),将所述试样粉末和所述结合剂混合均匀,得到混合粉;将衬托膜平铺在所述衬底层上,然后将0.5~3g所述混合粉或0.5~3g所述试样粉末均匀地铺洒在衬托膜上,用样勺抹平;所述衬托膜的直径d1=d0‑(3~5)mm,厚度为0.1~0.3mm;其中:d0表示压片机装料腔的直径,mm;将聚乙烯膜覆盖于XRFS分析用压片机压头的工作面上,加压,保压,脱模,得到聚乙烯膜隔离的XRFS分析用样片。本发明具有效率高、成片率高和测量误差小的特点。

    一种硼酸衬底的XRFS分析用样片的压片方法

    公开(公告)号:CN110470685B

    公开(公告)日:2021-09-14

    申请号:CN201910728811.6

    申请日:2019-08-08

    IPC分类号: G01N23/2202 G01N23/223

    摘要: 本发明涉及一种硼酸衬底的XRFS分析用样片的压片方法。其技术方案是:将2.5~3.5g的硼酸置入压片机装料腔的底部,铺平,即得衬底层;再将厚度为0.5~1mm的薄膜材料制成直径d=d0‑(3~5mm)的圆片,即得衬托膜;其中:d0表示压片机装料腔的直径,mm;然后将所述衬托膜平铺在所述衬底层上,将0.5~3g的试样粉末均匀地铺撒在所述衬托膜上;最后用样勺将试样粉末抹平,安装压片机压头,加压,保压,脱模,得到硼酸衬底的XRFS分析用样片。本发明具有效率高、不易产生剥离层、试样粉末用量小和成片率高的特点。

    一种XRFS分析用样片的试样粉末布置方法

    公开(公告)号:CN111289550A

    公开(公告)日:2020-06-16

    申请号:CN202010220514.3

    申请日:2020-03-25

    IPC分类号: G01N23/2202 G01N23/223

    摘要: 本发明涉及一种XRFS分析用样片的试样粉末布置方法。其技术方案是:将圆形纸巾用胶水粘贴在布置管的下端面,封住端口,得到纸底布置管。所述布置管是由内径相同的短管和圆环组成的同轴线整体,布置管高度H1=15~20mm,圆环高度H2=1mm,布置管下端的圆环端口均匀地开有24个相同的“凹”形口。将1.0~2.0g的硼酸置于XRFS分析用粉末压片机料仓中的下压头上,将纸底布置管装入XRFS分析用粉末压片机的装料仓中,再将0.5~1.5g的待压试样粉末从纸底布置管的上端加入,用样勺将待压试样粉末覆盖纸底布置管的纸底,用压杆从纸底布置管上端将试样粉末压住,取出布置管和压杆即可。本发明具有布样速度快、能耗低和样片分析层厚度均匀的特点。

    一种聚乙烯膜隔离的XRFS分析用样片的压片方法

    公开(公告)号:CN110470686A

    公开(公告)日:2019-11-19

    申请号:CN201910735179.8

    申请日:2019-08-09

    IPC分类号: G01N23/2202 G01N23/223

    摘要: 本发明涉及一种聚乙烯膜隔离的XRFS分析用样片的压片方法。其技术方案是:将2.5~3.5g工业硼酸置于XRFS分析用压片机装料腔的底部,铺平,即得衬底层;按试样粉末∶结合剂的质量比为100∶(0.3~3),将所述试样粉末和所述结合剂混合均匀,得到混合粉;将衬托膜平铺在所述衬底层上,然后将0.5~3g所述混合粉或0.5~3g所述试样粉末均匀地铺洒在衬托膜上,用样勺抹平;所述衬托膜的直径d1=d0-(3~5)mm,厚度为0.1~0.3mm;其中:d0表示压片机装料腔的直径,mm;将聚乙烯膜覆盖于XRFS分析用压片机压头的工作面上,加压,保压,脱模,得到聚乙烯膜隔离的XRFS分析用样片。本发明具有效率高、成片率高和测量误差小的特点。