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公开(公告)号：CN104115271B
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201380008616.7
申请日：2013-02-06
Applicant: 株式会社电装
IPC: H01L27/146
CPC classification number: H01L27/14806 , H01L27/14614 , H01L27/14623 , H01L27/14689 , H04N5/37213
Abstract: 一种固态成像装置包括：多个像素。将每一像素布置在半导体基板的表层部分处，并且每一像素包括：将入射光转换成电荷的光电转换部；存储电荷并且布置在半导体基板中的电荷保持部；与电荷保持部电容耦合并且经由绝缘膜布置在半导体基板上的倍增栅电极；以及电荷阻挡部，所述电荷阻挡部布置在电荷保持部和绝缘膜之间并且杂质浓度高于半导体基板。
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公开(公告)号：CN113242982A
公开(公告)日：2021-08-10
申请号：CN201980082046.3
申请日：2019-12-06
Applicant: 株式会社电装
Abstract: 本发明涉及光学测距装置、激光发光装置及其制造方法。在本发明的光学测距装置(20)中，发光部(40)使用具有第一方向的长度比与上述第一方向交叉的第二方向长的发光区域(La、Lb)的半导体激光元件(41)，并且根据从上述发光部(40)的发光到受光部(60)的受光为止的时间来测定到对象物的距离。此处，在上述发光部(40)中，通过将多个发光区域(La、Lb)配置于在上述第二方向上分离、且在上述第一方向上相接的位置或者一部分重叠的位置，从而能够形成在上述第一方向上连续的发光区域。
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公开(公告)号：CN111936885A
公开(公告)日：2020-11-13
申请号：CN201980024395.X
申请日：2019-03-27
Applicant: 株式会社电装
IPC: G01S17/14 , G01S7/4865 , G01S7/4863 , G01S7/4861
Abstract: 本发明提供一种光测距装置(10)，具备：光源(20)，其向对象物照射第一脉冲宽度的光；受光单元(31)，其输出宽度为第一脉冲宽度以上的第二脉冲宽度的脉冲信号，该脉冲信号表示射入了从对象物反射的光这一情形；直方图生成部(50)，其按预先决定的每一时间间隔，记录与从受光单元输出的脉冲信号的数量对应的频数而生成直方图；峰值检测部(60)，其根据直方图来检测峰值形状的结束点；以及距离计算部(70)，其使用从与峰值形状的结束点对应的时刻减去相当于第二脉冲宽度的时间后的时刻来计算到对象物为止的距离。
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公开(公告)号：CN112136028B
公开(公告)日：2023-04-14
申请号：CN201980033692.0
申请日：2019-05-16
Applicant: 株式会社电装
IPC: G01J1/42 , H01L31/107
Abstract: 本发明涉及光检测器以及其控制方法。光检测器(100)具备：受光构件(14)，通过施加比击穿电压高的动作电压而以盖革模式进行动作，并根据光的入射来输出脉冲信号；电压设定部(20)，能够向受光构件选择性地施加动作电压以及比击穿电压低的检查电压中的任意一方；以及异常判定部(40)，进行异常判定处理，若从以检查电压进行动作的受光构件输出的脉冲信号的个数为预先决定的阈值以上则判断为异常，若小于阈值则判断为正常。
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公开(公告)号：CN112136028A
公开(公告)日：2020-12-25
申请号：CN201980033692.0
申请日：2019-05-16
Applicant: 株式会社电装
IPC: G01J1/42 , H01L31/107
Abstract: 本发明涉及光检测器以及其控制方法。光检测器(100)具备：受光构件(14)，通过施加比击穿电压高的动作电压而以盖革模式进行动作，并根据光的入射来输出脉冲信号；电压设定部(20)，能够向受光构件选择性地施加动作电压以及比击穿电压低的检查电压中的任意一方；以及异常判定部(40)，进行异常判定处理，若从以检查电压进行动作的受光构件输出的脉冲信号的个数为预先决定的阈值以上则判断为异常，若小于阈值则判断为正常。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111936885B
