半导体装置
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107534032B

    公开(公告)日:2020-01-24

    申请号:CN201680019716.3

    申请日:2016-04-15

    Abstract: 半导体装置具备金属部件(15)、第1半导体芯片(13)、第2半导体芯片(14)、第1焊料(24)、以及第2焊料(25)。第1半导体芯片的发热量比第2半导体芯片的发热量大。第2半导体芯片使用杨氏模量比第1半导体芯片大的材料形成。第1半导体芯片在与金属部件的对置面具有经由第1焊料(24)与金属部件连接的第1金属层(13a)。第2半导体芯片在与金属部件的对置面具有经由第2焊料(25)而与金属部件连接的第2金属层(14a)。第2焊料中的与第2金属层的至少外周端的一部分对应的厚度比第1焊料的最大厚度厚。

    半导体装置
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107534032A

    公开(公告)日:2018-01-02

    申请号:CN201680019716.3

    申请日:2016-04-15

    Abstract: 半导体装置具备金属部件(15)、第1半导体晶片(13)、第2半导体晶片(14)、第1焊料(24)、以及第2焊料(25)。第1半导体晶片的发热量比第2半导体晶片的发热量大。第2半导体晶片使用杨氏模量比第1半导体晶片大的材料形成。第1半导体晶片在与金属部件的对置面具有经由第1焊料(24)与金属部件连接的第1金属层(13a)。第2半导体晶片在与金属部件的对置面具有经由第2焊料(25)而与金属部件连接的第2金属层(14a)。第2焊料中的与第2金属层的至少外周端的一部分对应的厚度比第1焊料的最大厚度厚。

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