公开(公告)日：2024-07-09
申请号：CN201980024395.X
申请日：2019-03-27
Applicant: 株式会社电装
IPC: G01S17/14 , G01S7/4865 , G01S7/4863 , G01S7/4861
Abstract: 本发明提供一种光测距装置(10)，具备：光源(20)，其向对象物照射第一脉冲宽度的光；受光单元(31)，其输出宽度为第一脉冲宽度以上的第二脉冲宽度的脉冲信号，该脉冲信号表示射入了从对象物反射的光这一情形；直方图生成部(50)，其按预先决定的每一时间间隔，记录与从受光单元输出的脉冲信号的数量对应的频数而生成直方图；峰值检测部(60)，其根据直方图来检测峰值形状的结束点；以及距离计算部(70)，其使用从与峰值形状的结束点对应的时刻减去相当于第二脉冲宽度的时间后的时刻来计算到对象物为止的距离。
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公开(公告)号：CN113302516B
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN201980089019.9
申请日：2019-12-18
Applicant: 株式会社电装
Inventor： 立野善英
IPC: G01S7/497 , G01S7/4863
Abstract: 光学测距装置(10)具备：光源部(20)，射出对测定区域(MR)进行照射的照射光(IL)；受光部(30)，具有排列有多个SPAD(31)的受光面(32)，由上述SPAD(31)检测上述照射光(IL)被反射后的反射光(RL)的光子；壳体(60)，收纳上述光源部(20)和上述受光部(30)；以及判定部(51)，使用上述SPAD(31)根据上述照射光(IL)在上述壳体(60)内被反射后的杂波反射光(RLc)而输出的信号，判定上述受光部(30)中的异常的产生的有无。
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公开(公告)号：CN114793447A
公开(公告)日：2022-07-26
申请号：CN202080086335.3
申请日：2020-12-03
Applicant: 株式会社电装
IPC: G01S7/497 , G01S17/894 , G01S17/931
Abstract: 本发明涉及物体检测装置以及物体检测装置的控制方法。物体检测装置(10)具备：发光部(30)；受光部(20)；期间决定部(100)，根据环境光的强度来决定获取环境光的环境光获取期间；受光控制部(21)，控制受光部(20)中的入射光的受光动作；以及发光控制部(31)，控制发光部(30)的发光动作。受光控制部(21)在决定出的环境光获取期间使受光部(20)执行获取环境光的受光动作。
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公开(公告)号：CN113518929A
公开(公告)日：2021-10-19
申请号：CN202080018600.4
申请日：2020-01-23
Applicant: 株式会社电装
Inventor： 立野善英
IPC: G01S7/481 , G01S7/497 , G01S17/89 , G01S17/931
Abstract: 本发明涉及光学测距装置。光学测距装置(10)具备：光检测器(30)，输出与接受的光量对应的输出信号；扫描型扫描仪(50)，切换为使外部的光入射到上述光检测器的状态、和不使外部的光入射到上述光检测器的暗状态；以及异常判定器(72)，使用判定阈值和从上述暗状态下的上述光检测器输出的输出信号来判断上述光检测器的劣化状态。
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公开(公告)号：CN113302516A
公开(公告)日：2021-08-24
申请号：CN201980089019.9
申请日：2019-12-18
Applicant: 株式会社电装
Inventor： 立野善英
IPC: G01S7/497 , G01S7/4863
Abstract: 光学测距装置10具备：光源部20，射出对测定区域MR进行照射的照射光IL；受光部30，具有排列有多个SPAD31的受光面32，由上述SPAD31检测上述照射光IL被反射后的反射光RL的光子；壳体60，收纳上述光源部20和上述受光部30；以及判定部51，使用上述SPAD31根据上述照射光IL在上述壳体60内被反射后的杂波反射光RLc而输出的信号，判定上述受光部30中的异常的产生的有无。
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